射频发射型的检测电路制造技术

本发明专利技术公开了射频发射型的检测电路，包括插座、比较器A1、比较器A、二极管D1、发光二极管D3、保险丝B、单刀双掷开关S、电阻R2、电阻R3、与门B、射频芯片CC1101、电容C2和充电电容C3，所述插座、二极管D1、电阻R2、单刀双掷开关S的a端、单刀双掷开关S的b端、电阻R3和发光二极管D3依次连接，其中的发光二极管D3接地；所述插座还连接电阻R1，电阻R1还连接比较器A1的同向输入端，比较器A1的反向输入端连接二极管D1的负极，比较器A1的输出端连接与门B的一条输入端，与门B的另一条输入端接地，与门B的输出端连接射频芯片CC1101，射频芯片CC1101还连接天线。本发明专利技术通过上述原理，能够通过射频发射信号知道供电电源是否用完或者是电路是否出现过流现象，使用更方便。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了射频发射型的检测电路，包括插座、比较器A1、比较器A、二极管D1、发光二极管D3、保险丝B、单刀双掷开关S、电阻R2、电阻R3、与门B、射频芯片CC1101、电容C2和充电电容C3，所述插座、二极管D1、电阻R2、单刀双掷开关S的a端、单刀双掷开关S的b端、电阻R3和发光二极管D3依次连接，其中的发光二极管D3接地；所述插座还连接电阻R1，电阻R1还连接比较器A1的同向输入端，比较器A1的反向输入端连接二极管D1的负极，比较器A1的输出端连接与门B的一条输入端，与门B的另一条输入端接地，与门B的输出端连接射频芯片CC1101，射频芯片CC1101还连接天线。本专利技术通过上述原理，能够通过射频发射信号知道供电电源是否用完或者是电路是否出现过流现象，使用更方便。【专利说明】射频发射型的检测电路
本专利技术涉及检测电路领域，具体涉及射频发射型的检测电路。
技术介绍
当今的高科技时代，随着生活节奏的加快，那么我们随身用的电器设备的节奏也需要我们随时掌握，使用便携式电子产品，希望能够随时知道电池的所剩电量，所能持续的工作时间，并且据此调节相关应用，这无疑将是一个非常方便的事情。电池电量检测技术在笔记本电脑中已经屡见不鲜，多数笔记本电脑都有电源管理的选项，提供不同的电源工作模式以及电池报警功能。但是在更加小型化的便携产品市场，这一技术却还不多见。如今用于检测电量的装置中无法通过射频发射信号来了解供电电源是否用完或者是电路是否出现过流情况。
技术实现思路
本专利技术克服了现有技术的不足，提供射频发射型的检测电路，能够通过射频发射信号知道供电电源是否用完或者是电路是否出现过流现象，使用更方便。 为解决上述的技术问题，本专利技术采用以下技术方案:射频发射型的检测电路，包括插座、比较器Al、比较器A、二极管D1、发光二极管D3、保险丝B、单刀双掷开关S、电阻R2、电阻R3、与门B、射频芯片CCl 101、电容C2和充电电容C3，所述插座、二极管Dl、电阻R2、单刀双掷开关S的a端、单刀双掷开关S的b端、电阻R3和发光二极管D3依次连接，其中的发光二极管D3接地；所述插座还连接电阻R1，电阻Rl还连接比较器Al的同向输入端，比较器Al的反向输入端连接二极管Dl的负极，比较器Al的输出端连接与门B的一条输入端，与门B的另一条输入端接地，与门B的输出端连接射频芯片CCl 101，射频芯片CCllOl还连接天线；所述电阻Rl和二极管Dl的公共端还依次连接比较器A的反向输入端和单刀双掷开关S的c端；所述电阻R3和单刀双掷开关S的b端的公共端还连接下拉电容C2和下拉充电电容C3 ;所述比较器A的同向输入端接地，比较器A的输出端与单刀双掷开关S的c端连接。 当插座上插入供电电源电路通电后，比较器Al的同向输入端和反向输入端之间的电压降为正值，在比较器Al的输出端输出高电平，高电平经过与门B的作用后就变成低电平，射频芯片CCllOl则不会通过天线发射信号。同时由于插座上插入电源，二极管D1、电阻R2、单刀双掷开关的a端和b端，电阻R3和发光二极管D3依次连接组成的回路接通，二极管D3发光，此时下拉充电电容C3两端充电，电容C2则用于滤除不需要的波。当充电电容C3充电完成以后，充电电容C3则会放电，使二极管Dl两端的压降消失，从而使比较器Al的输出端为低电平，低电平通过与门B的作用又变为高电平，射频芯片CCllOl则会通过天线发射信号，提醒其他人员该检测电路出现过流的情况或者是供电电源已无电量的情况，使用更方便，单刀双掷开关S的a端和c端接通，负载R3和发光二极管D3均由充电电容C3供电，同时单刀双掷开关的a端和c端连接，比较器A和电源接通，使比较器Al的同向输入端电压升高，比较器Al的反向输入端电压降低，从而使比较器Al的输出端又变为高电平，单刀双掷开关的a端和b端接通，依次类推进行循环。