【技术实现步骤摘要】
一种分体式光电直读光谱分析仪
本专利技术涉及光谱分析
，尤其涉及一种分体式光电直读光谱分析仪。
技术介绍
在冶金行业中，如何精确的对黑色金属和有色金属进行成分分析是个很棘手的问题。光谱分析法是目前使用最为广泛的分析方法，然而由于光学仪器都比较复杂，制作精度高，检测结果的运算十分繁琐，所以在生产过程中的应用十分有限。本专利技术提出一种适应大场所的分体式光电直读光谱分析仪。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中存在的技术问题，本专利技术提出了一种分体式光电直读光谱分析仪，采用分体式结构，结构简单，组装方便快捷，便于在大场所的生产过程中应用。 本专利技术提出的一种分体式光电直读光谱分析仪，包括从下到上依次设置的激发室、分光室和数据处理室，激发室和分光室均设置在导轨上并可沿水平方向移动，激发室内设有放置样品的激发台和正对样品的激发光源，激发光源激发样品产生特征光谱线，分光室内设有入射反光镜、入射狭缝、凹面光栅、出射狭缝和光电倍增管，入射狭缝、出射狭缝位于以凹面光栅为中心的弧形线上，特征光谱线入射光学室内射在入射反光镜上，并产生反...
【技术保护点】
一种分体式光电直读光谱分析仪，其特征在于，包括从下到上依次设置的激发室(11)、分光室(12)和数据处理室(13)，激发室(11)和分光室(12)均设置在导轨上并可沿水平方向移动，激发室(11)内设有放置样品的激发台(111)和正对样品的激发光源(112)，激发光源(112)激发样品产生特征光谱线，分光室(12)内设有入射反光镜(121)、入射狭缝(122)、凹面光栅(123)、出射狭缝(124)和光电倍增管(125)，入射狭缝(122)、出射狭缝(124)位于以凹面光栅(123)为中心的弧形线上，特征光谱线入射光学室(12)内射在入射反光镜(121)上，并产生反射经入射狭...
【技术特征摘要】
1.一种分体式光电直读光谱分析仪，其特征在于，包括从下到上依次设置的激发室(11)、分光室(12)和数据处理室(13)，激发室(11)和分光室(12)均设置在导轨上并可沿水平方向移动，激发室(11)内设有放置样品的激发台(111)和正对样品的激发光源(112)，激发光源(112)激发样品产生特征光谱线，分光室(12)内设有入射反光镜(121)、入射狭缝(122)、凹面光栅(123)、出射狭缝(124)和光电倍增管(125)，入射狭缝(122)、出射狭缝(124)位于以凹面光栅(123)为中心的弧形线上，特征光谱线入射光学室(12)内射在入射反光镜(121)上，并产生反射经入射狭缝照(122)在凹面光栅(123)上，经凹面光栅(123)反射多条特征光谱线经多个出射狭缝(124)射到对应的光电倍增管(125)上；数据处理室(13)内设有信号处理板(131)和单片机板(132)，数据处理室(13)上设有多个数据输入接口(133)和数据输出接口(134)，各个光电倍增管(125)通过信号线与对应的数据输入接口(13...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈进，
申请(专利权)人：合肥卓越分析仪器有限责任公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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