光分路器测试系统技术方案

本发明专利技术提供了一种光分路器测试系统，包括光源系统、偏振控制器、第一光纤对准器、待测光分路器、第二光纤对准器、多通道光功率计和控制系统，所述第一光纤对准器用于将所述偏振控制器的至少一个输出端与所述待测光分路器的至少一个输入端对应连接，所述第二光纤对准器用于将所述待测光分路器的多个输出端与所述多通道光功率计的多个输入端一一对应连接。本发明专利技术提供的光分路器测试系统，测试成本低、测试时间短、效率高。

【技术实现步骤摘要】
光分路器测试系统
本专利技术涉及光纤
，更具体地说，涉及一种光分路器测试系统。
技术介绍
光分路器又称为分光器，是光纤链路中重要的无源器件之一。光分路器是具有多个输入端和多个输出端的光纤汇接器件，用于将输入端口的光信号均匀的分配到各个输出端口中。为了使光分路器保持较小的偏振相关损耗，在采用光分路器进行光信号的传输之前，必须对光分路器的插入损耗、偏振相关损耗和损耗均匀性等技术指标进行测试。现有的一种光分路器测试系统，采用的是单通道、单项指标和单个波长逐一测试，如图1所示，包括单个光源10、偏振控制器11、待测光分路器12、单通道光功率计13和控制系统14。在测试的过程中，需通过光纤熔接机将待测光分路器12的输入端与偏振转换器11的输出端相熔接，将待测分光路器12的多个输出端与单通道光功率计13的一个输入端跳线逐一熔接，以便进行插入损耗和偏振相关损耗的测试。但是，上述光分路器测试系统，必须使用价格昂贵的光纤熔接机才能完成待测光分路器12与偏振转换器11以及单通道光功率计13之间的连接，因此，导致测试成本较高、时间较长、效率较低，不符合实际应用的需求。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种光纤对准器和光分路器测试系统，以解决现有技术中使用光纤熔接机的光分路器测试系统测试时间长、效率低和成本高的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种光分路器测试系统，包括光源系统、偏振控制器、第一光纤对准器、待测光分路器、第二光纤对准器、多通道光功率计和控制系统，所述第一光纤对准器用于将所述偏振控制器的至少一个输出端与所述待测光分路器的至少一个输入端对应连接，所述第二光纤对准器用于将所述待测光分路器的多个输出端与所述多通道光功率计的多个输入端一一对应连接。优选的，所述光源系统包括多个光源以及与所述多个光源相连的光开关，所述光开关包括多个输入端，且所述光开关的每个输入端与一个所述光源的输出端相连。优选的，所述光源系统、偏振控制器、第一光纤对准器、待测光分路器、第二光纤对准器和多通道光功率计依次相连，所述控制系统与所述光开关、偏振转换器和多通道光功率计分别相连。优选的，所述第一光纤对准器和第二光纤对准器均包括基座、贯穿所述基座的凹槽和压入所述凹槽的压块。优选的，所述第一光纤对准器具有至少1个凹槽，所述凹槽用于嵌入所述偏振控制器的至少一个输出端和所述待测分光器的至少一个输入端，以实现所述偏振转换器和所述待测分光器的连接。优选的，所述第二光纤对准器具有多个相互平行的凹槽，所述凹槽用于嵌入所述待测光分路器的一个输入端和所述多通道光功率计的一个输入端，以实现所述待测光分路器和所述多通道光功率的连接，其中，所述多通道光功率计的多个输入端为与所述多通道光功率计相连的带状光纤。优选的，嵌入所述凹槽内的输入端和输出端均为切割平整的裸光纤。优选的，还包括：涂覆在所述凹槽内的光纤匹配液。优选的，所述凹槽为V型凹槽。优选的，所述压块为陶瓷材质。与现有技术相比，本专利技术所提供的技术方案具有以下优点：本专利技术所提供的光分路器测试系统，通过第一光线对准器将所述偏振控制器的至少一个输出端与所述待测光分路器的至少一个输入端对应连接，通过第二光纤对准器将所述待测光分路器的多个输出端与所述多通道光功率计的多个输入端一一对应连接，从而不需要采用光纤熔接机连接偏振转换器和待测光分路器以及待测光分路器和多通道光功率计，降低了成本；并且，由于本专利技术采用的是多通道光功率计，且多通道光功率计的多个输入端可以和待测光分路器的多个输出端一一对应连接，因此，不需要再将待测光分路器的多个输出端与单通道光功率计的一个输入端逐一连接，从而缩短了测试时间，提高了测试效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为现有的光分路器测试系统结构图；图2为本专利技术的一个实施例提供的光分路器测试系统结构图；图3a为第一光纤对准器的俯视图；图3b为第一光纤对准器的侧视图；图4a为第二光纤对准器的俯视图；图4b为第二光纤对准器的侧视图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术的一个实施例提供了一种光分路器测试系统，如图2所示，包括光源系统20、偏振控制器21、第一光纤对准器22、待测光分路器23、第二光纤对准器24、多通道光功率计25和控制系统26。