触控检测装置及触控检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种触控检测装置及触控检测方法。触控检测方法适用于具有多条触控行以及多条触控列的触控面板，触控检测方法包括：同时的针对该触控面板执行互容式触控检测以及自容式触控检测，以分别获得互容式检测结果以及自容式检测结果，并针对互容式检测结果以及自容式检测结果进行运算以获得触控面板上的至少一触控点的位置信息。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种。触控检测方法适用于具有多条触控行以及多条触控列的触控面板，触控检测方法包括：同时的针对该触控面板执行互容式触控检测以及自容式触控检测，以分别获得互容式检测结果以及自容式检测结果，并针对互容式检测结果以及自容式检测结果进行运算以获得触控面板上的至少一触控点的位置信息。【专利说明】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
在现有的技术中，提供多点触碰检测的触控技术已成为触控装置的基本要求。并且，互容式触控检测在进行多点触碰的检测较自容式触控检测更为精准。然而，在针对触控板的电容变化进行检测的同时，可能会因为使用者的操作模式(手持或非手持)、触控装置是否进行充电以及自然界的噪声干扰(水气、温度/湿度、电磁波等)，而造成触控点位置信息的检测上的困难。 在现有的
中，上述关于造成触控点位置信息的检测困难，多利用设置额外的硬件，或特殊设置的固件来加以克服。或者，现有技术中，也有提出在对触控面板进行互容式触控检测，额外进行自容式触控检测的作法。然而，这样的作法显然需要很长的触控检测时间，尤其应用在大尺寸的触控面板上更为明显。而较长的触控检测时间的需求，会造成触控敏感度的降低。
技术实现思路
本专利技术提供一种，有效提升触控检测的效率。 本专利技术的触控检测方法适用于具有多条触控行以及多条触控列的触控面板，触控检测方法包括:同时的针对该触控面板执行互容式触控检测以及自容式触控检测，以分别获得互容式检测结果以及自容式检测结果，并针对互容式检测结果以及自容式检测结果进行运算以获得触控面板上的至少一触控点的位置信息。 本专利技术的触控检测装置，包括触控面板以及触控检测控制器。触控面板具有多条触控行以及多条触控列，触控检测控制器连接触控行以及触控列。触控检测控制器同时针对触控面板执行互容式触控检测以及自容式触控检测，以分别获得互容式检测结果以及自容式检测结果，并针对互容式检测结果以及自容式检测结果进行运算以获得触控面板上的至少一触控点的位置信息。 基于上述，本专利技术通过同步进行互容式触控检测以及自容式触控检测，有效降低检测所需的时间。并且，本专利技术同时搭配互容式检测结果以及自容式检测结果下来获得触控点的位置信息，使触控点的位置信息可以准确的被检测出。如此一来，本专利技术提供的触控检测方法可以快速且准确的检测出触控点的位置信息，提升触控检测装置的整体效益。 为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。 【专利附图】【附图说明】 图1示出本专利技术一实施例的触控检测方法的流程图； 图2A?图2C分别示出本专利技术实施例的多个实施方式； 图3A示出本专利技术一实施例的触控检测装置的示意图； 图3B示出本专利技术触控检测装置实施例的一实施方式； 图4A示出本专利技术实施例的触控检测装置的部分路示意图； 图4B示出本专利技术实施例的触控检测装置的触控检测动作的波形图。 附图标记说明: SllO ?S120、S211 ?S213、S221 ?S223、S231 ?S233:触控检测步骤； 300:触控检测装置； 310:触控面板； Xl?XM:触控行； Yl?YN:触控列； 320:触控检测控制器； 3211?321N、3221?322M:触控检测控制电路； 410、420:模拟前端电路； SP1、SP2:取样点； TA、TB:时间周期； TXE:发射端点； RXE:接收端点； GND:接地?而点； CTX、CRX:自容电容； CM:互容电容； VRX、VTX:电压； VINT:触控驱动信号； VOUTs、VOUTm:检测电压。 