具有双金结构的低压电器整机老化的方法技术

一种具有双金结构的低压电器整机老化的方法，包括以下步骤：a)在低压电器产品组装完成后进行校验之前，将该低压电器整机产品接通三相主电路1.2～6倍额定电流进行整机老化5～20分钟。b)整机老化完成后整机冷却至产品复位。c)接通三相1.05倍额定电流，稳定20分钟～40分钟进行早脱扣产品调校。接通1.2倍额定电流动作10分钟～2小时，对在此过程中不脱扣产品进行调校。本发明专利技术通过采用整机老化工艺来同时解决现有双金式热继电器存在的多个问题，不仅能在整个自动化生产过程中切实提高且保持双金片的稳定性和避免双金片零点漂移，而且使电器制造、装配和检验均能方便实现。

【技术实现步骤摘要】
具有双金结构的低压电器整机老化的方法
本专利技术涉及具有双金片结构的长延时保护电器，尤其涉及一种可用于双金片式热过载继电器的整机老化的方法，也可适用于具有双金结构的塑壳断路器、小型断路器等电器。
技术介绍
具有双金片结构的长延时保护电器在工业和民用上均已经大量普及使用，以热过载继电器(以下简称“热继电器”)为例，热继电器是利用电流的热效应来切断电路的一种保护装置，常与接触器配合使用，用于过载、断相和电流不平衡运行的保护，主要保护的对象是电动机和线路其他电气设备发热状态的控制。双金片式热继电器因其结构简单、体积小、价格低和保护性能好而获得了最广泛的应用，但是实践中发现此类产品的动作特性可靠性不高，即使世界知名的低压电器公司制造的热继电器大小档特性的符合性也只能达到80％左右，究其原因是热继电器中最关键的部件双金属片的特性极不稳定，造成所制造出的热继电器产品动作性能波动较大。目前通常的提高双金片的稳定性的做法有两种：一种是将双金属片进行高低温处理，第二种是对双金属部件进行大电流冲击。采用第一种双金属片高低温处理方法，虽然将冲压出来的金属片经过了高低温处理，但是在制造过程中的后加工工序中(如焊接、调冷同步等)，会重新造成双金片内应力，这就预埋了所制造出的热继电器产品动作性能因双金属片的特性极不稳定容易产生波动的隐患。采用第二种双金属部件大电流冲击的处理方法，虽然已对加工的双金属片部件进行过大电流冲击，但是冲击时间很短，效果并不理想。一般在热继电器装配完工后的校验过程中，双金片式热继电器产品发热，双金片和壳体等塑料在高温状态下发生蠕变，这将导致双金片与壳体之间预设的固定的相对位置会发生改变，出现俗称的不希望成品具有的“零点漂移”缺陷。而上述两种通常的提高双金片的稳定性的工艺所存在的共同的不足就是无法避免这个问题，所以，要获得热继电器产品动作性能的高稳定性，必须寻找能克服“零点漂移”缺陷有效提高双金片的稳定性的办法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种具有双金结构的低压电器整机老化的方法，通过采用整机老化工艺来同时解决现有双金式热继电器存在的上述两个问题，不仅能在整个自动化生产过程中切实提高且保持双金片的稳定性和避免双金片零点漂移，而且使电器制造、装配和检验均能方便实现。为实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案。一种具有双金结构的低压电器整机老化的方法，包括以下步骤：a)在低压电器产品组装完成后进行校验之前，将该低压电器整机产品接通三相主电路1.2～6倍额定电流进行整机老化；b)整机老化完成后整机冷却至产品复位；c)接通三相1.05倍额定电流进行早脱扣调校，对在此过程中早脱扣产品进行调校；d)接通1.2倍额定电流动作进行不脱扣调校，对在此过程中不脱扣产品进行调校。进一步，所述的步骤a)的整机老化处理既可在整机装配的自动化生产线上采用自动化工装完成，也可以在用于具有双金片结构的长延时保护电器效验的长延时校验台上完成。进一步，所述的步骤a)的整机老化处理电流可以是从高倍逐渐降低变化的，所述的步骤c)的早脱扣调校的时间为20分钟～30分钟。因产品在第1步骤中已经经过了高倍电流老化，产品获得了足够的热量，这将大大的缩短长延时校验1.05倍的热平衡时间。进一步，所述的步骤a)的整机老化处理电流可以是从高倍逐渐降低变化的，也可以采用恒定的倍数不变。进一步，所述的步骤a)的整机老化处理电流为1.3倍额定电流。进一步，所述的步骤a)的整机老化处理时间为5～20分钟。进一步，所述的步骤b)的整机冷却时间为5分钟。进一步，所述的步骤c)的早脱扣调校的时间为20分钟～40分钟。进一步，所述的步骤d)的不脱扣调校的时间为10分钟～2小时。进一步，所述的步骤a)的整机老化处理为在电流为1.3倍额定电流条件下持续10分钟，所述的步骤b)的整机冷却时间为5分钟，所述的步骤c)的稳定时间为20分钟，所述的步骤d)的动作时间为10分钟。本专利技术的具有双金结构的低压电器整机老化的方法，采用大电流对组装完成后的低压电器产品进行整机老化，有效的避免双金片零点漂移问题，大大提高产品的可靠性。而且，能够大大的缩短早脱扣产品调校的时间。附图说明图1是说明本专利技术一种具有双金结构的低压电器整机老化的方法的框图。图2是说明本专利技术具有双金结构的低压电器整机老化的方法的一个实施例框图。具体实施方式下面结合图1至图2给出的两个实施例，进一步说明本专利技术的具有双金结构的低压电器整机老化的方法的几种具体实施方式。本专利技术的具有双金结构的低压电器整机老化的方法不限于以下实施方式的描述。图1的框图所示的本专利技术的具有双金结构的低压电器整机老化的方法是在低压电器成品组装完工后进行校验前采用整机老化处理，整机老化处理既可在整机装配的自动化生产线上采用自动化工装完成，也可以在用于具有双金片结构的长延时保护电器校验的长延时校验台上完成。整机老化处理所需电流来自主电路，可以与主电路串联或者并联连接，该电流为1.2～6倍额定电流，即接通三相主电路1.2～6倍额定电流进行整机老化5～20分钟。这里的整机老化处理电流可以是逐渐降低变化的，从高倍(例如6倍)逐渐降低，也可以不变，即采用恒定的倍数(例如1.3倍)，电流倍数越高则老化时间则越短，整机老化处理所需的电流及其变化与否可以按照不同的低压电器产品的特性要求选择和调整。整机老化处理后进入整机冷却处理，冷却至产品复位的时间可因产品不同而做不同选择。然后转入早脱扣调校，产品接通三相1.05倍额定电流作为长延时校验电流，稳定20分钟～40分钟，在此步骤中如果产品早脱扣，可对产品的早脱扣进行调校。不过因产品在第1步骤中已经经过了高倍电流老化，产品获得了足够的热量，这将大大的缩短长延时校验1.05倍的热平衡时间，只需20分钟～40即可这里的时间由不同产品而定。最后转入不脱扣调校，产品接通1.2倍额定电流作为不脱扣产品校验电流，接通1.2倍电流动作10分钟～2小时，以便对在此时间阶段中不脱扣产品进行调校。下面举例说明本专利技术的具有双金结构的低压电器整机老化的方法的具体实施方式。参见图2，本专利技术方法的一个实施例包括如下步骤：1.在低压电器产品组装完成后进行校验之前，将该低压电器整机产品接通三相主电路1.3倍额定电流进行整机老化10分钟。2.整机老化完成后整机冷却5分钟至产品复位。3.接通三相1.05倍额定电流，稳定40分钟，进行早脱扣产品调校，在此过程产品早脱扣可对产品调校。4.接通1.2倍额定电流动作10分钟，对在此过程中不脱扣产品进行调校。本专利技术方法的第二实施例包括如下步骤：1.在低压电器产品组装完成后进行校验之前，将该低压电器整机产品在自动化工装线上接通三相主电路6倍额定电流，并逐渐降低所述电流到1.2倍，进行整机老化8分钟。2.整机老化完成后整机冷却7分钟至产品复位。3.在长延时校验台上接通三相1.05倍额定电流，稳定25分钟进行早脱扣产品调校。因产品在第1步骤中已经经过了高倍电流老化，产品获得了足够的热量，这将大大的缩短长延时校验1.05倍的热平衡时间。4.在长延时校验台上接通1.2倍额定电流动作50分钟，可进行不脱扣产品调校。本专利技术方法的第三实施例包括如下步骤：1.在低压电器产品组装完成后进行校验之前，将该低压电器整机产品在自动化工装线上接通本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有双金结构的低压电器整机老化的方法，包括以下步骤：a)在低压电器产品组装完成后进行校验之前，将该低压电器整机产品接通三相主电路1.2～6倍额定电流进行整机老化；b)整机老化完成后整机冷却至产品复位；c)接通三相1.05倍额定电流进行早脱扣调校，对在此过程中早脱扣产品进行调校；d)接通1.2倍额定电流动作进行不脱扣调校，对在此过程中不脱扣产品进行调校。