其中，如图3a～4b所示，第一光纤对准器22用于将偏振控制器21的至少一个输出端210与待测光分路器23的至少一个输入端230对应连接，第二光纤对准器24用于将待测光分路器23的多个输出端231与多通道光功率计25的多个输入端250一一对应连接。本实施例中，光源系统20包括多个光源30和与所述多个光源30相连的光开关31，所述光开关31包括多个输入端，且所述光开关31的每个输入端与一个所述光源30的输出端相连。例如，光源30的个数为M，光开关31的输入端个数也为M，M为正整数，则光开关31的每个输入端均与一个光源30相连。本实施例中，光源系统20、偏振控制器21、第一光纤对准器22、待测光分路器23、第二光纤对准器24和多通道光功率计25依次相连，所述控制系统26与所述光开关31、偏振转换器21和多通道光功率计25分别相连。其中，控制系统26为控制器，能够通过光开关31控制光源30的通断，进而控制光源波长的选择和切换，例如，可以通过输出的不同波长的光源分别对多通道光功率计25上的多个通道进行归零。本实施例中，如图3a和3b所示，第一光纤对准器22包括基座220、贯穿所述基座220的凹槽221和压入所述凹槽221的压块222，优选的，凹槽221为V形凹槽，压块222为陶瓷材质，用于防止嵌入凹槽内的裸光纤在测试的过程中发生移动。由于第一光纤对准器22用于将所述偏振控制器21的至少一个输出端210与所述待测光分路器23的至少一个输入端230对应连接，因此，第一光纤对准器22至少具有一个凹槽221，如图3b所示，所述凹槽221用于嵌入所述偏振控制器21的至少一个输出端210和所述待测分光器23的至少一个输入端230，以实现所述偏振转换器21和所述待测分光器23的对接。为了实现对接，偏振控制器21的输出端210和所述待测分光器23的输入端230必须均为切割平整的裸光纤，基于此，在对接偏振转换器21和待测分光器23之前，需用剥线钳剥掉光纤的涂覆层，用无尘纸擦拭干净后，同光纤切割刀将裸光纤切割整齐，然后再嵌入凹槽221内，实现裸光纤的对接。除此之外，还需在凹槽221内的裸光纤上涂覆光纤匹配液，以减小裸光纤的切割角度造成的对接损耗。如图4a和4b所示，第二光纤对准器24包括基座240、贯穿所述基座240的凹槽241和压入所述凹槽241的压块242，优选的，凹槽241为V形凹槽，压块242为陶瓷材质。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光分路器测试系统，其特征在于，包括光源系统、偏振控制器、第一光纤对准器、待测光分路器、第二光纤对准器、多通道光功率计和控制系统，所述第一光纤对准器用于将所述偏振控制器的至少一个输出端与所述待测光分路器的至少一个输入端对应连接，所述第二光纤对准器用于将所述待测光分路器的多个输出端与所述多通道光功率计的多个输入端一一对应连接。

【技术特征摘要】
1.一种光分路器测试系统，其特征在于，包括光源系统、偏振控制器、第一光纤对准器、待测光分路器、第二光纤对准器、多通道光功率计和控制系统，所述第一光纤对准器用于将所述偏振控制器的至少一个输出端与所述待测光分路器的至少一个输入端对应连接，所述第二光纤对准器用于将所述待测光分路器的多个输出端与所述多通道光功率计的多个输入端一一对应连接；其中，所述第一光纤对准器和第二光纤对准器均包括基座、贯穿所述基座的凹槽和压入所述凹槽的压块；所述第一光纤对准器具有至少1个凹槽，所述凹槽用于嵌入所述偏振控制器的至少一个输出端和所述待测分光器的至少一个输入端，以实现所述偏振转换器和所述待测分光器的连接，其中，所述偏振控制器的输出端和所述待测分光器的输入端采用裸光纤对接。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光源系统包括多个光源以及与所述多个光源相连的光开关，所述光开关包括多个输入端，且所述光开关的每个输入端与一...

【专利技术属性】
技术研发人员：李强，李朝阳，
申请(专利权)人：四川飞阳科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51