一种自电容式触摸屏的重压处理方法、系统技术方案

本发明专利技术属于触摸屏技术领域，提供了一种自电容式触摸屏的重压处理方法、系统。本发明专利技术提供的自电容式触摸屏的重压处理方法及系统是利用一阈值关系式对现有的触摸阈值进行了修正，该阈值关系式将触摸阈值，以及与电容变化量最大的通道相邻的两个通道中、较小的变化量作为变量，若最大值不大于阈值关系式的值，则将引起当前变化量的点作为假点滤除。该方法由于考虑了压力引起的形变所导致的自电容的变化，因而可更加准确的识别出真实的触摸点，保证了触摸应用的正确执行，并提高了用户体验性。

【技术实现步骤摘要】
一种自电容式触摸屏的重压处理方法、系统
本专利技术属于触摸屏
，尤其涉及一种具有单层导电电极结构的自电容式触摸屏的重压处理方法、系统。
技术介绍
当前，电容式触摸屏以其高可靠性和耐用性而被广泛应用在各类电子设备中，图1示出了自电容式触摸屏的典型结构。如图1所示，自电容式触摸屏一般包括：具有表面硬度的盖板、感应用户触发状态的导电电极、以及贴合在盖板和导电电极之间的贴合层；其中的导电电极是单层或多层膜结构，是在玻璃或薄膜材料表面，用导电材料制成横向或纵向的电极阵列，导电电极与地之间形成自电容Cp。其工作原理是：当手指触摸盖板时，人体等效为大地，手指与导电电极之间形成电容Cf，电容Cf与自电容Cp并联，使得导电电极中相应通道的感应电容增加；电容式感应芯片实时采集各通道的感应电容，当感应电容相对自电容Cp的变化量大于触摸阈值时，则认为存在触摸，之后根据触点区域各通道的变化量的比例关系，计算得到触点坐标，之后将触点坐标输出给主处理器，由主处理器执行触摸应用。但在实际应用中，自电容式触摸屏本身会由于压力原因而存在一定的形变，使得导电电极与地之间的距离缩小。该形变引起的自电容Cp变化量为△Cp，则电容式感应芯片实际检测到的感应电容相对自电容Cp的变化量为△Cp+Cf。现有技术均忽略了自电容变化量△Cp对触摸点识别结果的影响，而对于无触摸区域，若变化量△Cp大于触摸阈值，则电容式感应芯片会识别该区域存在触摸，出现假点，造成触摸点识别不准确、影响触摸应用的正确执行，降低了用户的体验效果。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种自电容式触摸屏的重压处理方法，旨在解决现有技术由于忽略了自电容变化量对触摸点识别结果的影响，导致在无触摸区域有可能识别到触摸而出现假点，影响触摸应用正确执行，降低用户体验性的问题。本专利技术实施例是这样实现的，一种自电容式触摸屏的重压处理方法，所述方法包括：检测单层导电电极中、各通道的感应电容相对自电容的变化量；提取各通道的所述变化量中的最大值，以及与所述最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量，之后计算阈值关系式的值，所述阈值关系式将触摸阈值，以及与所述最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量中、较小的变化量作为变量；若所述最大值不大于所述阈值关系式的值，则识别引起当前变化量的点为假点并滤除所述假点。本专利技术实施例的另一目的在于提供一种自电容式触摸屏的重压处理系统，所述系统包括：检测模块，用于检测单层导电电极中、各通道的感应电容相对自电容的变化量；第一计算模块，用于提取各通道的所述变化量中的最大值，以及与所述最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量，之后计算阈值关系式的值，所述阈值关系式将触摸阈值，以及与所述最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量中、较小的变化量作为变量；第一识别模块，用于当所述第一计算模块提取的所述最大值不大于所述第一计算模块计算得到的所述阈值关系式的值时，识别引起当前变化量的点为假点并滤除所述假点。本专利技术实施例的另一目的在于提供一种电容式感应芯片，所述电容式感应芯片连接单层导电电极和主处理器，所述电容式感应芯片包括如上所述的自电容式触摸屏的重压处理系统。