主板时序测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种主板时序测量方法，该方法包括：根据被测主板形状大小，固定被测主板于固定单元的合适测量区域；通过输入设备导入被测主板的PCB图和时序标准参数；根据PCB图中各测试点的坐标位置，将探针面板上的每个探针与被测主板上对应的测量点建立连接；通过输入设备设定各测试点上电信号的检测参数及各检测参数对应的标准值；主板通电，信号采集面板通过各探针采集各测试点上电信号的各检测参数的测量值；将各检测参数的测量值与所述时序标准参数值及各检测参数的标准值进行比对，排查故障点。本发明专利技术还提供一种主板时序测量装置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及主板时序测量，尤其涉及一种关于主板时序测量的装置及方法。
技术介绍
通常情况下，当主板出现故障时，工程师需要根据主板的PCB图（Printed Circuit Board，印刷电路板）提供的测试点，并参考主板的电路图中标示出的各测试点信号的时序，利用示波器分多次测量主板在通电后各信号的时序，以此排查故障。
技术实现思路
鉴于此，有必要提供一种主板时序测量装置及方法，可以一次性测量主板上各信号的时序，并排查出有异常的测量点。一种主板时序测量装置，该装置包括：固定单元，用于根据主板形状大小，将被测主板固定在合适的测量区域；输入设备，用于提供一个输入接口，导入被测主板的PCB图和时序标准参数，输入被测主板各测试点上电信号的各检测参数及各参数对应的标准值；探针面板，包括有限多个探针和连动控制单元，用于根据PCB图中被测主板的原点和各测试点的坐标位置，红外校准探针面板和被测主板的原点位置，并将各探针对准连接各测试点；信号采集面板，用于通过探针采集被测主板的各测试点上电信号的时序及各检测参数的测量值；处理器，用于执行程序指令代码以控制该装置各元件的协同工作，及根据信号采集面板采集的信号，排查各测试点中是否有故障点；存储器，用于存储所述程序指令代码及用户设定的各类参数。一种主板时序测量方法，该方法包括：根据被测主板形状大小，固定被测主板于固定单元的合适测量区域；通过输入设备导入被测主板的PCB图和时序标准参数；根据PCB图中各测试点的坐标位置，将探针面板上的每个探针与被测主板上对应的测量点建立连接；通过输入设备设定各测试点上电信号的检测参数及各检测参数对应的标准值；主板通电，信号采集面板通过各探针采集各测试点上电信号的各检测参数的测量值；将各检测参数的测量值与所述时序标准参数值及各检测参数的标准值进行比对，排查故障点。相比现有技术，本专利技术所述的主板时序测量装置及方法，将被测主板的背面朝上固定，根据该主板的PCB图控制探针面板上的各探针与主板的各测试点连接，待被测主板上电后，采集各测试点的上电信号的各种检测参数的测量值，并与该主板的标准时序和各参数的标准值比较，继而快速排查到出现故障的测试点位置。附图说明图1是本专利技术主板时序测量装置的示意图。图2是本专利技术主板时序测量方法的流程图。图3-A、图3-B是探针面板与主板原点校准及探针移动的示意图。图4是设定被测主板各测试点上电信号的检测参数及对应的各标准值的示意图。主要元件符号说明主板时序测量装置1处理器10存储器20显示屏30输入设备40固定单元50探针面板60信号采集面板70主板80如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式参阅图1所示，是本专利技术主板时序测量装置的示意图。该主板时序测量装置1包括处理器10、存储器20、显示屏30、输入设备40和固定单元50、探针面板60、信号采集面板70以及各接口连接电路等。所述输入设备40用于提供一个输入接口，用户可输入不同的命令实现人机交互。该输入设备40包括键盘、鼠标或其他类型的输入装置。所述固定单元50用于根据主板形状大小将主板固定在测量区域，以便对主板进行测量等操作。所述探针面板60包括有限多个探针和连动控制单元，该连动控制单元接收通过输入设备输入的命令，从而控制探针面板60移动，使得其原点坐标与被测主板的原点坐标空间位置上相对应，还控制各探针移动以使得各探针与主板的各测试点对应连接。所述信号采集面板70用于采集探针连接的各测试点处的上电信号并测量该上电信号的各种检测参数（例如：电压峰值、电流值等）。所述处理器10用于执行程序指令代码以控制该装置上各元件之间的协同合作、排查被测主板上各测试点中是否出现故障点。该处理器10可以是单核或是多核的。所述存储器20用于存储所述程序指令代码及用户设定的各类参数及处理结果等。所述显示屏30用于显示该主板时序测量装置1测量的过程、结果或者输出报告等。参阅图2所示，是本专利技术主板时序测量的方法的流程图。根据不同需求，该流程图中步骤的顺序可以改变，某些步骤可以省略或合并。步骤S01，固定被测主板位置。根据主板形状大小，将被测主板固定在固定单元50的适合测量的区域，以方便对主板的各测试点进行测量操作。步骤S02，导入被测主板的PCB图和时序标准参数值于存储器20中。该PCB图中标示出被测主板的各测试点的坐标位置。该时序标准参数包括各测试点的上电信号的时序位置、延迟时间等。步骤S03，校准原点。