【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种分光光度计测试装置，包括测试用的本体，所述本体连接稳压电源，所述本体的前端一侧设有电源开关以及电源指示灯，还有若干调节旋钮，所述本体的上方设有波长刻度盘，以及透光率显示表，所述本体的上方还设有一用于放置分光光度计的暗箱盖。【专利说明】分光光度计测试装置
本专利技术涉及一种测量装置，特别涉及一种分光光度计测试装置。
技术介绍
分光光度计,又称光谱仪(spectrometer),是将成分复杂的光,分解为光谱线的科学仪器。测量范围一般包括波长范围为40(T760 nm的可见光区和波长范围为200?400 nm的紫外光区.不同的光源都有其特有的发射光谱，因此可采用不同的发光体作为仪器的光源，温度和湿度是影响仪器性能的重要因素。他们可以引起机械部件的锈蚀，使金属镜面的光洁度下降，引起仪器机械部分的误差或性能下降；造成光学部件如光栅、反射镜、聚焦镜等的铝膜锈蚀，产生光能不足、杂散光、噪声等，甚至仪器停止工作，从而影响仪器寿命。维护保养时应定期加以校正。因此在分光光度计使用前需要预先进行测试校准。
技术实现思路
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【技术保护点】
一种分光光度计测试装置，其特征在于：包括测试用的本体(1)，所述本体(1)连接稳压电源(2)，所述本体(1)的前端一侧设有电源开关(4)以及电源指示灯(5)，还有若干调节旋钮，所述本体(1)的上方设有波长刻度盘(6)，以及透光率显示表(7)，所述本体(1)的上方还设有一用于放置分光光度计的暗箱盖(8)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：尚修鑫，
申请(专利权)人：苏州精创光学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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