投影仪、投影系统以及投影仪的控制方法技术方案

技术编号:11637794 阅读:373 留言:0更新日期:2015-06-24 12:32
投影仪、投影系统以及投影仪的控制方法。投影系统具有投影仪和向与屏幕对应的方向射出检测光的光射出装置。在投影仪中,由位置检测部根据光射出装置的检测光来检测对屏幕的操作,由射出控制部与投影仪的状态对应地对光射出装置的射出状态和非射出状态进行切换。

【技术实现步骤摘要】
投影仪、投影系统以及投影仪的控制方法
本专利技术涉及投影仪、投影系统以及投影仪的控制方法。
技术介绍
以往,已知有将图像投射于屏幕的投影仪(例如,参照专利文献1)。此外,以往已知有如下的遮光式坐标输入装置:向对指示输入进行检测的坐标输入区域进行投光,通过检测反射光来检测指示位置(例如,参照专利文献2)。专利文献1:日本特开2004-21218号公报专利文献2:日本特开2008-52366号公报考虑将如专利文献2记载的那样对指示位置进行检测的方法应用于投影仪。但是,如专利文献1记载的那样,投影仪有时具有睡眠模式或待机状态等的各种动作状态。此外,由于投影仪的设置方法,有时不能应用如专利文献2记载的那样利用光的反射对指示位置进行检测的方法。即,根据投影仪的动作状态或设置方法,有时不能进行利用反射光的指示位置检测,在这样的情况下,投光变得浪费。
技术实现思路
本专利技术正是鉴于上述情况而完成的,其目的在于,在将通过进行投光来检测指示位置的功能应用于投影仪的情况下,防止不需要的投光。为了达到上述目的,本专利技术提供一种投影仪,其将图像投射于投射面,其特征在于,该投影仪具有:检测部,其检测对所述投射面的操作;以及射出控制部,其与所述投影仪的状态对应地,对光射出部的射出状态和非射出状态进行切换,其中,所述光射出部射出所述检测部在检测中使用的检测光。根据本专利技术,利用检测光检测操作的投影仪根据投影仪的状态对检测光的射出和非射出进行切换。因此,能够在不需要检测光的情况下或不适合射出检测光的情况下等停止射出检测光,能够实现功耗的抑制和光射出部的光源的长寿命化。此外,本专利技术的特征在于,在上述投影仪中,所述射出控制部与所述投影仪的主体的设置状态对应地,对所述光射出部的射出状态和非射出状态进行切换。根据本专利技术,能够按照投影仪的主体的设置状态,自动地对检测光的射出和非射出进行切换。因此,能够在不需要检测光的情况下或不适合射出检测光的情况下等停止射出检测光,而无需烦杂的操作。此外,本专利技术的特征在于,在上述投影仪中,在发生了预先对所述投影仪设定的种类的动作异常的情况下,所述射出控制部将所述光射出部设为非射出状态。根据本专利技术,在发生了投影仪的动作异常的情况下不射出检测光,因此,能够防止射出不需要的检测光。此外,在使投影仪从动作异常恢复的作业中,能够省去停止射出检测光的麻烦,提高作业效率。此外,本专利技术的特征在于,在上述投影仪中,所述投影仪具有设定控制部,在对所述投射面投射了设定画面的状态下,该设定控制部受理设定操作,在所述光射出部被所述射出控制部设为非射出状态的情况下,所述设定控制部不受理与所述光射出部相关的功能的设定操作。根据本专利技术,在不射出检测光的状态下,不受理利用检测光的功能的设定,因此,能够防止对不能实现的功能进行设定。此外,本专利技术的特征在于,在上述投影仪中,在不能检测到所述光射出部的连接的情况下,所述设定控制部不受理与所述光射出部相关的功能的设定操作。根据本专利技术,在不能射出检测光的状态下,不受理利用检测光的功能的设定,因此,能够防止对不能实现的功能进行设定。此外,本专利技术的特征在于,在上述投影仪中,所述检测部检测对所述投射面进行操作的指示体反射所述检测光而得到的反射光。根据本专利技术,能够通过检测指示体反射后的反射光,高效地检测指示体的操作。此外,能够通过在投影仪不检测操作的情况下等不需要射出检测光的情况下设为非射出状态,防止不需要的射出。此外,本专利技术的特征在于,在上述投影仪中,所述检测部具有检测所述指示体反射后的反射光的功能以及检测对所述投射面进行操作的发光指示体发出的光的功能,根据所述发光指示体发光的定时与所述光射出部射出所述检测光的定时之间的差异,区分所述发光指示体的操作与所述指示体的操作而进行检测。根据本专利技术,能够利用具有发光功能的发光指示体和反射检测光的指示体进行操作,能够根据发光指示体发光的定时与指示体反射检测光的定时的差异而区分发光指示体和指示体。因此,能够混合使用多个指示体,能够区分各指示体的操作而进行检测。此外,本专利技术的特征在于,在上述投影仪中,所述射出控制部控制所述光射出部的射出,使得所述发光指示体发光的定时与所述光射出部射出所述检测光的定时不一致。根据本专利技术,能够对检测部接收反射光的定时进行调整,进行发光定时和指示体反射检测光的定时的调整。由此,能够容易地区分发光指示体和指示体的操作而进行检测。此外,本专利技术的特征在于,在上述投影仪中,所述投影仪具有对所述发光指示体指示发光定时的单元。根据本专利技术,能够指示发光指示体发光的定时,进行发光定时和指示体反射检测光的定时的调整。由此,能够容易地区分发光指示体和指示体的操作而进行检测。此外,本专利技术的特征在于,在上述投影仪中,所述投影仪连接有与所述投影仪的主体分体地构成的所述光射出部。根据本专利技术,能够对与投影仪的主体分体的光射出部的射出和非射出进行切换。此外,为了达到上述目的,本专利技术提供一种投影系统,其特征在于,该投影系统具有:投影仪,其将图像投射于投射面;以及光射出装置,其与所述投影仪连接,向与所述投射面对应的方向射出检测光,所述投影仪具有:检测部,其基于所述光射出装置的检测光,检测对所述投射面的操作;以及射出控制部,其与所述投影仪的状态对应地,对所述光射出装置的射出状态和非射出状态进行切换。根据本专利技术,利用检测光检测操作的投影仪根据投影仪的状态对检测光的射出和非射出进行切换,因此,能够在不需要检测光的情况下或不适合射出检测光的情况下等停止射出检测光。由此,能够实现功耗的抑制和光射出部的光源的长寿命化。此外,为了达到上述目的,本专利技术提供一种投影仪的控制方法,该投影仪将图像投射于投射面,其特征在于,在所述投影仪的控制方法中,基于由光射出部向与所述投射面对应的方向射出的检测光,检测对所述投射面的操作,与所述投影仪的状态对应地,对所述光射出部的射出状态和非射出状态进行切换。根据本专利技术,利用检测光检测操作的投影仪根据投影仪的状态对检测光的射出和非射出进行切换,因此,能够在不需要检测光的情况下或不适合射出检测光的情况下等停止射出检测光。由此,能够实现功耗的抑制和光射出部的光源的长寿命化。根据本专利技术,利用检测光检测操作的投影仪能够在不需要检测光的情况下或不适合射出检测光的情况下等停止射出检测光。附图说明图1是示出实施方式的投影系统的概略结构的图。图2是投影系统的功能框图。图3是示出投影仪的设置状态的例子的图。图4是示出投影仪的动作的流程图。图5是详细示出投影仪的设定处理的流程图。图6是示出设定画面的例子的图。标号说明1…投影系统,10…投影仪,20…投射部,21…光源部,22…光调制装置,23…投射光学系统,30…控制部,31…投射控制部,32…检测控制部,33…射出控制部,34…判定部,35…异常检测部,36…设定控制部,40…图像处理部,47…姿态传感器,48…射出装置驱动部,49…连接部,50…位置检测部(检测部),60…光射出装置(光射出部),70…指示体(发光指示体),80…指示体,110…存储部,SC…屏幕(投射面)。具体实施方式以下,参照附图,对本专利技术的实施方式进行说明。图1是示出应用了本专利技术的实施方式的投影系统1的结构的图。投影系统1具有设置在屏幕SC(投射面)上方的投影仪本文档来自技高网...
投影仪、投影系统以及投影仪的控制方法