当输入电压过大时，保险丝B还可断开电路，避免后面的发光二极管损坏。通过观察发光二极管D3发光的明暗程度即可检测供电电源电量的强弱，检测快速方便。 在电阻R2两端还分别连接比较器A2的同向输入端和反向输入端，比较器A2的输出端连接单刀双掷开关S的a端。在电阻R2的两端分别连接比较器A2的同向输入端和反向输入端，同时比较器A2的输出端还连接单刀双掷开关S的a端，当流过电阻R2两端的电流过大时，电阻R2两端的压降较大，比较器A2的输出端输出高电平，单刀双掷开关的a端和b端分离且单刀双掷开关的a端和c端也分离，回路断开，避免过大的电流烧坏电路中的电子元件发光二极管和充电电容C3。并且该结构无需经常更换，可反复使用，降低成本，且保护电路中电器元件的完好。 所述比较器A2的同向输入端与二极管Dl的负极相连，比较器A2的反向输入端与单刀双掷开关S的a端相连。与二极管Dl配合使用，实现更好的限流作用。 所述单刀双掷开关S的a端和保险丝B的公共端还连接下拉稳压二极管D2，二极管D2的正向端接地。使电路供电电压更稳定。 所述插座上还连接下拉电容Cl。用于滤除掉干扰波，避免干扰波对电路的影响。 所述比较器A的正向电源端连接端还连接下拉电容C4。用于滤除在单刀双掷开关附近的干扰信号。 与现有技术相比，本专利技术的有益效果是:1、在比较器Al的输出端连接与门和射频芯片CCllOl以及发射天线，当供电电源电量不足或者是电路中出现过流的情况时，射频芯片则会发送信号，及时的提醒，使用更方便快捷。 2、在该电路中设置专门的过流保护部分，当流过电阻R2两端的电流过大时，则比较器A2使单刀双掷开关断开，从而达到保护电路中发光二极管和充电电压的作用，避免被过大的电流烧坏；并且该结构无需经常更换，可反复使用，降低成本，且保护电路中电器元件的完好。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术的电路原理图。 【具体实施方式】 下面结合附图对本专利技术作进一步阐述，本专利技术的实施例不限于此。 实施例1:如图1所示，本专利技术包括插座、比较器Al、比较器A、二极管D1、发光二极管D3、保险丝B、单刀双掷开关S、电阻R2、电阻R3、与门B、射频芯片CC1101、电容C2和充电电容C3，所述插座、二极管D1、电阻R2、单刀双掷开关S的a端、单刀双掷开关S的b端、电阻R3和发光二极管D3依次连接，其中的发光二极管D3接地；所述插座还连接电阻Rl，电阻Rl还连接比较器Al的同向输入端，比较器Al的反向输入端连接二极管Dl的负极，比较器Al的输出端连接与门B的一条输入端，与门B的另一条输入端接地，与门B的输出端连接射频芯片CC1101，射频芯片CCllOl还连接天线；所述电阻Rl和二极管Dl的公共端还依次连接比较器A的反向输入端和单刀双掷开关S的c端；所述电阻R3和单刀双掷开关S的b端的公共端还连接下拉电容C2和下拉充电电容C3 ;所述比较器A的同向输入端接地，比较器A的输出端与单刀双掷开关S的c端连接。其中比较器型号为MC74VHC1GT12OTT，下拉电容C2的大小为0.1微法。 当插座上插入供电电源电路通电后，比较器Al的同向输入端和反向输入端之间的电压降为正值，在比较器Al的输出端输出高电平，高电平经过与门B的作用后就变成低电平，射频芯本文档来自技高网...

【技术保护点】
射频发射型的检测电路，其特征在于：包括插座、比较器A1、比较器A、二极管D1、发光二极管D3、保险丝B、单刀双掷开关S、电阻R2、电阻R3、与门B、射频芯片CC1101、电容C2和充电电容C3，所述插座、二极管D1、电阻R2、单刀双掷开关S的a端、单刀双掷开关S的b端、电阻R3和发光二极管D3依次连接，其中的发光二极管D3接地；所述插座还连接电阻R1，电阻R1还连接比较器A1的同向输入端，比较器A1的反向输入端连接二极管D1的负极，比较器A1的输出端连接与门B的一条输入端，与门B的另一条输入端接地，与门B的输出端连接射频芯片CC1101，射频芯片CC1101还连接天线；所述电阻R1和二极管D1的公共端还依次连接比较器A的反向输入端和单刀双掷开关S的c端；所述电阻R3和单刀双掷开关S的b端的公共端还连接下拉电容C2和下拉充电电容C3；所述比较器A的同向输入端接地，比较器A的输出端与单刀双掷开关S的c端连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨勇，
申请(专利权)人：成都嵌智捷科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51