光扫描装置以及图像形成装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供光扫描装置以及图像形成装置。提供即使使出射包含直线偏振光在内的光束的发光元件旋转也能抑制被扫描体表面处的光束的入射光量分布的偏倚的光扫描装置。在按各第1半导体激光器(44a、44b)以及各第2半导体激光器(45a、45b)分别使发光面(81)旋转来调节高度方向(Z)上的发光面(81)的各发光点(82、83)间的距离时，设定使多棱镜(42)的反射面(42a)的反射率分布的偏倚与各反射镜(64a～64d、66a～66d)的反射面的反射率分布的偏倚相抵消那样的发光面(81)的旋转方向，来使感光鼓(13)的表面处的光束的入射光量分布均匀化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用光束来扫描被扫描体的光扫描装置、以及具备其的图像形成装置。
技术介绍
例如，在电子照片方式的图像形成装置中，在使感光体(被扫描体)表面均匀带电后，用光束扫描感光体表面来在感光体表面形成静电潜像，用色调剂将感光体表面的静电潜像显影从而在感光体表面形成色调剂像，将色调剂像从感光体转印到记录用纸。基于光束的感光体表面的扫描由光扫描装置来进行。在该光扫描装置中，具备出射光束的半导体激光器等发光元件、反射光束的多棱镜或多个反射镜、以及使光束偏转的fθ透镜等多个透镜，通过多棱镜、反射镜、以及各透镜等的光学部件将半导体激光器的光束引导到感光体表面，用光束扫描感光体表面来在感光体表面形成静电潜像。在这样的光扫描装置中，在从发光元件出射的光束是直线偏振光的情况下，由于相对于多棱镜或反射镜的反射面而有时光束会较多包含P偏振光分量，并且对应于光束对于反射面的入射角以及反射角，P偏振光的反射率会较大变化，因此在感光体表面处的光束的入射光量分布中有时会产生偏倚。另外，在采用具有出射作为直线偏振光的各个光束的多个发光点的发光元件、即所谓出射多光束(multibeam)的发光元件的情况下，通过使发光元件旋转来调节感光体表面上的各光束的入射间隔，但由于因发光元件的旋转而各光束的直线偏振光的偏振方向(电场的振动方向)发生变化，因此各光束对于多棱镜或反射镜的反射面的P偏振光分量的比例会增大，从而感光体表面处的各光束的入射光量分布的偏倚有时会变得更大。例如，在专利文献1中，使用出射多光束的发光元件，使发光元件旋转来使各光束的直线偏振光的偏振方向变化，使经由光学部件的面的各光束的S偏振光分量与P偏振光分量的比率变化，由此来调节各光束的光量。但是，在此，也由于仅单纯使发光元件旋转，因此光束的直线偏振光的偏振方向发生变化，光束对于光学部件的面的P偏振光分量的比例会增大，从而感光体表面处的光束的入射光量分布的偏倚有时会变得更大。专利文献专利文献1：JP特开2002-311360号公报在如此从发光元件出射的光束是直线偏振光的情况下，由于对应于光束对于多棱镜或反射镜的反射面的入射角以及反射角，而P偏振光的反射率发生较大变化，因此在感光体表面处的光束的入射光量分布中有时会产生偏倚。另外，在使出射多光束的发光元件旋转来调节感光体表面上的各光束的入射间隔、或者如专利文献1那样使发光元件旋转来刻意使光束的直线偏振光的偏振方向变化时，光束对于多棱镜或反射镜的反射面的P偏振光分量增大从而各光束的反射率更大地变化，感光体表面处的光束的入射光量分布的偏倚有时会变得更大。另一方面，这样的感光体表面处的光束的入射光量分布的偏倚能通过发光元件的控制来进行校正，或通过设置使光束透过的玻璃板、对应于光束的扫描方向的位置变更玻璃板的透过率来进行校正。但是，这样的控制或玻璃板都会带来光扫描装置的构造的复杂化以及成本上升。
技术实现思路
为此，本专利技术鉴于上述现有的问题点而提出，目的在于提供即使使出射包含直线偏振光在内的光束的发光元件旋转也能抑制被扫描体表面处的光束的入射光量分布的偏倚的光扫描装置以及图像形成装置。为了解决上述课题，本专利技术的光扫描装置具备：发光元件，具有出射各光束的多个发光点；偏转部，反射所述各光束而使之偏转；以及反射镜，反射经所述偏转部反射而偏转的所述各光束，所述光扫描装置通过经由所述偏转部以及所述反射镜的所述各光束来扫描被扫描体，当将在基于所述各光束的所述被扫描体的扫描期间由所述偏转部偏转的所述各光束的扫描偏转范围区分为所述各光束对于所述偏转部的反射角小的第1偏转范围和所述反射角大的第2偏转范围时，所述反射镜的反射率在反射以所述第2偏转范围进行偏转的所述各光束时大于在反射以所述第1偏转范围进行偏转的所述各光束时。在这样的本专利技术的光扫描装置中，在定义包含对偏转部或反射镜的反射面入射而被反射的光束在内的入射面(与反射面正交的面)时，在光束的偏振方向与入射面垂直的情况下，相对于偏转部或反射镜的反射面，光束仅成为S偏振光分量。另外，在光束的偏振方向相对于入射面倾斜的情况下，相对于偏转部或反射镜的反射面，光束包含S偏振光分量以及P偏振光分量。并且，不管光束对于反射面的入射角以及反射角如何，S偏振光的反射率都大致恒定，另外，P偏振光的反射率对应于光束对于反射面的入射角以及反射角而大幅变化。另外，在第1偏转范围，各光束对于偏转部的反射角变小，另外，在第2偏转范围，各光束对于偏转部的反射角变大。由此，在相对于与偏转部的反射面正交的入射面，光束包含S偏振光分量以及P偏振光分量的情况下，各光束的P偏振光的反射率在反射角小的第1偏转范围变大，在反射角大的第2偏转范围变小。另外，各光束的S偏振光的反射率在第1以及第2偏转范围的任一者中都成为大致恒定。因此，在偏转部的各光束的反射率在第1偏转范围变大，在第2偏转范围变小。另一方面，在本专利技术的光扫描装置中，设定各光束的偏振方向，使得反射镜的反射率在反射以第2偏转范围进行偏转的各光束时大于在反射以第1偏转范围进行偏转的各光束时。因此，反射镜的各光束的反射率在第1偏转范围变小，在第2偏转范围变大。其结果，偏转部的反射率分布的偏倚与反射镜的反射率分布的偏倚相抵，被扫描体表面上的各光束的入射光量分布变得大致均匀。另外，本专利技术的光扫描装置具备：第1发光元件以及第2发光元件，具有出射各光束的多个发光点；偏转部，反射从所述第1发光元件以及所述第2发光元件出射的各光束而使之偏转；以及各反射镜，反射经所述偏转部反射而偏转的所述各光束，所述光扫描装置配置为将所述第1发光元件以及所述各反射镜中的一个、与所述第2发光元件以及所述各反射镜中的另一个分配在穿过所述偏转部的旋转轴的假想配置中心线的两侧，通过经由所述偏转部以及所述各反射镜的所述各光束来扫描各个被扫描体，在按所述各反射镜分别将在所述各光束进行的所述被扫描体的扫描的期间由所述偏转部偏转的所述各光束的扫描偏转范围区分为所述各光束对于所述偏转部的反射角小的第1偏转范围和所述反射角大的第2偏转范围时，将从所述第1发光元件出射的所述各光束的偏振方向和从所述第2发光元件出射的所述各光束的偏振方向设定为相对于所述偏转部的旋转轴彼此对称，使得对于所述各反射镜的任一者均满足：所述反射镜的反射率在反射以所述第2偏转范围进行偏转的所述各光束时大于在反射以所述第<本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光扫描装置，具备：发光元件，具有出射各光束的多个发光点；偏转部，反射所述各光束而使之偏转；和反射镜，反射经所述偏转部反射而偏转的所述各光束，所述光扫描装置通过经由了所述偏转部以及所述反射镜的所述各光束来扫描被扫描体，当将在基于所述各光束的所述被扫描体的扫描期间由所述偏转部偏转的所述各光束的扫描偏转范围区分为所述各光束对于所述偏转部的反射角小的第1偏转范围和所述反射角大的第2偏转范围时，设定所述各光束的偏振方向，使得：在反射以所述第2偏转范围进行偏转的所述各光束时的所述反射镜的反射率大于在反射以所述第1偏转范围进行偏转的所述各光束时的所述反射镜的反射率。

