光学耦合透镜及其检测方法技术

一种光学耦合透镜，包括一个主体。该主体包括一个第一表面、一个与该第一表面垂直的第二表面以及一个分别与该第一表面及第二表面呈45度夹角的转折面。该第一表面上形成有至少一个第一透镜，该第一透镜的光轴垂直于该第一表面。该第二表面上形成有至少一个对应于该第一透镜的第二透镜，该第二透镜的光轴垂直于该第二表面。该光学耦合透镜包括两个基准部，每一个该基准部包括一个基准件。每一个该基准件包括一个基准点，该基准点的连线平行于该第一表面以及该第二表面，且该基准点的连线位于该转折面所在的平面上，该基准点的连线用于作为判断该第一透镜与该第二透镜间相对位置关系的基准。本发明专利技术还涉及一种所述光学耦合透镜的检测方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学耦合透镜以及该光学耦合透镜的检测方法。
技术介绍
在光学通讯装置中，一般采用光学耦合透镜将光信号在信号发射/接收元件以及光纤之间耦合。所述耦合透镜将包括一个用于光信号进出的第一表面、一个用于光信号进出的第二表面，以及用于在所述第一表面以及所述第二表面之间偏转光信号的转折面。所述第一表面上形成至少一个第一透镜，所述第二表面形成至少一个对应于所述第一透镜的第二透镜。为确保光讯号的传输效率，所述第一透镜以及所述第二透镜的中心需处于同一预定光路上。现有的光学耦合透镜难以直观的量测所述第一透镜以及所述第二透镜的相对位置，因此一般需将制作完成后的光学耦合透镜设置与具有光信号发射装置以及光信号接收装置的检测设备中透过分析光讯号的传输效率判断所述第一透镜以及所述第二透镜的相对位置是否符合要求，然而，上述方法不仅繁琐而且成本高昂。
技术实现思路
有鉴于此，有必要提供一种能够方便进行对位检测的光学耦合透镜以及该光学耦合透镜的检测方法。一种光学耦合透镜，包括一个主体。所述主体包括一个第一表面、一个与所述第一表面垂直的第二表面以及一个分别与本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学耦合透镜，包括一个主体，所述主体包括一个第一表面、一个与所述第一表面垂直的第二表面以及一个分别与所述第一表面及第二表面呈45度夹角的转折面，所述第一表面上形成有至少一个第一透镜，所述第一透镜的光轴垂直于所述第一表面，所述第二表面上形成有至少一个对应于所述第一透镜的第二透镜，所述第二透镜的光轴垂直于所述第二表面，其特征在于：所述光学耦合透镜包括两个基准部，每一个所述基准部包括一个基准件，每一个所述基准件具有一个基准点，所述基准点的连线平行于所述第一表面以及所述第二表面，且所述基准点的连线位于所述转折面所在的平面上，所述基准点的连线用于作为判断所述第一透镜与所述第二透镜间相对位置关系的基准...

【技术特征摘要】
1.一种光学耦合透镜，包括一个主体，所述主体包括一个第一表面、一个与所述第一表面垂直的第二表面以及一个分别与所述第一表面及第二表面呈45度夹角的转折面，所述第一表面上形成有至少一个第一透镜，所述第一透镜的光轴垂直于所述第一表面，所述第二表面上形成有至少一个对应于所述第一透镜的第二透镜，所述第二透镜的光轴垂直于所述第二表面，其特征在于：所述光学耦合透镜包括两个基准部，每一个所述基准部包括一个基准件，每一个所述基准件具有一个基准点，所述基准点的连线平行于所述第一表面以及所述第二表面，且所述基准点的连线位于所述转折面所在的平面上，所述基准点的连线用于作为判断所述第一透镜与所述第二透镜间相对位置关系的基准。
2.如权利要求1所述的光学耦合透镜，其特征在于：所述主体包括一个第一端面以及一个与所述第一端面相背的第二端面，所述基准件分别设置于所述主体的第一端面及第二端面侧。
3.如权利要求2所述的光学耦合透镜，其特征在于：所述第一端面与所述第二端面相互平行，且均垂直与所述第一表面、第二表面及转折面。
4.如权利要求1所述的光学耦合透镜，其特征在于：所述基准件为球形，所述基准点为对应基准件的球心。
5.如权利要求1所述的光学耦合透镜，其特征在于：每一个所述基准部包括两个分别对应于所述基...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪毅，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44