【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请案相关申请的交叉引用本申请要求下列申请的优先权:Stefan Rueckl于2012年10月5日提交的标题为“自动对准的系统和方法(SYSTEM AND METHOD FOR AUTO-ALIGNMENT)”的美国临时专利申请号61/710,612;Stefan Rueckl等人于2012年12月21日提交的标题为“自动对准的系统和方法(SYSTEM AND METHOD FOR AUTO-ALIGNMENT)”的美国临时专利申请号61/745,252;以及Stefan Rueckl等人于2013年3月5日提交的标题为“自动对准的系统和方法(SYSTEM AND METHOD FOR AUTO-ALIGNMENT)”的美国临时专利申请号61/772,971,这些申请各自为了达到所有目的以引用的方式整体并入本文。本申请涉及Stephan Otts于2013年10月4日提交的标题为“基于激光的自动对准的系统和方法(SYSTEM AND METHOD FOR LASER-BASED AUTO ALIGNMENT)”的美国专利申请号_________(尚未分配申请号),所述申请为了达到所有目的以引用的方式整体并入本文。
技术介绍
当实验室自动化系统(LAS)被安装在客户现场时,服务技术员对准系统的元件,例如,框架、机械臂的XY台架、以及工作表面上的抽屉,以使机械臂能够精确地夹持样品管并将样品管从一个位置转移到另一 ...
【技术保护点】
一种自动对准的方法,包括:通过在第一轴上的在工作表面上方的第一高度的机械臂的夹持器单元夹持X‑Y校准工具;通过在第二轴上的相机获取在所述第一高度的所述X‑Y校准工具的图像,其中所述相机连接到所述夹持器单元;以及分析在所述第一高度的所述第一校准工具的图像,以确定所述第二轴与所述第一轴之间的偏移量。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.10.05 US 61/710,612;2012.12.21 US 61/745,252;1.一种自动对准的方法,包括:
通过在第一轴上的在工作表面上方的第一高度的机械臂的夹持器
单元夹持X-Y校准工具;
通过在第二轴上的相机获取在所述第一高度的所述X-Y校准工具
的图像,其中所述相机连接到所述夹持器单元;以及
分析在所述第一高度的所述第一校准工具的图像,以确定所述第
二轴与所述第一轴之间的偏移量。
2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:
使所述X-Y校准工具旋转通过所述相机的视场,其中所述X-Y校
准工具包括大体上平坦的部分,所述部分包括多个地标;以及
其中分析所述X-Y校准工具的图像包括:
识别多个椭圆路径,每个椭圆路径对应于所述图像中的所述地标
中的一个,
确定对应于所述第一轴的所述多个椭圆路径的中心点,
基于所述多个椭圆路径的中心点,确定所述第一轴与第二轴之间
的偏移量。
3.根据权利要求2所述的方法,进一步包括:
定位所述机械臂使得所述相机在地标上方居中,并且记录以像素
为单位的所述地标的第一位置;
在X方向和Y方向上移动所述机械臂预定步长数,并且记录以像
素为单位的所述地标的第二位置;
基于所述第一位置与所述第二位置之间的差值以及所述预定步长
数,确定步长与像素的转换率。
4.根据权利要求2所述的方法,进一步包括:
夹持在第二高度的所述X-Y校准工具;
通过所述相机获取在所述第二高度的所述X-Y校准工具的图像;
分析在所述第二高度的所述X-Y校准工具的图像,以确定所述第
二轴与所述第一轴之间的第二偏移量;
夹持在第三高度的所述X-Y校准工具;
通过所述相机获取在所述第三高度的所述X-Y校准工具的图像;
分析在所述第三高度的所述X-Y校准工具的图像,以确定所述
第二轴与所述第一轴之间的第三偏移量;以及
使用所述三个偏移量和三个高度来确定线性偏移函数。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述X-Y校准工具上的至少
一个地标为周期性重复的图案,并且其中分析所述X-Y校准工具的图
像以确定所述第二轴与所述第一轴之间的偏移量进一步包括:
分析所述图像以使用所述周期性重复的图案来确定至少一个失真
校正参数,其中所述至少一个失真校正参数可以用于校正所述图像中
的镜头相关的失真;以及
将所述至少一个失真校正参数应用于所述图像以产生失真校正图
像。
6.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:
识别工作表面上的一个或多个元件上的一个或多个地标,以对准
所述机械臂与所述工作表面。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述相机连接到所述夹持器
单元,使得在所述夹持器单元沿着正交于所述工作表面的Z轴移动时将
所述相机保持在固定的高度。
8.一种自动对准的方法,包括:
将机械臂的夹持器单元定位在Z校准工具上方的预定高度,其中
所述Z校准工具包括多个水平面上的多个地标;
在所述Z校准工具上的第一地标上方沿着Z轴校准所述夹持器单
元,其中校准包括:
沿着所述Z轴将所述夹持器单元向所述Z校准工具上的所述第一
地标移动直到所述夹持器单元与所述Z校准工具接触;以及
确定所述夹持器单元从所述预定高度到与所述Z校准工具接触所
行进的第一步长数。
9.根据权利要求8所述的方法,其中在第一地标上方沿着Z轴校
准所述夹持器单元进一步包括:
使用三角测量,在所述Z校准工具上的所述第一地标上方确定所
述夹持器单元的以像素为单位的第一高度。
10.根据权利要求8所述的方法,进一步包括:
在所述Z校准工具上的至少两个额外的地标上方沿着所述Z轴校
准所述夹持器单元;以及
基于所述地标中的每个的校准结果,确定将以像素为单位的高度
转换成以步长为单位的高度的距离函数。
11.根据权利要求8所述的方法,其中所述Z校准工具上的至少一
个地标为周期性重复的图案,并且其中使用Z校准工具在Z轴上校准
所述夹持器进一步包括:
分析所述Z校准工具的图像以使用所述周期性重复的图案来确定
至少一个失真校正参数,其中所述至少一个失真校正参数可以用于校
正所述图像中的镜头相关的失真;以及
将所述至少一个失真校正参数应用于所述图像以产生失真校正图
像。
12.一种自动对准的方法,包括:
通过在第一轴上的夹持器单元夹持校准工具;
通过在第二轴上的相机获取所述校准工具的图像,其中所述相机
\t连接到所述夹持器;
分析所述图像以确定至少一个失真校正参数,其中所述至少一个
失真校正参数可...
【专利技术属性】
技术研发人员:斯特芬·勒克尔,塞巴斯蒂安·斯特莱布,麦纽尔·西克特,
申请(专利权)人:贝克曼考尔特公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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