【技术特征摘要】
2013.06.27 JP 2013-1352621.一种光扫描装置，具备：
发光元件，具有出射各光束的多个发光点；
偏转部，反射所述各光束而使之偏转；和
反射镜，反射经所述偏转部反射而偏转的所述各光束，
所述光扫描装置通过经由了所述偏转部以及所述反射镜的所述各光
束来扫描被扫描体，
当将在基于所述各光束的所述被扫描体的扫描期间由所述偏转部偏
转的所述各光束的扫描偏转范围区分为所述各光束对于所述偏转部的反
射角小的第1偏转范围和所述反射角大的第2偏转范围时，设定所述各光
束的偏振方向，使得：在反射以所述第2偏转范围进行偏转的所述各光束
时的所述反射镜的反射率大于在反射以所述第1偏转范围进行偏转的所述
各光束时的所述反射镜的反射率。
2.一种光扫描装置，具备：
第1发光元件以及第2发光元件，具有出射各光束的多个发光点；
偏转部，反射从所述第1发光元件以及所述第2发光元件出射的各光
束而使之偏转；和
各反射镜，反射经所述偏转部反射而偏转的所述各光束，
所述光扫描装置配置为将所述第1发光元件以及所述各反射镜中的一
个、与所述第2发光元件以及所述各反射镜中的另一个分配在穿过所述偏
转部的旋转轴的假想配置中心线的两侧，通过经由所述偏转部以及所述各
反射镜的所述各光束来扫描各个被扫描体，
在按所述各反射镜分别将在基于所述各光束的所述被扫描体的扫描
期间由所述偏转部偏转的所述各光束的扫描偏转范围区分为所述各光束
对于所述偏转部的反射角小的第1偏转范围和所述反射角大的第2偏转范
围时，将从所述第1发光元件出射的所述各光束的偏振方向和从所述第2
发光元件出射的所述各光束的偏振方向设定为相对于所述偏转部的旋转
轴彼此对称，以使得对于所述各反射镜的任一者均满足：在反射以所述第
2偏转范围进行偏转的所述各光束时的所述反射镜的反射率大于在反射以

\t所述第1偏转范围进行偏转的所述各光束时的所述反射镜的反射率。
3.根据权利要求2所述的光扫描装置，其特征在于，
使从所述第1发光元件出射的所述各光束的偏振方向与从所述第2发
光元件出射的所述各光束的偏振方向相对于所述偏转部的旋转轴彼此反
向地倾斜...

【专利技术属性】
技术研发人员：白井伸弘，元山贵晴，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP