【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及可调节式斜孔深度检测装置，包括百分表，基体和测量顶杆；所述基体上端设置有百分表，所述百分表的下部测头伸入到基体内；所述测量顶杆设置于基体中；所述测量顶杆上端与百分表测头相接触，所述测量顶杆的下端为顶杆测头；所述基体上设置有基准块，所述基准块可调节角度，保持基准块底面的角度与待测斜孔顶面的角度一致。本技术可以通过调整基准块的角度和滑块的位置，来检测不同斜度和深度的斜孔，操作过程简单，提高检测效率和精确度。【专利说明】
本技术涉及一种倾斜角度和测量深度都可以进行调节的斜孔深度检测装置。 可调节式斜孔深度检测装置
技术介绍
随着科技的发展，对于零件形状的要求也日趋多样化，对于斜孔的测量和检测并 无合适的有效工具，有的普通检具是针对一种类型尺寸斜孔设计，目前，测量斜孔深度多数 采用的常规工具是游标卡尺、深度尺等，对于不同斜度的斜孔的测量和检测操作较复杂，致 使测量效率低，精度也不高。
技术实现思路
本技术目的是为了克服现有技术的不足而提供一种倾斜角度和测量深度都 可以进行调节的斜孔深度检测装置。 为达到上述目的，本技术...
【技术保护点】
可调节式斜孔深度检测装置，包括百分表（1），基体（3）和测量顶杆（4）；所述基体（3）上端设置有百分表（1），所述百分表（1）的下部测头伸入到基体（3）内；所述测量顶杆（4）设置于基体（3）中；所述测量顶杆（4）上端与百分表（1）测头相接触，所述测量顶杆（4）的下端为顶杆测头（5）；其特征在于：所述基体（3）上设置有基准块（6），所述基准块（6）可调节角度，保持基准块（6）底面的角度与待测斜孔顶面的角度一致。
【技术特征摘要】
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