一种实验室使用的天平制造技术

技术编号:10380547 阅读:137 留言:0更新日期:2014-09-04 01:42
本实用新型专利技术涉及一种实验室使用的天平,属于实验仪器技术领域。本实用新型专利技术包括天平臂长调节螺母、天平平衡指示灯、底面反光托盘Ⅰ、底面反光托盘Ⅱ、光纤位移传感器Ⅰ、光纤位移传感器Ⅱ、底座水平调节螺母Ⅰ、底座水平调节螺母Ⅱ、底座水平调节螺母Ⅲ、电压比较器、气泡水平仪Ⅰ、气泡水平仪Ⅱ、底座、电压显示屏Ⅰ、电压显示屏Ⅱ。本实用新型专利技术称量的精度相对较高,天平平衡状态易于判断,操作简单,不易损坏。(*该技术在2024年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
一种实验室使用的天平
本技术涉及一种实验室使用的天平,主要应用于实验室微小物体质量的称量,属于实验仪器

技术介绍
近年来,由于光纤位移传感器的测量精度、不接触待测物等优点,其应用越来越广泛,也被引入到各种测量仪器中。另一方面,电子技术的进一步发展,高分辨率电压比较器越来越普遍,光电结合进行检测备受关注。而在实验室的实验中,无论是物理实验还是在化学实验,都无法避免使用天平对微小物体进行质量的精确测量。通常我们都会选择天平来测量,但是,我们所使用天平大多数属于精密仪器,称量物品是要求质量比较小,且操作复杂,学生在操作过程中容易因为粗心而损坏,同时由于天平的平衡状态依靠机械指针来判断,给学生判断带来不便,在测量过程中带入人为的误差。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是:本技术提供了一种实验室使用的天平,用于解决精密天平易损坏、平衡状态难以判断的技术问题。本技术技术方案是:一种实验室使用的天平,包括天平臂长调节螺母1、天平平衡指示灯2、底面反光托盘I 31、底面反光托盘II 32、光纤位移传感器I 41、光纤位移传感器II 42、底座水平调节螺母I 51、底座水平调本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种实验室使用的天平,其特征在于:包括天平臂长调节螺母(1)、天平平衡指示灯(2)、底面反光托盘Ⅰ(31)、底面反光托盘Ⅱ(32)、光纤位移传感器Ⅰ(41)、光纤位移传感器Ⅱ(42)、底座水平调节螺母Ⅰ(51)、底座水平调节螺母Ⅱ(52)、底座水平调节螺母Ⅲ(53)、电压比较器(6)、气泡水平仪Ⅰ(71)、气泡水平仪Ⅱ(72)、底座(8)、电压显示屏Ⅰ(91)、电压显示屏Ⅱ(92);所述天平臂长调节螺母(1)设在天平横梁的两端,底面反光托盘Ⅰ(31)、底面反光托盘Ⅱ(32)悬挂在天平横梁上,光纤位移传感器Ⅰ(41)和电压显示屏Ⅰ(91)固定在底座(8)的左端,光纤位移传感器Ⅰ(41)位于电压显...

【技术特征摘要】
1.一种实验室使用的天平,其特征在于:包括天平臂长调节螺母(I)、天平平衡指示灯(2)、底面反光托盘I (31)、底面反光托盘II (32)、光纤位移传感器I (41)、光纤位移传感器II (42)、底座水平调节螺母I (51)、底座水平调节螺母II (52)、底座水平调节螺母111(53)、电压比较器(6)、气泡水平仪I (71)、气泡水平仪II (72)、底座(8)、电压显示屏I(91)、电压显示屏II (92);所述天平臂长调节螺母(I)设在天平横梁的两端,底面反光托盘I(31)、底面反光托盘II (32)悬挂在天平横梁上,光纤位移传感器I (41)和电压显示屏I(91)固定在底座(8)的左端,光纤位移传感器I (41)位于电压显示屏I (91)的上面底面反光托盘I (31)的正下方,光纤位移传感器II (42)和电压显示屏II (92)固定在底座(...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘莉娇刘志强
申请(专利权)人:昆明理工大学
类型:新型
国别省市:云南;53

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