本专利技术实施例提供的自电容式触摸屏的重压处理方法及系统是利用一阈值关系式对现有的触摸阈值进行了修正，该阈值关系式将触摸阈值，以及与电容变化量最大的通道相邻的两个通道中、较小的变化量作为变量，若最大值不大于阈值关系式的值，则将引起当前变化量的点作为假点滤除。该方法由于考虑了压力引起的形变所导致的自电容的变化，因而可更加准确的识别出真实的触摸点，保证了触摸应用的正确执行，并提高了用户体验性。附图说明图1是现有技术提供的自电容式触摸屏的典型结构图；图2是本专利技术实施例一提供的自电容式触摸屏的重压处理方法的流程图；图3是本专利技术实施例二提供的自电容式触摸屏的重压处理方法的流程图；图4是本专利技术实施例二中，计算与触摸无关的压力值的详细流程图；图5是本专利技术实施例二中，对当前触摸点的原始坐标值进行偏移补偿的详细流程图；图6是本专利技术中，两列横三角图案的单层导电电极在发生触摸时，出现坐标偏移的示意图；图7A是现有技术中，具有两列竖三角图案的单层导电电极的示意图；图7B是现有技术中，具有四列竖三角图案的单层导电电极的示意图；图8是本专利技术实施例三提供的自电容式触摸屏的重压处理系统的结构图；图9是本专利技术实施例四提供的自电容式触摸屏的重压处理系统的结构图；图10是图9中，第三计算模块的结构图；图11是图9中，偏移补偿模块的结构图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。针对现有技术存在的问题，本专利技术提供的自电容式触摸屏的重压处理方法及系统是利用一阈值关系式对现有的触摸阈值进行了修正，该阈值关系式将触摸阈值，以及与电容变化量最大的通道相邻的两个通道中、较小的变化量作为变量。以下结合实施例详细说明本专利技术的实现方式：实施例一本专利技术实施例一提供了一种自电容式触摸屏的重压处理方法，如图2所示，包括：步骤S1：检测单层导电电极中、各通道的感应电容相对自电容的变化量。步骤S2：提取各通道的变化量中的最大值，以及与该最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量，之后计算阈值关系式的值，该阈值关系式将触摸阈值，以及与该最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量中、较小的变化量作为变量。进一步地，该阈值关系式可表示为：Diff_ref×Ratio+Q，其中，Diff_ref表示与该最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量中、较小的变化量，Ratio表示一比例系数，Q表示触摸阈值，且比例系数Ratio可根据实际系统进行微调。步骤S3：若该最大值不大于阈值关系式的值，则识别引起当前变化量的点为假点并滤除该假点。本专利技术实施例一中，滤除该假点是指并不计算引起当前变化量的点的坐标，或者不输出引起当前变化量的点的坐标，或者不以引起当前变化量的点的坐标为基础，执行触摸应用。本专利技术实施例一提供的自电容式触摸屏的重压处理方法是利用一阈值关系式对现有的触摸阈值进行了修正，该阈值关系式将触摸阈值，以及与电容变化量最大的通道相邻的两个通道中、较小的变化量作为变量，若最大值不大于阈值关系式的值，则将引起当前变化量的点作为假点滤除。该方法由于考虑了压力引起的形变所导致的自电容Cp的变化，因而可更加准确的识别出真实的触摸点，保证了触摸应用的正确执行，并提高了用户体验性。实施例二本专利技术实施例二提供了一种自电容式触摸屏的重压处理方法，如图3所示。与实施例一不同，实施例二在实施例一的基础上，在步骤S3之后，还包括：步骤S4：若该最大值大于阈值关系式的值，则识别引起当前变化量的点为真实的触摸点。步骤S5：计算当前触摸点的原始坐标值。步骤S6：根据各通道的变化量，计算每一与触摸无关的通道上、与触摸无关的压力值。进一步地，如图4所示，步骤S6又可以包括：步骤S61：计算各通道的变化量之和，得到第一总和值。步骤S62：计算各通道的变化量中的最大值、以及与该最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量之和，得到第二总和值。