用于测定电子装置的环境温度的方法和系统制造方法及图纸

一种用于测定电子装置的环境温度的方法，所述装置包括：定位于共用壳体(101)内的发热部件(102)和温度传感器(105)，所述方法包括以下步骤：在具有受控环境温度的环境中：测定(307)第一功率模式(Emin)与第二功率模式(Emax)之间的功率耗散变化的装置特定系数(a)，其中在所述第二功率模式(Emax)中，所述装置比在所述第一功率模式(Emin)中耗散更多功率；以及在将要测定所述环境温度的环境中：通过用于所述第一功率模式(Emin)和所述第二功率模式(Emax)的温度传感器(105)测量(203-205)温度(Tmin,Tmax)，根据所测量的温度(Tmin,Tmax)和功率耗散变化的所述装置特定系数(a)计算(206)环境温度(Tamb)。

【技术实现步骤摘要】
用于测定电子装置的环境温度的方法和系统
本专利技术涉及测定电子装置的环境温度。
技术介绍
电子装置通常被设计成在通过可容许湿度和温度范围所界定的特定环境条件下操作，所述范围对于期望操作所述装置的给定地理区域来说通常是正常的。例如，可能期望在+5至+35摄氏度的温度范围内操作装置。这个范围对于家庭内部来说通常为正常的。然而，在终端用户住宅房屋处，装置可能常常被无意地放置在条件超过容许温度范围的环境中。例如，DVD播放器或机顶盒可能放置在遭受日照的密闭橱柜中。在那些条件下，考虑到由装置本身产生的热量和日照热量，所述装置的环境大气将可能超过容许温度。这可能导致由过热引起的装置故障。此外，即使环境温度在容许限度内，但装置安装不当时，所述装置仍可能过热，例如，由于在装置顶部上铺放报纸而遮盖装置壳体处的通气口从而引起装置的热阻增加的情况。因此希望监控电子装置的环境温度，以便例如当温度超过容许范围时，引起装置自动断电或存储数据以达维修目的。希望进一步监控电子装置的热阻变化。环境温度可通过定位在装置外部壳体处的专用温度传感器来监控。例如，US8374730提出用于动态地预算功率使用来控制数据处理系统中的温度的方法和设备。所述系统包括：第一传感器，其测定数据处理系统所处环境的环境温度；连接到所述传感器的控制器，其根据环境温度控制数据处理系统的操作；以及第二传感器，其测定数据处理系统的部件的实际温度。同样，US6754607提出用于控制设备的故障诊断方法，所述设备包括：第一传感器，其用于检测控制设备的内部温度；第二传感器，其用于检测控制设备的外部温度；以及内部存储介质，其用于存储在控制设备内部已创建的信息。这种专用环境温度传感器增加了装置的成本和复杂性。
技术实现思路
本专利技术的目的是一种用于测定电子装置的环境温度的方法，所述装置包括：定位于共用壳体内的发热部件和温度传感器，所述方法包括以下步骤：在具有受控环境温度的环境中：测定第一功率模式(Emin)与第二功率模式(Emax)之间的功率耗散变化的装置特定系数(a)，其中在所述第二功率模式(Emax)中，所述装置比在所述第一功率模式(Emin)中耗散更多功率；以及在将要测定环境温度的环境中：通过用于所述第一功率模式(Emin)和所述第二功率模式(Emax)的温度传感器测量温度(Tmin,Tmax)，根据所测量的温度(Tmin,Tmax)和功率耗散变化的所述装置特定系数(a)来计算环境温度(Tamb)。优选地，所述方法进一步包括以下步骤：将所测定的环境温度(Tamb)与最大容许环境温度(Tambmax)相比较，并且在所测定的环境温度(Tamb)高于所述最大容许环境温度(Tambmax)的情况下发出报警。优选地，所述方法进一步包括以下步骤：在具有所述受控环境温度的所述环境中：测定所述装置与装置环境之间的热阻(R)和所述第一功率模式(Emin)中的功率耗散(Pmin)的装置特定乘积(R*Pmin)，以及在将要测定所述环境温度的所述环境中：根据所测量的温度(Tmin,Tmax)和装置特定乘积(R*Pmin)来测定装置-装置环境热阻变化的系数(b)。优选地，所述方法进一步包括以下步骤：在所计算的热阻系数(b)超过值1的情况下，发出报警。本专利技术的另一目的是一种计算机程序以及一种计算机可读介质，所述计算机程序包括当所述程序在计算机上运行时用于执行根据本专利技术的所述方法的所有步骤的程序代码装置，所述计算机可读介质存储计算机可执行指令，所述计算机可执行指令在计算机上执行时执行根据本专利技术的所述方法的所有步骤。本专利技术的目的还是一种电子装置，其包括定位于共用壳体内的发热部件和温度传感器，所述装置进一步包括：非易失性存储器，其被配置来存储第一功率模式(Emin)与第二功率模式(Emax)之间的功率耗散变化的装置特定系数(a)，其中在所述第二功率模式(Emax)中，所述装置比在所述第一功率模式(Emin)中耗散更多功率；以及控制器，其被配置来通过以下测定所述环境温度：通过用于所述第一功率模式(Emin)和所述第二功率模式(Emax)的温度传感器测量温度(Tmin,Tmax)，根据所测量的温度(Tmin,Tmax)和从所述非易失性存储器读取的功率耗散变化的所述装置特定系数(a)来计算所述环境温度(Tamb)。优选地，所述控制器被进一步配置来将所测定的环境温度(Tamb)与最大容许环境温度(Tambmax)相比较，并且在所测定的环境温度(Tamb)高于所述最大容许环境温度(Tambmax)的情况下发出报警。优选地，所述非易失性存储器被进一步配置来存储所述装置与装置环境之间的热阻(R)和所述第一功率模式(Emin)中的功率耗散(Pmin)的装置特定乘积(R*Pmin)；以及所述控制器被进一步配置来通过根据所测量的温度(Tmin,Tmax)和装置特定乘积(R*Pmin)测定装置-装置环境热阻变化的系数(b)来检测装置-装置环境热阻变化的系数。优选地，所述控制器被进一步配置来在所计算的热阻系数(b)超过值1的情况下，发出报警。本专利技术利用装置壳体内部的单一传感器来测定环境温度和热阻变化。这简化了电子装置的设计并允许使用通常用于所述装置中的传感器之一，而无需将专用环境温度传感器安装在装置壳体外部。附图说明本专利技术借助于附图上的示例性实施方案示出，其中：图1呈现其中可应用本专利技术的典型电子装置的示意图；图2呈现用于测定环境温度的方法；图3呈现用于测定装置特定参数的方法。具体实施方式图1呈现可应用本专利技术的典型电子装置的示意图。装置具有壳体101，发热部件102安装在所述壳体中。典型的发热部件102包括数据处理器、信号放大器或电源。控制器104用来通过分析温度传感器105的性质并且根据图2示出的过程操作功率产生部件来测定温度。功率产生部件可通过功率模式调节器103控制，所述功率模式调节器被配置来设置装置以便在特定功率模式下操作，所述特定功率模式诸如有源(包括最大功率耗散模式)、无源、关闭或备用模式。控制器104包括非易失性存储器111，其用于存储装置特定参数：功率耗散变化系数(a)、装置与装置的环境之间的热阻(R)和功率耗散(Pmin)的乘积(R*Pmin)以及最大容许环境温度(Tambmax)。控制器104进一步包括操作寄存器112，其用于存储测量数据：所测量的温度(Tmin,Tmax)和所计算的系数：装置-装置环境热阻变化的系数(b)和所测定的环境温度(Tamb)。以下是本专利技术方法的理论介绍。在称为Emin的无源模式中，以下关系出现在Emin模式中：(1)Tmin＝TambEmin+Rmin*Pmin其中：Tmin–在Emin模式中由温度传感器105所指示的温度，TambEmin–Emin模式中的装置环境温度，Rmin–Emin模式中的装置-装置环境热阻，Pmin–Emin模式中所耗散的功率。在装置比Emin模式中消耗更多功率的称为Emax的较高功率消耗模式中，出现以下关系：(2)Tmax＝TambEmax+Rmax*Pmax其中：Tmax–在Emax模式中由温度传感器105所指示的温度，TambEmax–Emax模式中的装置环境温度，Rmax–Emax模式中的装置-装置环境热阻，Pmax–Emax模式中所耗散的功率本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测定电子装置的环境温度的方法，所述装置包括：定位于共用壳体(101)内的发热部件(102)和温度传感器(105)，所述方法包括以下步骤：‑在具有受控环境温度的环境中：‑测定(307)第一功率模式(Emin)与第二功率模式(Emax)之间的功率耗散变化的装置特定系数(a)，其中在所述第二功率模式(Emax)中，所述装置比在所述第一功率模式(Emin)中耗散更多功率，‑在将要测定所述环境温度的环境中：‑通过用于所述第一功率模式(Emin)和所述第二功率模式(Emax)的温度传感器(105)测量(203‑205)温度(Tmin,Tmax)，‑根据所测量的温度(Tmin,Tmax)和功率耗散变化的所述装置特定系数(a)计算(206)环境温度(Tamb)。

