一种ICT测试用双面掀开机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种ICT测试用双面掀开机构，包括载板及设置于载板上方的压板，其特征在于：所述载板的四个端部分别固定设有垫块，所述压板的四个端部分别向外延伸设有耳板，所述耳板上贯穿设有螺栓，与所述螺栓配合在所述垫块上开设有可供所述螺栓转动用的卡槽，所述载板与所述压板间经可伸缩结构连接。本实用新型专利技术的ICT测试机构可双面掀开，使用方便，提高了测试效率。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种ICT测试用双面掀开机构，包括载板及设置于载板上方的压板，其特征在于：所述载板的四个端部分别固定设有垫块，所述压板的四个端部分别向外延伸设有耳板，所述耳板上贯穿设有螺栓，与所述螺栓配合在所述垫块上开设有可供所述螺栓转动用的卡槽，所述载板与所述压板间经可伸缩结构连接。本技术的ICT测试机构可双面掀开，使用方便，提高了测试效率。【专利说明】一种ICT测试用双面掀开机构
本技术涉及一种ICT测试机构，具体涉及一种ICT测试用双面掀开机构。
技术介绍
ICT即在线测试仪，英文全称为In Circuit Test，是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检测生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段，它主要检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。 ICT检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况，能够定量的对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光耦、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、m本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ICT测试用双面掀开机构，包括载板(1)及设置于载板(1)上方的压板(2)，其特征在于：所述载板(1)的四个端部分别固定设有垫块(3)，所述压板(2)的四个端部分别向外延伸设有耳板(4)，所述耳板(4)上贯穿设有螺栓(5)，与所述螺栓(5)配合在所述垫块(3)上开设有可供所述螺栓(5)转动用的卡槽(6)，所述载板与所述压板间经可伸缩结构连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：庄隽，
申请(专利权)人：昆山满乾电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32