电容式触控装置及其感测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电容式触控装置及其感测方法，该电容式触控装置包括一触控面板以及若干个触碰侦测单元。该触控面板包括第一感测线以及第二感测线。位于最后一条第一感测线与最前面一条第二感测线之间之一触碰的位置可由第一触碰侦测单元、第二触碰侦测单元或两者计算。本发明专利技术能避免第一触碰侦测单元及第二触碰侦测单元之间的数据传输所导致图框率大幅降低的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电容式触控装置，特别涉及一种电容式触控装置及其感测方法。
技术介绍
当一电容式触控面板应用至一大尺寸装置时，感测线数量增加。此外，对于增加感测速度及计算扫描结果的需求也增加。于轴交错式(Axis Intersect；AI)电容感测技术中，是以自电容(self-capacitance)感测方法侦测一触碰的坐标。然而轴交错式电容感测技术会发生鬼点(ghost point)问题，因此无法侦测多点触碰(multi-point touch)。相对地，于全点可寻址(All-Points Addressable；APA)电容感测技术中，通常是以互电容(mutual-capacitance)感测方法侦测一触碰的坐标，因此全点可寻址电容感测技术可侦测多点触碰。请参阅图1，图1为现有技术中使用轴交错式电容感测技术之电容式触控装置10。该电容式触控装置10包括一触控面板100以及若干个触控集成电路(Integrated Circuits；IC)102、104。该触控面板100包括若干条感测线S1-S20。该触控集成电路102电性耦接至感测线S1-S10以扫描感测线S1-S10。该触控集成电路104电性耦接至感测线S11-S20以扫描感测线S11-S20。请参阅图2，图2绘示图1中感测线S8-S13及触控集成电路102、104的示意图，感测线S10、S11被视为边界(boundary)感测线。<br>于电容式触控装置10中，一触碰的位置是透过感测两相邻感测线而决定。举例来说，感测线S8及S9被充电及放电以获得两感测线S8及S9之模拟至数字转换值(Analog-to-Digital Conversion value；以下称ADC值)。然后，感测线S8及S9之间之触碰的位置由感测线S8及S9之ADC值决定。类似地，感测线S9及S10之间之触碰的位置由感测线S9及S10之ADC值决定，感测线S10及S11之间触碰的位置由感测线S10及S11之ADC值决定。然而触控集成电路102并未电性耦接至感测线S11，因此触控集成电路102不能获得感测线S11之ADC值。当触碰的位置(感测线S10及S11之间)仅由感测线S10之ADC值决定时，ADC值会不正确或很小。为了决定正确的位置，触控集成电路104将所获得之感测线S11之ADC值传送到触控集成电路102，使得触控集成电路102能藉由使用感测线S10及S11之ADC值决定感测线S10及S11之间的位置。因为需要将感测线S11之ADC值传送至触控集成电路102，所以触控面板100的图框率(frame rate)会大幅降低并导致电容式触控装置10的性能变差。对于全点可寻址电容感测技术而言，需要将一列(row)的ADC值传送至触控集成电路102，同样也会使性能损失而变差。因此，需要对上述因为两相邻触控集成电路之其中一者将边界感测线之ADC值传送至另外一者而导致图框率大幅降低的问题提出解决方法。
技术实现思路
本专利技术之一目的在于提供一电容式触控装置及其感测方法。本专利技术之电容式触控装置包括一触控面板以及若干个触碰侦测单元。该触控面板包括若干条第一感测线以及若干条第二感测线。这些触碰侦测单元至少包括一第一触碰侦测单元以及一第二触碰侦测单元。该第一触碰侦测单元电性耦接至这些第一感测线。该第二触碰侦测单元电性耦接至这些第二感测线。位于最后一条第一感测线与最前面一条第二感测线之间之一触碰的位置是由该第一触碰侦测单元根据该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值与该最后一条第一感测线的感测值计算，或者该触碰的位置是由该第二触碰侦测单元根据该最前面一条第二感测线的感测值与该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值计算。本专利技术之电容式触控装置之感测方法包括：该第一触碰侦测单元扫描最后一条第一感测线的前面一条第一感测线，以获得该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值；该第一触碰侦测单元扫描该最后一条第一感测线，以获得该最后一条第一感测线的感测值；该第二触碰侦测单元扫描最前面一条第二感测线，以获得该最前面一条第二感测线的感测值；该第二触碰侦测单元扫描该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线，以获得该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值；以及该第一触碰侦测单元根据该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值与该最后一条第一感测线的感测值计算位于该最后一条第一感测线与该最前面一条第二感测线之间之一触碰的位置，或者，该第二触碰侦测单元根据该最前面一条第二感测线的感测值与该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值计算该触碰的位置。本专利技术之电容式触控装置以及电容式触控装置之感测方法能避免两相邻触碰侦测单元之间的数据传输所导致图框率大幅降低的问题。为让本专利技术的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：【附图说明】图1为现有技术中使用轴交错式电容感测技术之电容式触控装置；图2绘示图1中感测线S8-S13及两触控集成电路的示意图；图3为本专利技术之一电容式触控装置；图4绘示图3中第一感测线RXI-3-RXI、第二感测线RXI+1-RXI+4、第一触碰侦测单元及第二触碰侦测单元之一实施例；以及图5绘示根据本专利技术实施例之电容式触控装置之感测方法的流程图。【具体实施方式】以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本专利技术可用以实施的特定实施例。图3为本专利技术之一电容式触控装置30。该电容式触控装置30包括一触控面板300、若干个触碰侦测单元包括一第一触碰侦测单元302以及一第二触碰侦测单元304、以及至少一驱动单元306。该触控面板300包括若干条第一感测线RX1-RXI、若干条第二感测线RXI+1-RXM、以及若干条驱动线TX1-TXN。第一感测线RX1-RXI及第二感测线RXI+1-RXM以列方向(column direction)排列。