提供一种能高效地执行布线试验的布线试验装置及布线试验方法。布线试验装置（100）具有并列测定装置（50）和统括控制装置（60）。并列测定装置（50）具有多个依次测定部（24）。依次测定部（24）介由端子连接部（28）对背板（12）的各端子依次施加试验电压。此外，多个依次测定部（24）并列地依次测定各端子的电位。统括控制装置（60）具有控制部（62）、本体存储部（64）、及电压供给部（66）。控制部（62）控制依次测定部（24）。本体存储部（64）针对试验对象装置的多个端子的各种组合，保存良品基准电压值。电压供给部（66）对并列测定单元（20）供给试验用电压。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电气电路试验技术，特别涉及布线试验装置及布线试验方法。
技术介绍
随着电子设备的高性能化，要求将更多的电子部件安装于电子设备。因此，电子部件的高密度安装不断推进，并且在一台电子设备中安装多枚基板的情况也在增多。作为安装多枚印刷基板的方法之一，有在被称作背板(Backboard)等的一枚印刷基板上设置多个连接器，向该连接器连接各其它印刷基板，并介由背板的布线相互连接多个印刷基板的构成。通过对在多层上都印刷有配线的电路基板压入连接器等，来制造背板。在制造背板时，为检查连接器与背板基板的连接状态、基板配线有无短路或断线等制造品质，进行布线试验。在布线试验中，针对背板的全部连接管脚、即全部端子的组合，在对一个端子施加电压的状态下测定端子间电压，通过与预先测定的良品的测定值或基于设计信息算出的值(以下也称作“良品基准值”)的比较，来判定合格与否。专利文献I中记载了基于内电路试验装置的印刷基板试验方法。此外，在专利文献2中，记载了一种对跨越与安装于半导体试验装置的测试头的被测定设备之间的布线接口部的CH (信道)的结线的良否进行检查的布线检查装置。〔在先技术文献〕〔专利文献〕〔专利文献I〕日本特开平5-126891号公报〔专利文献2〕日本特开平10-267980号公报
技术实现思路
〔专利技术所要解决的课题〕在背板的布线试验时，如前述那样要针对全部端子的组合测定端子间电压。例如，首先对第I个端子施加试验电压，依次测定第I个端子与其它所有端子间的电压，然后对第2个端子施加试验电压，依次测定第2个端子与第I个端子以外的全部端子间的电压，再然后对第3个端子施加试验电压，依次测定第3个端子与除第I个、第2个端子以外的全部端子间的电压，以下同样地依次测定全部端子的组合的端子间电压。于是，在端子数N个的背板的布线试验中，需要进行N (N-D/2对的端子间电压测定。即，若背板的端子数増加，则在布线试验中应进行电压测定的端子对的数量将按端子数的二次方成比例増加。随着近年的电子设备的高性能化，背板被多配线化，其端子数多及数万，布线试验时间和成本大幅増加。本专利技术是鉴于这样的课题而研发的，其目的在于提供一种能高效地执行布线试验的布线试验装置及布线试验方法。〔用于解决课题的手段〕为解决上述课题，本专利技术一个方案的布线试验装置是一种用于试验对象装置的布线试验装置，所述试验对象装置具有包含相互导通的端子组的多个端子，该布线试验装置包括:依次测定多个端子对的电压的多个依次测定部；基于由依次测定部测定的电压，针对各端子对判定试验合格与否的控制部。依次测定部分别被分配试验对象装置的多个端子中的一部分端子的测定，各依次测定部并行地针对所被分配的端子依次测定电压。本专利技术的另一方案是一种布线试验方法。该方法是一种用于试验对象装置的布线试验方法，所述试验对象装置具有包含相互导通的端子组的多个端子，该布线试验方法包括:将多个端子分成多个组，针对各组的多个端子依次测定电压的步骤；基于测定的电压，针对各端子对判定试验合格与否的步骤。测定电压的步骤按多个组并行地依次测定多个端子的电压。本专利技术的再一个方案是一种基准值测定装置。该装置是一种测定用于试验对象装置的布线试验的良品基准值的基准值测定装置，所述试验对象装置具有包含相互导通的端子组的多个端子，该基准值测定装置包括:多个依次测定部，依次测定将成为在布线试验中判定合格与否时的基准的、基准试验对象装置的多个端子对的电压，并基于测定的电压值，针对各端子对判定是导通、是绝缘、还是其中间值；控制部，将依次测定部判定为导通或绝缘的端子对与其判定结果建立关联地作为良品基准值保存到存储部中。