【技术特征摘要】
2013.06.24 EP 13173355.21.一种用于测定电子装置的环境温度的方法，所述电子装置包括：定位于共用壳体(101)内的发热部件(102)和温度传感器(105)，其特征在于，所述方法包括以下步骤：-在具有受控恒定环境温度Tambl的环境中：-测定第一功率模式Emin与第二功率模式Emax之间的功率耗散变化的装置特定系数a，其中在所述第二功率模式Emax中，所述电子装置比在所述第一功率模式Emin中耗散更多功率，采用如下方程计算装置特定系数a：其中Tminl是在环境中的所述第一功率模式Emin中被所述温度传感器(105)所指示的温度以及Tmaxl是在环境中的所述第二功率模式Emax中被所述温度传感器(105)所指示的温度；-在所述电子装置的非易失性存储器(111)中存储所述功率耗散变化的装置特定系数a；-在将要测定环境温度的环境中：-通过用于所述第一功率模式Emin和所述第二功率模式Emax的温度传感器(105)测量温度Tmin,Tmax，-根据所测量的温度Tmin,Tmax和功率耗散变化的所述电子装置特定系数a计算所述环境温度Tamb，方程如下：2.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括以下步骤：将所测定的环境温度Tamb与最大容许环境温度Tambmax相比较，并且在所测定的环境温度Tamb高于所述最大容许环境温度Tambmax的情况下发出报警。3.根据权利要求1或2所述的方法，其进一步包括以下步骤：-在具有所述受控恒定环境温度的所述环境中：-测定所述电子装置与装置环境之间的热阻R和所述第一功率模式Emin中的功率耗散Pmin的装置特定乘积R*Pmin，-在将要测定所述环境温度的所述环境中：-根据所测量的温度Tmin,Tmax和装置特定乘积R*Pmin测定装置-装置环境热阻变化的系数b，方程如下：。4.根据权利要求3所述的方法，其进一步包括步骤：在所计算的热阻系数b超过值1的...

【专利技术属性】
技术研发人员：沃达尔奇克·米罗斯瓦夫，派斯克德奇·彼得，
申请(专利权)人：远升科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：瑞士;CH