【技术实现步骤摘要】
TFT液晶面板的物理性质测量方法及TFT液晶面板的物理性质测量装置本申请是申请号为200880003082.8,国际申请日为2008年1月16日,专利技术名称为“TFT液晶面板的物理性质测量方法及TFT液晶面板的物理性质测量装置”的PCT申请的分案申请。
本专利技术涉及TFT液晶面板的物理性质(physicalproperty)测量方法以及TFT液晶面板的物理性质测量装置。
技术介绍
以往,就TFT(薄膜晶体管)液晶面板而言,在其电路构成方面,很难测量该TFT液晶面板中的液晶层的各种物理性质。所以,对于液晶层中所含的杂质离子的离子密度测量或电压保持率等各种物理性质的测量,通常来说是在具有TFT的实际的产品(TFT液晶面板)之外,另行制作不具有TFT的测试用液晶单元,使用该测试用液晶单元的材料评价来替代。但是,利用测试用液晶单元中的各种物理性质测量得到的测量结果当然与作为实际产品的TFT液晶面板中的各种物理性质不同。另外,还会产生在实际的产品之外另行制作测试用液晶单元的额外的成本。此外,自不用说无法测量实际的产品的各种物理性质,同时也无法测量可以在实际的产品中产生的次品的各种物理性质。根据此种情况,作为用于测量TFT液晶面板的电压保持率的技术,例如在日本特开2001-264805号公报中公开有如下所示的技术。即,根据日本特开2001-264805号公报中所公开的技术,在TFT的驱动时测量液晶面板的透过光强度的时间变化,使用电压-透过率特性曲线,将上述所测量出的透过光强度换算为电压,求出上述电压伴随着上述透过光强度的时间变化的衰减值,求出TFT液晶面板的电压保 ...
【技术保护点】
一种TFT液晶面板的物理性质测量方法,是TFT液晶面板(4,400)的物理性质测量方法,其特征在于,具有:对所述TFT液晶面板(4,400)中的TFT(4A,400A)的栅极电极(41A、410A)施加规定值的电压的步骤(步骤S21、步骤S31);向所述TFT液晶面板(4,400)中的液晶层(4B,400B)中写入脉冲电压,且将所述TFT(4A,400A)的源极电极(42A,420A)的电位保持为地电平的步骤(步骤S22、步骤S32);检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层(4B,400B)的电位的变化而测量所述液晶层(4B,400B)中的电压保持率的步骤(步骤S23、步骤S33),所述液晶层(4B、400B)中的液晶分子被电场驱动,该电场由利用所述TFT(4A,400A)驱动的像素电极(4D,400D)、与该像素电极(4D,400D)对应地设置的共用电极(4C、400C)形成,对所述共用电极施加脉冲电压。
【技术特征摘要】
2007.01.25 JP 2007-0152231.一种TFT液晶面板的物理性质测量方法,是TFT液晶面板(4,400)的物理性质测量方法,其特征在于,具有:对所述TFT液晶面板(4,400)中的TFT(4A,400A)的栅极(41A、410A)施加规定值的电压的步骤(步骤S21、步骤S31);向所述TFT液晶面板(4,400)中的液晶层(4B,400B)中写入脉冲电压,且将所述TFT(4A,400A)的源极(42A,420A)的电位保持为地电平的步骤(步骤S22、步骤S32);检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层(4B,400B)的电位的变化而测量所述液晶层(4B,400B)中的电压保持率的步骤(步骤S23、步骤S33),所述液晶层(4B、400B)中的液晶分子被电场驱动,该电场由利用所述TFT(4A,400A)驱动的像素电极(4D,400D)、与该像素电极(4D,400D)对应地设置的共用电极(4C、400C)形成,对所述共用电极施加脉冲电压。2.根据权利要求1所述的TFT液晶面板的物理性质测量方法,其特征在于,所述规定值的电压是将所述TFT(4A,400A)中的源极-漏极间的阻抗值设定为所述TFT中的源极(42A,420A)-漏极(43A,430A)间可以通电的值的电压。3.一种TFT液晶面板的物理性质测量方法,是TFT液晶面板(4,400)的物理性质测量方法,其特征在于,具有:对所述TFT液晶面板(4,400)中的TFT(4A,400A)的栅极(41A、410A)施加规定值的电压的步骤(步骤S21、步骤S31);向所述TFT液晶面板(4,400)中的液晶层(4B,400B)及与该液晶层(4B,400B)并联电连接的辅助电容(4E)中写入脉冲电压,且将所述TFT(4A,400A)的源极(42A,420A)的电位保持为地电平的步骤(步骤S22、步骤S32);检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层(4B,400B)和所述辅助电容(4E)的合成后的电位的变化,测量所述液晶层(4B,400B)和所述辅助电容(4E)的合成后的电压保持率的步骤(步骤S23、步骤S33),所述液晶层(4B、400B)中的液晶分子被电场驱动,该电场由利用所述TFT(4A,400A)驱动的像素电极(4D,400D)、与该像素电极(4D,400D)对应地设置的共用电极(4C、400C)形成,对所述共用电极施加脉冲电压。4.一种TFT液晶面板的物理性质测量装置,是TFT液晶面板(4,400)的物理性质测量装置,其特征在于,具有:脉冲电压施加电路(3...
【专利技术属性】
技术研发人员:井上胜,佐佐木邦彦,栗原直,久米康仁,
申请(专利权)人:东阳特克尼卡株式会社,夏普株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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