驱动线TX1-TXN跨过第一感测线RX1-RXI及第二感测线RXI+1-RXM而以行方向(row direction)排列。列方向是垂直于行方向。I、J、M以及N为正整数。第一触碰侦测单元302电性耦接至第一感测线RX1-RXI以扫描第一感测线RX1-RXI，第二触碰侦测单元304电性耦接至第二感测线RXI本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容式触控装置，其特征在于，包括：一触控面板，包括若干条第一感测线以及若干条第二感测线；以及若干个触碰侦测单元，至少包括一第一触碰侦测单元以及一第二触碰侦测单元，该第一触碰侦测单元电性耦接至这些第一感测线，该第二触碰侦测单元电性耦接至这些第二感测线，其中位于最后一条第一感测线与最前面一条第二感测线之间之一触碰的位置是由该第一触碰侦测单元根据该最后一条第一感测线的前面一条第一感测线的感测值与该最后一条第一感测线的感测值计算，或者该触碰的位置是由该第二触碰侦测单元根据该最前面一条第二感测线的感测值与该最前面一条第二感测线的后面一条第二感测线的感测值计算。

【技术特征摘要】
2013.10.31 US 14/068,6421.一种电容式触控装置，其特征在于，包括：
一触控面板，包括若干条第一感测线以及若干条第二感测
线；以及
若干个触碰侦测单元，至少包括一第一触碰侦测单元以及一
第二触碰侦测单元，该第一触碰侦测单元电性耦接至这些第一感
测线，该第二触碰侦测单元电性耦接至这些第二感测线，
其中位于最后一条第一感测线与最前面一条第二感测线之
间之一触碰的位置是由该第一触碰侦测单元根据该最后一条第
一感测线的前面一条第一感测线的感测值与该最后一条第一感
测线的感测值计算，
或者该触碰的位置是由该第二触碰侦测单元根据该最前面
一条第二感测线的感测值与该最前面一条第二感测线的后面一
条第二感测线的感测值计算。
2.根据权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，进
一步包括若干条驱动线排列以跨过这些第一感测线及这些第二
感测线。
3.根据权利要求2所述的电容式触控装置，其特征在于，进
一步包括一驱动单元电性耦接至这些驱动线以依序驱动这些驱
动线。
4.根据权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，该
触碰的位置POS_RX是由该第一触碰侦测单元根据下列方程式
计算：
POS_RX=POSI+PRX×(DIFF(I+1,J)-DIFF(I-1,J))(DIFF(I-1,J)+DIFF(I,J)+DIFF(I+1,J)),]]>POSI为该最后一条第一感测线的位置，DIFF(I-1,J)为该最后
一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测
值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF(I,J)为该最后一条
第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两
者的差异值，PRX为两相邻第一感测线的间距，
DIFF(I+1,J)是根据下列方程式计算：
DIFF(I+1,J)＝[0,(DIFF(I,J)-DIFF(I-1,J))]。
5.根据权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，该
触碰的位置POS_RX是由该第一触碰侦测单元根据下列方程式
计算：
POS_RX=POSI+PRX×(DIFF(I+1,J)-DIFF(I-1,J))(DIFF(I-1,J)+DIFF(I,J)+DIFF(I+1,J)),]]>POSI为该最后一条第一感测线的位置，DIFF(I-1,J)为该最后
一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测
值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF(I,J)为该最后一条
第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两
者的差异值，PRX为两相邻第一感测线的间距，
DIFF(I+1,J)是根据下列方程式计算：
DIFF(I+1,J)＝W(I+1,J)×[0,(DIFF(I,J)-DIFF(I-1,J))]
W(I+1,J)为一权重因子。
6.根据权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，该

\t触碰的位置POS_RX是由该第一触碰侦测单元根据下列方程式
计算：
POS_RX=POSI+PRX×(DIFF(I+1,J)-DIFF(I-1,J))(DIFF(I-1,J)+WRX×DIFF(I,J)+DIFF(I+1,J)),]]>POSI为该最后一条第一感测线的位置，DIFF(I-1,J)为该最后
一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测
值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF(I,J)为该最后一条
第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两
者的差异值，PRX为两相邻第一感测线的间距，WRX为一权重因
子，
DIFF(I+1,J)是根据下列方程式计算：
DIFF(I+1,J)＝[0,(DIFF(I,J)-DIFF(I-1,J))]。
7.根据权利要求1所述的电容式触控装置，其特征在于，该
触碰的位置POS_RX是由该第一触碰侦测单元根据下列方程式
计算：
POS_RX=POSI+PRX×(DIFF(I+1,J)-DIFF(I-1,J))(DIFF(I-1,J)+WRX×DIFF(I,J)+DIFF(I+1,J)),]]>POSI为该最后一条第一感测线的位置，DIFF(I-1,J)为该最后
一条第一感测线的前面一条第一感测线在该触碰发生时的感测
值与未有触碰时的感测值两者的差异值，DIFF(I,J)为该最后一条
第一感测线在该触碰发生时的感测值与未有触碰时的感测值两
者的差异值，PRX为两相邻第一感测线的间距，
DIFF(I+1,J)是根据下列方程式计算：
DIFF(I+1,J)＝W(I+1,J)×[0,(DIFF(I,J)-DIFF(I-1,J))]
WRX及W(I+1,J)为权重因子。
8.一种電容式觸控装置之感测方法，其特征在于，该电容式
触控装置包括一触控面板以及若干个...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐日明，郭锦华，
申请(专利权)人：矽统科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71