【具体实施方式】 请参照图1，图1示出本专利技术一实施例的触控检测方法的流程图。其中，触控检测方法适用于触控面板上，且触控面板具有多条触控行以及多条触控列。本实施例的触控检测方法的步骤包括:首先，在步骤SllO中，同时针对触控面板进行自容式触控检测以及互容式触控检测，并且，所进行的自容式触控检测可以获得自容式检测结果，而所进行的互容式触控检测则可以获得互容式检测结果。 接着，在步骤S120中，则针对在步骤SI 10中所获得的自容式检测结果以及互容式检测结果来进行算术运算，并通过算术运算的结果来获得一个或多个触控点的位置信息。 以下请参照图2A?图2C，图2A?图2C分别示出本专利技术实施例的多个实施方式。在图2A中，步骤S211针对触控面板的触控行进行互容式的触控检测，并且，在进行互容式的触控检测的同时，可针对触控面板的触控列进行自容式的检测。进一步来说明，在步骤S211中，可以使触控面板的触控行接收触控驱动信号，并使触控面板的触控列作为接收端来接收依据触控驱动信号所产生的电气特性的变化(例如电压的变化)来进行触控面板的互容式的触控检测。值得注意的，依据触控面板的触控行所接收的触控驱动信号，本实施方式可以同时通过量测触控面板的触控列上的电气特性的变化，来进行触控面板的触控列的自容性的触控检测动作。 接着，在步骤S212中，则针对触控面板的触控行进行自容式触控检测的动作。并且，综合步骤S211以及步骤S212所获得的触控检测结果，本实施方式就可以获得完整的互容式检测结果以及自容式检测结果，并通过步骤S213所进行的互容式检测结果以及自容式检测结果的算术运算，一个或多个的触控点的位置信息就可以被精确的计算出来。 另外，在图2B的实施方式中，在步骤S221，针对触控面板的触控行进行互容式的触控检测，并且，在进行互容式的触控检测的同时，可针对触控面板的触控列进行自容式的检测。也就是利用触控面板的触控列作为发射端以接收触控驱动信号，并利用触控面板的触控行以作为接收端来接收依据触控驱动信号所产生的电气特性的变化来进行互容式触控检测。并且，利用触控面板的触控行接收触控驱动信号的同时，通过量测触控面板的触控列上的电气特性的变化来进行触控面板的触控列的自容性触控检测。 接着，在步骤S222中，针对触控面板的触控列进行互容式的触控检测，并且，在进行互容式的触控检测的同时，可针对触控面板的触控行进行自容式的检测。具体来说明，就是改利用触控面板的触控行作为发射端以接收触控驱动信号，并利用触控面板的触控列以作为接收端来接收依据触控驱动信号所产生的电气特性的变化来进行互容式触控检测。并且，利用触控面板的触控列接收触控驱动信号的同时，通过量测触控面板的触控列上的电气特性的变化来进行触控面板的触控行的自容性触控检测。 综合步骤S221以及S222的检测结果，可以获得的互容式检测结果以及自容式检测结果，并在步骤S223中，针对互容式检测结果以及自容式检测结果进行算术运算，就可以获得一个或多个的触控点的位置信息。 在图2C中，在步骤S231，针对触控面板的触控行进行互容式的触控检测，并且，在进行互容式的触控检测的同时，可针对触控面板的触控列进行自容式的检测。也就是利用触控面板的触控列作为发射端以接收触控驱动信号，并利用触控面板的触控行以作为接收端来接收依据触控驱动信号所产生的电气特性的变化来进行互容式触控检测。并且，利用触控面板的触控行接收触控驱动信号的同时，通过量测触控面板的触控列上的电气特性的变化来进行触控本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控检测方法，其特征在于，适用于一触控面板，该触控面板具有多条触控行以及多条触控列，包括：同时针对该触控面板执行一互容式触控检测以及一自容式触控检测，以分别获得一互容式检测结果以及一自容式检测结果；以及针对该互容式检测结果以及该自容式检测结果进行运算以获得该触控面板上的至少一触控点的位置信息。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：张志远，
申请(专利权)人：联咏科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71