静电衰减测试的加压探头试验装置制造方法及图纸

技术编号:11032113 阅读:101 留言:0更新日期:2015-02-11 18:01
本发明专利技术属于静电防护性能试验技术,本发明专利技术的静电衰减测试的加压探头试验装置,包括探头挡圈、探针、探头外罩、探头体、高压探针套管、铜套、尾端定位装置和出线螺帽,探头挡圈设置在探头体的上端,探头外罩将探头挡圈和探头体连接在一起,探头体内部的中心位置设有高压探针套管,高压探针套管的上端与探头挡圈配合连接,高压探头套管的下端连接尾端定位装置,高压探针套管内部中心位置设有铜套,铜套内部的中心位置设有探针,探头挡圈、高压探针套管、铜套上分别设有与探针配合使用的中心孔,探针穿过中心孔后凸出于探头挡圈的上表面,探头体的下端设有出线螺帽。本发明专利技术为材料静电防护性能试验提供了一种效果更好、更安全的静电衰减测试的装置。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术属于静电防护性能试验技术,本专利技术的静电衰减测试的加压探头试验装置,包括探头挡圈、探针、探头外罩、探头体、高压探针套管、铜套、尾端定位装置和出线螺帽,探头挡圈设置在探头体的上端,探头外罩将探头挡圈和探头体连接在一起,探头体内部的中心位置设有高压探针套管,高压探针套管的上端与探头挡圈配合连接,高压探头套管的下端连接尾端定位装置,高压探针套管内部中心位置设有铜套,铜套内部的中心位置设有探针,探头挡圈、高压探针套管、铜套上分别设有与探针配合使用的中心孔,探针穿过中心孔后凸出于探头挡圈的上表面,探头体的下端设有出线螺帽。本专利技术为材料静电防护性能试验提供了一种效果更好、更安全的静电衰减测试的装置。【专利说明】静电衰减测试的加压探头试验装置
本专利技术属于防护材料静电防护性能试验装置
,尤其涉及一种静电衰减测试的加压探头装置。
技术介绍
目前国内外关于电荷衰减性能测试方法多种多样。根据被测试样带电方式不同,常用测试方法主要有三种:充电法、电晕喷电法或摩擦法。通过使被测试样带电至初始静电电压后,撤除作用于被测试样的静电发生装置,然后将被测试样迅速接地使其开始放电,同时利用实时监测系统实时测量被测试样表面静电电位随时间变化的衰减信号,计算出电荷衰减至设定终止电位的衰减时间,并以此为依据来评价被测材料的防静电性能。对于电晕喷电法,1KV高压电晕喷电加压探头是整个测试装置中的关键部件,而现有技术中的探头装置效果不理想、存在安全性的隐患,因此急需一种技术方案来提供效果更好、更安全的加压探头。
技术实现思路
专利技术的技术效果能够克服上述缺陷,提供一种静电衰减测试的加压探头试验装置,其确保1KV高压通过在探针尖端形成尖端放电产生电晕,对被测试样进行加压,实现了电晕放电加压的功能。 为实现上述目的,本专利技术采用如下技术方案:其包括探头挡圈、探针、探头外罩、探头体、高压探针套管、铜套、尾端定位装置和出线螺帽,探头挡圈设置在探头体的上端,探头外罩将探头挡圈和探头体连接在一起,探头体内部的中心位置设有高压探针套管,高压探针套管的上端与探头挡圈配合连接,高压探头套管的下端连接尾端定位装置,高压探针套管内部中心位置设有铜套,铜套内部的中心位置设有探针,探头挡圈、高压探针套管、铜套上分别设有与探针配合使用的中心孔,探针穿过中心孔后凸出于探头挡圈的上表面,探头体的下端设有出线螺帽。 优选的,探头挡圈采用聚四氟乙烯材料,探头外罩采用铝合金材料,探头外罩与探头体螺纹连接为整个装置提供了良好的屏蔽作用,聚四氟乙烯制作的探头挡圈和高压探针套管、高压探针尾端定位螺母均开有与探针间隙配合的中心孔,高压探针从各个部件中心孔依次穿过,为高压放电探针提供了良好的轴向定位和绝缘防护的作用。 铜套包括铜套I和铜套II,探针设置在铜套I内部的中心位置,铜套I的底端与铜套II顶端平行挤紧,铜套I和铜套II与高压探针套管之间过盈配合。探针首先分段穿过两节铜套,由铜套为探针进行精确的中部径向定位。两节铜套依次安装在高压探针套管内,与高压探针套管之间为过渡配合,使得整个芯部组合安装后形成一个绝缘良好,定位精确的整体,可保证1KV高压传输安全可靠。 尾端定位装置采用螺母,尾端定位装置与高压探头套管下端的内腔螺纹连接,尾端定位装置与铜套II之间为间隙配合。 探头挡圈与探头外罩配合处均设有凸肩,探头挡圈与探头外罩之间通过凸肩卡接,探头外罩与探头体之间螺纹连接,探头挡圈与探头体之间为间隙配合。探头挡圈上的定位凸肩限定探头挡圈伸出探头体的凸缘长度,起到防止探针与探头四周的物体产生尖端放电的作用,提高了试验的安全系数。探头外罩上的内孔凸肩限定两者之间的啮合长度,同时通过两者的旋紧使得探头挡圈轴向压紧定位。 