【技术保护点】
一种投影仪,其将图像投射于投射面,其特征在于,该投影仪具有:检测部,其检测对所述投射面的操作;以及射出控制部,其与所述投影仪的状态对应地,对光射出部的射出状态和非射出状态进行切换,其中,所述光射出部射出所述检测部在检测中使用的检测光。

【技术特征摘要】
2013.12.20 JP 2013-2636491.一种投影仪,其将图像投射于投射面,其特征在于,该投影仪具有:检测部,其检测对所述投射面的操作;以及射出控制部,其与所述投影仪的状态对应地,对光射出部的射出状态和非射出状态进行切换,其中,所述光射出部射出所述检测部在检测中使用的检测光,所述检测部具有检测对所述投射面进行操作的指示体反射所述检测光而得到的反射光的功能以及检测对所述投射面进行操作的发光指示体发出的光的功能,所述检测部根据所述发光指示体发光的定时与所述光射出部射出所述检测光的定时之间的差异,区分所述发光指示体的操作与所述指示体的操作而进行检测。2.根据权利要求1所述的投影仪,其特征在于,所述射出控制部与所述投影仪的主体的设置状态对应地,对所述光射出部的射出状态和非射出状态进行切换。3.根据权利要求1或2所述的投影仪,其特征在于,在发生了预先对所述投影仪设定的种类的动作异常的情况下,所述射出控制部将所述光射出部设为非射出状态。4.根据权利要求1所述的投影仪,其特征在于,所述投影仪具有设定控制部,在对所述投射面投射了设定画面的状态下,该设定控制部受理设定操作,在所述光射出部被所述射出控制部设为非射出状态的情况下,所述设定控制部不受理与所述光射出部相关的功能的设定操作。5.根据权利要求4所述的投影仪,其特征在于,在不能检测到所述光射出部的连接的情况下,所述设定控制部不受理与所述光射出部相关的功能的设定操作。6.根据权利要求1所述的投影仪,其特征在于,所述射出控制部控制所述光射出部的射出...

【专利技术属性】
技术研发人员:今井俊
申请(专利权)人:精工爱普生株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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