步骤S63：计算第一总和值与第二总和值之差，得到与触摸无关的压力总值。步骤S本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自电容式触摸屏的重压处理方法，其特征在于，所述方法包括：检测单层导电电极中、各通道的感应电容相对自电容的变化量；提取各通道的所述变化量中的最大值，以及与所述最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量，之后计算阈值关系式的值，所述阈值关系式将触摸阈值，以及与所述最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量中、较小的变化量作为变量；若所述最大值不大于所述阈值关系式的值，则识别引起当前变化量的点为假点并滤除所述假点。

【技术特征摘要】
1.一种自电容式触摸屏的重压处理方法，其特征在于，所述方法包括：检测单层导电电极中、各通道的感应电容相对自电容的变化量；提取各通道的所述变化量中的最大值，以及与所述最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量，之后计算阈值关系式的值，所述阈值关系式将触摸阈值，以及与所述最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量中较小的变化量作为变量；若所述最大值不大于所述阈值关系式的值，则识别引起当前变化量的点为假点并滤除所述假点。2.如权利要求1所述的自电容式触摸屏的重压处理方法，其特征在于，所述阈值关系式表示为：Diff_ref×Ratio+Q其中，所述Diff_ref表示与所述最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量中较小的变化量，所述Ratio表示一比例系数，所述Q表示触摸阈值。3.如权利要求1或2所述的自电容式触摸屏的重压处理方法，其特征在于，在所述识别引起当前变化量的点为假点并滤除所述假点的步骤之后，所述方法还包括：若所述最大值大于阈值关系式的值，则识别引起当前变化量的点为真实的触摸点；计算当前所述触摸点的原始坐标值；根据各通道的所述变化量，计算每一与触摸无关的通道上与触摸无关的压力值；根据所述压力值、水平分辨率和垂直分辨率，对当前所述触摸点的所述原始坐标值进行偏移补偿，得到当前所述触摸点的实际坐标值。4.如权利要求3所述的自电容式触摸屏的重压处理方法，其特征在于，所述根据各通道的所述变化量，计算每一与触摸无关的通道上与触摸无关的压力值的步骤包括：计算各通道的所述变化量之和，得到第一总和值；计算各通道的所述变化量中的最大值、以及与所述最大值对应的通道相邻的两个通道的变化量之和，得到第二总和值；计算所述第一总和值与所述第二总和值之差，得到与触摸无关的压力总值；计算除所述最大值对应的通道及其相邻两个通道之外的其它通道的数量；将所述与触摸无关的压力总值除以所述其它通道的数量，得到每一与触摸无关的通道上与触摸无关的压力值。5.如权利要求3所述的自电容式触摸屏的重压处理方法，其特征在于，所述根据所述压力值、水平分辨率和垂直分辨率，对当前所述触摸点的所述原始坐标值进行偏移补偿，得到当前所述触摸点的实际坐标值的步骤包括：根据水平分辨率和原始坐标值的横坐标，计算引起偏移的水平位置因子；根据垂直分辨率和原始坐标值的纵坐标，计算引起偏移的垂直位置因子；计算所述水平位置因子、所述垂直位置因子与所述压力值的乘积，之后除以一常数，得到偏移量；利用所述偏移量，对所述原始坐标值进行偏移补偿，得到当前所述触摸点的实际坐标值。6.如权利要求5所述的自电容式触摸屏的重压处理方法，其特征在于，所述单层导电电极具有两列横三角图案；所述水平位置因子Cx满足：Cx＝|X0-Xmax/2|，所述X0为所述原始坐标值中的原始横坐标，所述Xmax为所述水平分辨率；所述垂直位置因子Cy满足：Cy＝Ymax/2-|Y0-Ymax/2|，所述Y0为所述原始坐标值中的原始纵坐标，所述Ymax为...

【专利技术属性】
技术研发人员：林建军，龙文勇，赵志亮，刘卫平，
申请(专利权)人：敦泰科技有限公司，
类型：发明
国别省市：开曼群岛;KY