探针面板60的连动控制单元根据PCB图中标示出的被测主板的原点坐标，控制移动探针面板60，红外校准探针面板的原点坐标位置及主板的原点坐标位置，使得两个原点坐标位置相对应。如图3-A所示，探针面板60包括有编号为A、B、C、D的四个探针，主板80固定于固定单元的某一合适测量区域（图中未标示固定单元），该主板的测试点分别为a，b，c，d且各测试点对应的坐标位置为（x1，y1），（x2，y2），（x3，y3），（x4，y4），此时各探针并未与各测试点坐标位置一致。如图3-B所示，探针面板60的连动控制单元根据PCB图中标示的主板80的原点坐标，控制移动探针面板60，红外校准探针面板的原点坐标位置及主板的原点坐标位置，使得两个原点坐标位置相对应。步骤S04，探针与测试点建立连接。当两原点坐标位置相对应时，探针面板60的连动控制单元根据从输入设备接收的探针移动命令及PCB图中标示出的各测试点的坐标位置，分别控制移动各探针与各测试点对准并连接。如图3-B所示，探针A、B、C、D分别移动至坐标位置（x1，y1），（x2，y2），（x3，y3），（x4，y4），使得移动后的探针A、B、C、D分别与测试点a、b、c、d对准及准确连接。步骤S05，设定每个测试点上电信号需要测量的检测参数及各检测参数的标准值。如图4所示，工程师设定被测主板的各测试点上电信号需要测量的各种检测参数（如电压峰值、电压最小值、上电信号上升时间、下降时间等）及各检测参数对应的标准值。步骤S06，模式保存。将被测主板型号、导入的PCB图及时序标准参数、设定的各检测参数及对应的标准值、各探针与各测试点建本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种主板时序测量装置，其特征在于，该装置包括：固定单元，用于根据主板形状大小，将被测主板固定在合适的测量区域；输入设备，用于提供一个输入接口，导入被测主板的PCB图和时序标准参数，输入被测主板各测试点上电信号的各检测参数及各参数对应的标准值；探针面板，包括有限多个探针和连动控制单元，用于根据PCB图中被测主板的原点和各测试点的坐标位置，红外校准探针面板和被测主板的原点位置，并将各探针对准连接各测试点；信号采集面板，用于通过探针采集被测主板的各测试点上电信号的时序及各检测参数的测量值；处理器，用于执行程序指令代码以控制该装置各元件的协同工作，及根据信号采集面板采集的信号，排查各测试点中是否有故障点；存储器，用于存储所述程序指令代码及用户设定的各类参数。

【技术特征摘要】
1.一种主板时序测量装置，其特征在于，该装置包括：
固定单元，用于根据主板形状大小，将被测主板固定在合适的测
量区域；
输入设备，用于提供一个输入接口，导入被测主板的PCB图和时
序标准参数，输入被测主板各测试点上电信号的各检测参数及各参数
对应的标准值；
探针面板，包括有限多个探针和连动控制单元，用于根据PCB图
中被测主板的原点和各测试点的坐标位置，红外校准探针面板和被测
主板的原点位置，并将各探针对准连接各测试点；
信号采集面板，用于通过探针采集被测主板的各测试点上电信号
的时序及各检测参数的测量值；
处理器，用于执行程序指令代码以控制该装置各元件的协同工作，
及根据信号采集面板采集的信号，排查各测试点中是否有故障点；
存储器，用于存储所述程序指令代码及用户设定的各类参数。
2.如权利要1所述的主板时序测量装置，其特征在于，所述探针
面板具体用于：
连动控制单元根据PCB图中被测主板原点坐标位置，控制探针面
板移动，红外校准探针面板的原点坐标位置及主板的原点坐标位置，
使得两个原点坐标位置相对应；
连动控制单元根据从输入设备接收的探针移动命令及PCB图中
各测试点的坐标位置，分别控制移动各探针与各测试点对准并连接。
3.如权利要求1所述的主板时序测量装置，其特征在于，所述存
储器还用于保存被测主板的型号、导入的该被测主板的PCB图和时序
标准参数、各测试点上电信号的各检测参数和各参数对应的标准值、
及各探针与各测试点建立连接的过程，以便后续测量同一型号的主板
时调用。
4.如权利要求1所述的主板时序测量装置，其特征在于，所述处
理器通过执行以下步骤排查故障点：
（a）检查当前测试点上电信号的时序是否正确；
（b）如果该当前测试点上电信号的时序正确，则检测该当前上电
信号的各检测参数的测量值与标准值的差异是否在误差允许范围内；
（c）检查与该当前测试点相邻的下一个测试点上电信号的时序是
否正确；
（d）如果该下一个测试点上电信号的时序正确，则检测该下一个
测试点的上电信号的各检测参数的测量值与标准值的差异是否在误差
允许范围内；
（e）再检查该当前测试点与该下一个测试点上电信号之间的延迟
时间是否在要求内；
（f）以该下一个测试点作为当前测试点，反复执行步骤c至步骤
e，直到所有测试点均检查完毕。
5.如权利要求4所述的主板时序测量装置，其特征在于，该装置
还包括显示屏，用于显示测量过程、输出故障点排查的比较分析...

【专利技术属性】
技术研发人员：李健，王士超，彭文庭，彭一弘，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业武汉有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42