所述的探针探出高压探针套管的部分为尖形,并且探针的探出部分长度小于或者等于探头挡圈的凸缘长度。 高压探针套管与探头挡圈中心孔之间为间隙配合。 尾端定位装置的中心位置设有中心孔,出线螺帽的中心位置设有中心孔,探针的底端连接外接线缆,外接线缆依次穿过尾端定位装置、出线螺帽的中心孔。 本专利技术所取得的有益效果是:结构简单、成本低、制作方便、使用安全,为防护材料静电防护性能试验提供了一种效果更好、更安全的静电衰减测试的加压探头装置。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术的结构示意图。 图中:1-探头挡圈;2_探针;3_探头外罩;4_探头体;5_高压探针套管;6_铜套 I;7_铜套II ;8_高压探针尾端定位螺母;9-出线螺帽;10-外接线缆。 【具体实施方式】 下面结合附图对本专利技术作进一步的描述。 本专利技术的静电衰减测试的加压探头试验装置,包括探头挡圈1、探针2、探头外罩 3、探头体4、高压探针套管5、铜套、尾端定位装置8和出线螺帽9,探头挡圈I设置在探头体4的上端,探头外罩3将探头挡圈I和探头体4连接在一起,探头体4内部的中心位置设有高压探针套管5,高压探针套管5的上端与探头挡圈I配合连接,高压探头套管5的下端连接尾端定位装置8,高压探针套管5内部中心位置设有铜套,铜套内部的中心位置设有探针2,探头挡圈1、高压探针套管5上分别设有与探针2配合使用的中心孔,探针2穿过中心孔后凸出于探头挡圈I的上表面,探头体4的下端设有出线螺帽9。探头挡圈I采用聚四氟乙烯材料,探头外罩3采用铝合金材料。探头外罩3与探头体4的配合连接为整个装置提供了良好的屏蔽作用,探针2从各个部件中心依次穿过,各部件为探针2提供了良好的轴向定位和绝缘防护的作用。 铜套包括铜套I 6和铜套II 7,探针2设置在铜套I 6内部的中心位置,铜套I 6的底端与铜套II 7顶端平行挤紧,铜套I 6和铜套II 7与高压探针套管5之间过盈配合。由铜套I 6和铜套II 7为探针2进行精确的中部径向定位。 尾端定位装置8采用螺母,尾端定位装置8与高压探头套管5下端的内腔螺纹连接,尾端定位装置8与铜套II 7之间为间隙配合。通过两者之间的螺纹拧紧使得与高压探针套管5过渡配合的铜套I 6和铜套II 7轴向压紧定位,同时又对探针2的尾端起到了径向定位的作用,防止探针2的尾端左右摆动。 探头挡圈I与探头外罩3配合处均设有凸肩,探头挡圈I与探头外罩3之间通过凸肩卡接,探头外罩3与探头体4之间螺纹连接,探头挡圈I与探头体4之间为间隙配合。探头外罩3上的内孔凸肩限定两者之间的啮合长度,同时通过两者的旋紧使得探头挡圈I轴向压紧定位。 所述的探针2探出高压探针套管5的部分为尖形,并且探针2的探出部分长度小于或者等于探头挡圈I的凸缘长度。所述的探针2由钨丝制成,端部进行磨尖处理。 高压探针套管5与探头挡圈I中心孔之间为间隙配合。通过高压探针套管5端部的定位凸肩确保两者端面处于同一个水平面上。 尾端定位装置8的中心位置设有中心孔,出线螺帽9的中心位置设有中心孔,探针 2的底端连接外接线缆10,外接线缆10依次穿过尾端定位装置8、出线螺帽9的中心孔。所述的出线螺帽9由绝缘性能良好的夹布胶木制作,与探头体4之间为螺纹连接,探针2的外接线缆10可穿过中心孔自由出入。出线螺帽9与探头体4之间的螺纹拧紧又使得整个芯部组件轴向压紧定位。【权利要求】1.一种静电衰减测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种静电衰减测试的加压探头试验装置,其特征在于:包括探头挡圈(1)、探针(2)、探头外罩(3)、探头体(4)、高压探针套管(5)、铜套、尾端定位装置(8)和出线螺帽(9),探头挡圈(1)设置在探头体(4)的上端,探头外罩(3)将探头挡圈(1)和探头体(4)连接在一起,探头体(4)内部的中心位置设有高压探针套管(5),高压探针套管(5)的上端与探头挡圈(1)配合连接,高压探头套管(5)的下端连接尾端定位装置(8),高压探针套管(5)内部中心位置设有铜套,铜套内部的中心位置设有探针(2),探头挡圈(1)、高压探针套管(5)、铜套上分别设有与探针(2)配合使用的中心孔,探针(2)穿过中心孔后凸出于探头挡圈(1)的上表面,探头体(4)的下端设有出线螺帽(9)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨成丽李娟娟冯洪成丁帅焦亮李政
申请(专利权)人:山东省纺织科学研究院
类型:发明
国别省市:山东;37

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