本发明专利技术适用于电子测试领域，尤其涉及一种电器性能指标测试方法及装置。在本发明专利技术中，分别对被测设备的主板电压和通过测试线的线端电压进行测试，并且以将主板电压调整到预定主板电压为准，对被测设备进行调整，测试通过测试线的充电电流，这样的测试结果不会受到长短不同的测试线导致的压降不同的影响，从而提高了测试的精度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电子测试领域，尤其涉及一种电器性能指标测试方法及装置。
技术介绍
随着社会的发展，各种电器设备广泛地应用在人们的日常生活当中，对电器性能指标的测试十分有必要，因为这关乎到电器的正常使用。通常，我们对电器性能指标的测试包括电压、电流等等性能测试。对电器设备进行测试时，必须要用到测试线来连接电器设备和测试设备，而采用现有的测试使用不同长度的测试线，由于测试线的压降不同，会导致测试出来的参数不同。比如，对同一被测设备进行测试，如果被测设备的电压一样，由于采用短测试线的压降小于长测试线的压降，所以导致短测试线测出来的电流大于长测试线测出来的电流。因此，采用现在的测试方法由于测试线的长短不同，会导致测试结果不同。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电器性能指标测试方法，旨在解决采用现在的测试方法由于测试线的长短不同，会导致测试结果不同的问题。本专利技术是这样实现的，一种电器性能指标测试方法，所述方法包括如下步骤:测试被测设备的主板电压；测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压；以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流。本专利技术的另一目的在于提供一种电器性能指标测试装置，所述装置包括:第一电压测试单元，用于测试被测设备的主板电压；第二电压测试单元，用于测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压；电流测试单元，用于以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流。在本专利技术中，分别对被测设备的主板电压和通过测试线的线端电压进行测试，并且以将主板电压调整到预定主板电压为准，对被测设备进行调整，测试通过测试线的充电电流，这样的测试结果不会受到长短不同的测试线导致的压降不同的影响，从而提高了测试的精度。【附图说明】图1是本专利技术实施例提供的电器性能指标测试方法的流程图；图2是本专利技术实施例提供的电器性能指标测试装置的结构图。【具体实施方式】为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。图1示出了本专利技术实施例提供的电器性能指标测试方法的流程，为了便于说明，仅不出了与本专利技术实施例相关的部分。一种电器性能指标测试方法，所述方法包括如下步骤:步骤S101，测试被测设备的主板电压；步骤S102，测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压；步骤S103，以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流。作为本专利技术一实施例，步骤S103，以将主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流的步骤具体包括:以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流，具体依据如下公式:I = (U1_U2)*S/p L其中，Ul为线端电压、U2为主板电压、S为测试线横截面积、P为测试线电阻率、L为测试线长度。作为本专利技术一实施例，所述测试线采用USB线或夹子线。图2示出了本专利技术实施例提供的电器性能指标测试装置的结构，为了便于说明，仅不出了与本专利技术实施例相关的部分。一种电器性能指标测试装置，所述装置包括:第一电压测试单元1，用于测试被测设备的主板电压；第二电压测试单元2，用于测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压；电流测试单元3，用于以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流。作为本专利技术一实施例，所述电流测试单元3具体包括:电流测试模块31，用于以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流，具体依据如下公式:I = (U1_U2)*S/p L其中，Ul为线端电压、U2为主板电压、S为测试线横截面积、P为测试线电阻率、L为测试线长度。作为本专利技术一实施例，所述测试线采用USB线或夹子线。作为本专利技术一实施例，电器性能指标测试装置可以为集成在测试仪器中的软件、硬件或软硬件的结合。原理解释:在传统的测试方法中，测试者误以为被测设备的主板通过测试线的线端电压(即测试设备显示的电压)为被测设备的主板电压，而忽略采用不同长度的测试线，由于测试线的压降不同，会导致测试出来的参数不同。比如，对同一被测设备进行测试，如果被测设备的电压一样，由于采用短测试线的压降小于长测试线的压降，所以导致短测试线测出来的电流大于长测试线测出来的电流。而在本测试方法中，Ul =U2+I*pL/S，其中，Ul为线端电压、U2为主板电压、S为测试线横截面积、P为测试线电阻率、L为测试线长度，I*p L/S为测试线的压降电压，采用同材料、同宽度、长度不同的测试线，长测试线的压降电压大于短测试线，采用长测试线和短测试线分别测试时，两次都以将主板电压U2调整到预定主板电压为准，对被测设备进行调整，采用长测试线的线端电压Ul大于采用短测试线的线端电压U1，这样两次测试出来的通过测试线的充电电流基本相等。例如，以设定主板电压U2 = 5V为准，对被测设备进行调整，采用长测试线的线端电压Ul调节至5.62V，采用短测试线的线端电压Ul调节至5.45V，最后两次测试出来的通过测试线的充电电流均为1.694A。因此，在本测试方法中，采用长短不同的测试线，都不会导致通过测试线的充电电流不同。在本专利技术实施例中，分别对被测设备的主板电压和通过测试线的线端电压进行测试，并且以将主板电压调整到预定主板电压为准，对被测设备进行调整，测试通过测试线的充电电流，这样的测试结果不会受到长短不同的测试线导致的压降不同的影响，从而提高了测试的精度。本领域普通技术人员可以理解:实现上述方法实施例的步骤或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤，而前述的存储介质包括:ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。【主权项】1.一种电器性能指标测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤: 测试被测设备的主板电压； 测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压； 以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流。2.如权利要求1所述的电器性能指标测试方法，其特征在于，所述以将主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流的步骤具体包括: 以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流，具体依据如下公式:I = (Ul-U2)*S/p L 其中，Ul为线端电压、U2为主板电压、S为测试线横截面积、P为测试线电阻率、L为测试线长度。3.如权利要求1或2所述的电器性能指标测试方法，其特征在于，所述测试线采用USB线或夹子线。4.一种电器性能指标测试装置，其特征在于，所述装置包括: 第一电压测试单元，用本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电器性能指标测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：测试被测设备的主板电压；测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压；以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘华中，
申请(专利权)人：广东小天才科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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