依次测定部分别被分配基准试验对象装置的多个端子中的一部分端子的测定，各依次测定部并行地针对所被分配的端子依次测定电压。此外，将以上构成要素的任意组合、本专利技术的表现形式在方法、装置、系统、程序、保存有程序的介质等之间转换后的实施方式，作为本专利技术的方案也是有效的。〔专利技术效果〕通过本专利技术，能高效地执行布线试验。【附图说明】图1是表示实施方式的布线试验装置的外观构成和设有作为试验对象装置的背板的架子的图。图2是表示实施方式的布线试验装置的构成的功能块图。图3是表示布线试验装置的依次测定部的构成的功能块图。图4是用于说明测定电路的冲突的例子的图。图5是表示并列测定时的电压测定次数和以往的依次测定的电压测定次数的图表。图6是用于说明布线试验装置的运算部的电位是否稳定的判定处理的图。图7是表示布线试验装置的背板布线试验的处理步骤的流程图。图8是表示图7的端子测定处理步骤的流程图。【具体实施方式】首先说明概要。背板的布线试验时间取决于每I次的端子间电压测定时间与所需的测定次数的积。首先说明所需的测定次数，在对所有端子对一对一对地进行依次测定的以往的布线试验中，在一次测定中测定一对端子的电压。因此，在端子数N个的背板的布线试验中，所需的测定次数成为N (N-1)/2次。若在一次测定中对多个端子对并行地进行试验，则能削减测定次数，但在同时被测定的多个端子对包含连接于同一电路的端子的情况下，如后述那样无法测定出正确的端子间电压。本专利技术的布线试验装置包含多个依次测定部，各依次测定部并行地进行端子间电压测定。依次测定部基于电压测定值判定各端子间是导通、绝缘、还是其中间值。若为中间值，则该依次测定部正测定的端子对与其它依次测定部正测定的端子对包含连接于同一电路的端子(以下也称作“冲突”)，有无法正确测定的可能性。此时，依次测定部暂时待机，并通过进行再次测定来规避冲突。另一方面，每一端子对的试验时间较大地依赖于切换成测定对象端子后、至实际开始电压测定的等待时间。该等待时间是在测定前使积累于要测定的端子间浮游电容的电荷放电，并在放电后至要测定的端子的电位稳定所需的时间。以往，在布线试验开始前，需要基于经验或实验预先设定这些等待时间。对于浮游电容较大的端子对，等待时间变长等，要配合个别的端子对、不断试行错误地进行设定，故随着测定端子数的増加，设定作业本身的负担也变大。此外，为了安全，倾向于具有余裕地设定偏长的等待时间，成为拖长布线试验时间的原因之一。在本专利技术的布线试验装置中，依次测定部在测定对象端子切换后的放电时及放电后，对测定对象端子的电位进行多次测定，并采用稳定后的测定值作为用于判定布线试验合格与否的测定值。由此，无需试验开始前的等待时间设定，并且能针对各个端子设定最佳的等待时间。以下进行详细说明。图1表示实施方式的布线试验装置100的外观构成、及设有作为布线试验对象装置的背板12的架子14。图2是表示布线试验装置100的构成的功能块图。架子14是一个侧面开口的框体。作为布线试验对象装置的背板12被设于架子14的开口部深处。在使用背板12时，通过背板12而相互连接的多个印刷基板单元(未图示)被从架子14的开口部插入，与背板12的连接器(未图示)相连接。布线试验装置100具有并列测定装置50和统括控制装置60。并列测定装置50具有2个并列测定单元20。各并列测定单元20通过缆线40与统括控制装置60连接。各并列测定单元20具有6个依次测定部24、通信部22、接口 26、及端子连接部28。此外，在图2中，表示出一个并列测定单元20的详细构成，省略本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于试验对象装置的布线试验装置，所述试验对象装置具有包含相互导通的端子组的多个端子，该布线试验装置包括：依次测定多个端子对的电压的多个依次测定部，和基于由上述依次测定部测定的电压，针对各端子对判定试验合格与否的控制部；其中，上述依次测定部分别被分配上述试验对象装置的多个端子中的一部分端子的测定，各依次测定部并行地针对所被分配的端子依次测定电压。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：佐藤真一，铃木和典，
申请(专利权)人：富士通通讯网络株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。