本发明专利技术公开了一种支持多格式图像色彩的TFT-LCD液晶显示测试方法，步骤1：驱动TFT-LCD显示模组进行工作，对TFT-LCD显示模组的电路连接情况、驱动电路板的电路连接情况进行查看、检查是否存在短路和断路的问题；步骤2：当TFT-LCD显示模组可以显示出图像时，对其显示缺陷进行检测：包括检测点缺陷数据信息、线缺陷数据信息、偏光片缺陷信息以及显示功能缺陷信息；步骤3：对检测到的缺陷信息进行分类、数据整理和数据分析，分析产生各个缺陷的原因以及解决该问题的相关手段；步骤4：对上述的检测结果和分析结果进行数据整理，生成检测报告。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种支持多格式图像色彩的TFT-1XD液晶显示测试方法。
技术介绍
TFT-1XD具有高清晰度和全彩色的特点，由于其特别薄并且显示画面清晰、亮度和对比对度都很高，因此被人们广泛应用。现有技术的TFT-LCD对图像进行显示时偶尔会出现图像显示不清晰、色彩的亮度或者图像的分辨率较低的现象，因此我们需要对TFT-LCD的缺陷进行检测，现有技术的TFT-LCD液晶显示测试方法在对其进行检测时需要花费大量的时间，并且步骤繁琐，对TFT-LCD液晶显示模组的缺陷问题分析的不够全面和精确，造成缺陷诊断失误的现象。
技术实现思路
根据现有技术存在的问题，本专利技术公开了一种支持多格式图像色彩的TFT-1XD液晶显示测试方法，包括以下步骤:步骤1:驱动TFT-1XD显示模组进行工作，对TFT-1XD显示模组的电路连接情况、驱动电路板的电路连接情况进行查看、检查是否存在短路和断路的问题；步骤2:当TFT-1XD显示模组可以显示出图像时，对其显示缺陷进行检测:包括检测点缺陷数据信息、线缺陷数据信息、偏光片缺陷信息以及显示功能缺陷信息；步骤3:对检测到的缺陷信息进行分类、数据整理和数据分析，分析产生各个缺陷的原因以及解决该问题的相关手段；步骤4:对上述的检测结果和分析结果进行数据整理，生成检测报告。步骤3中对于检测出来的缺陷问题分析产生该缺陷的相关工序包括TCP切割相关工序、TCP邦定相关工序、PCBA邦定相关工序以及模组件组装相关工序。本专利技术公开的支持多格式图像色彩的TFT-LCD液晶显示测试方法，采用简单的步骤对TFT-1XD显示模组的缺陷问题进行检测、并且输出该缺陷的产生原因和避免该缺陷的方法。【附图说明】为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术的结构示意图。【具体实施方式】为使本专利技术的技术方案和优点更加清楚,下面结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚完整的描述:如图1所示的支持多格式图像色彩的TFT-1XD液晶显示测试方法，包括以下步骤:步骤1:驱动TFT-1XD显示模组进行工作，对TFT-1XD显示模组的电路连接情况、驱动电路板的电路连接情况进行查看、检查是否存在短路和断路的问题；步骤2:当TFT-1XD显示模组可以显示出图像时，对其显示缺陷进行检测:包括检测点缺陷数据信息、线缺陷数据信息、偏光片缺陷信息以及显示功能缺陷信息；步骤3:对检测到的缺陷信息进行分类、数据整理和数据分析，分析产生各个缺陷的原因以及解决该问题的相关手段；步骤4:对上述的检测结果和分析结果进行数据整理，生成检测报告。进一步的，步骤3中对于检测出来的缺陷问题分析产生该缺陷的相关工序包括TCP切割相关工序、TCP邦定相关工序、PCBA邦定相关工序以及模组件组装相关工序。以上所述，仅为本专利技术较佳的【具体实施方式】，但本专利技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内，根据本专利技术的技术方案及其专利技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。【主权项】1.一种支持多格式图像色彩的TFT-1XD液晶显示测试方法，其特征在于:包括以下步骤: 步骤1:驱动TFT-1XD显示模组进行工作，对TFT-1XD显示模组的电路连接情况、驱动电路板的电路连接情况进行查看、检查是否存在短路和断路的问题； 步骤2:当TFT-1XD显示模组可以显示出图像时，对其显示缺陷进行检测:包括检测点缺陷数据信息、线缺陷数据信息、偏光片缺陷信息以及显示功能缺陷信息； 步骤3:对检测到的缺陷信息进行分类、数据整理和数据分析，分析产生各个缺陷的原因以及解决该问题的相关手段； 步骤4:对上述的检测结果和分析结果进行数据整理，生成检测报告。2.根据权利要求1所述的支持多格式图像色彩的TFT-LCD液晶显示测试方法，其特征还在于:步骤3中对于检测出来的缺陷问题分析产生该缺陷的相关工序包括TCP切割相关工序、TCP邦定相关工序、PCBA邦定相关工序以及模组件组装相关工序。【专利摘要】本专利技术公开了一种支持多格式图像色彩的TFT-LCD液晶显示测试方法，步骤1：驱动TFT-LCD显示模组进行工作，对TFT-LCD显示模组的电路连接情况、驱动电路板的电路连接情况进行查看、检查是否存在短路和断路的问题；步骤2：当TFT-LCD显示模组可以显示出图像时，对其显示缺陷进行检测：包括检测点缺陷数据信息、线缺陷数据信息、偏光片缺陷信息以及显示功能缺陷信息；步骤3：对检测到的缺陷信息进行分类、数据整理和数据分析，分析产生各个缺陷的原因以及解决该问题的相关手段；步骤4：对上述的检测结果和分析结果进行数据整理，生成检测报告。【IPC分类】G02F1-13, G09G3-00, G09G3-36【公开号】CN104700754【申请号】CN201310660310【专利技术人】高鹏 【申请人】大连龙宁科技有限公司【公开日】2015年6月10日【申请日】2013年12月6日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种支持多格式图像色彩的TFT‑LCD液晶显示测试方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：驱动TFT‑LCD显示模组进行工作，对TFT‑LCD显示模组的电路连接情况、驱动电路板的电路连接情况进行查看、检查是否存在短路和断路的问题；步骤2：当TFT‑LCD显示模组可以显示出图像时，对其显示缺陷进行检测：包括检测点缺陷数据信息、线缺陷数据信息、偏光片缺陷信息以及显示功能缺陷信息；步骤3：对检测到的缺陷信息进行分类、数据整理和数据分析，分析产生各个缺陷的原因以及解决该问题的相关手段；步骤4：对上述的检测结果和分析结果进行数据整理，生成检测报告。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：高鹏，
申请(专利权)人：大连龙宁科技有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁;21
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