【技术特征摘要】
1.一种具有双金结构的低压电器整机老化的方法，包括以下步骤：a)在低压电器产品组装完成后进行校验之前，将该低压电器整机产品接通三相主电路1.2～6倍额定电流进行整机老化；b)整机老化完成后整机冷却至产品复位；c)接通三相1.05倍额定电流进行早脱扣调校，对在此过程中早脱扣产品进行调校；d)接通1.2倍额定电流进行不脱扣调校，对在此过程中不脱扣产品进行调校。2.根据权利要求1所述的具有双金结构的低压电器整机老化的方法，其特征在于：所述的步骤a)的整机老化处理在整机装配的自动化生产线上采用自动化工装完成，或者在用于具有双金片结构的长延时保护电器效验的长延时校验台上完成。3.根据权利要求1所述的具有双金结构的低压电器整机老化的方法，其特征在于：所述的步骤a)的整机老化处理电流是从高倍逐渐降低变化的，所述的步骤c)的早脱扣调校的时间为20分钟～30分钟。4.根据权利要求1所述的具有双金结构的低压电器整机老化的方法，其特征在于：所述的步骤a)的整机老化处理电流是从高倍逐渐降低变化的，或者，所述的步骤a)的整...

【专利技术属性】
技术研发人员：岳喜雷，胡建国，
申请(专利权)人：浙江正泰电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33