测试信息的基于分组的传播制造技术

本发明专利技术提供了一种基于分组的测试能力。该基于分组的测试能力被配置为提供基于分组的JTAG(PJTAG)协议。PJTAG协议是被配置为支持同步JTAG协议的异步协议。PJTAG协议被配置为：在JTAG信号与被配置为传送这些JTAG信号的信息的分组之间转换(例如，在从JTAG域到PJTAG域的接口处，将JTAG信号转换成PJTAG分组；并且在从PJTAG域到JTAG域的接口处，将PJTAG分组转换成JTAG信号)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测试信息的基于分组的传播
本专利技术一般性地涉及测试，并且更具体地但是非排他地涉及控制与测试有关的信息的传播。
技术介绍
联合测试行动组(JTAG)或者电气和电子工程师协会(IEEE)1149.1是用于自动化数字测试的标准。尽管最初主要为了互连测试而开发JTAG，但是它后来演变成为一种用于访问部件并且用于执行其他测试和维护功能的解决方案，并且已经就这一点发展了许多的相关标准和方法。尽管这些标准和方法中的多数标准和方法在其中经由包括扫描寄存器的1149.1电路来访问部件的电路/板空间中是有效的，但是它们对于访问远程部件可能是低效的或者甚至是无效的。
技术实现思路
现有技术中的各种缺陷由用于支持基于分组的JTAG测试的实施例来解决。在一个实施例中，一种装置包括：被配置为接收多个测试信号并且生成一个或多个相关联的测试分组的部件。这些测试信号包括：测试数据信号、测试控制信号、以及测试时钟信号。经由使用该测试时钟信号对该测试数据信号和该测试控制信号的采样而不对该测试时钟信号采样，来生成该一个或多个测试分组，并且该测试时钟信号被表示为该一个或多个测试分组内的位对准信息。在一个实施例中，一种方法包括：本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种装置，包括：部件，所述部件被配置为：接收包括测试数据信号、测试控制信号、以及测试时钟信号的多个测试信号；并且经由使用所述测试时钟信号的对所述测试数据信号和所述测试控制信号的采样而不对所述测试时钟信号采样来生成一个或多个测试分组，其中所述测试时钟信号被表示为所述一个或多个测试分组内的位对准信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.10.07 US 13/267,9591.一种测试装置，包括：部件，所述部件被配置为：经由第一测试域接收测试信号的集合，所述测试信号的集合包括测试数据信号、测试控制信号、以及测试时钟信号，所述测试数据信号运送被配置为被应用于设备从而用于测试该设备的测试数据，所述测试控制信号运送被配置为控制使用所述测试数据的该设备的测试的测试控制信息，其中所述第一测试域包括联合测试行动组(JTAG)测试域，所述测试数据信号是JTAG测试数据输入(TDI)信号或JTAG测试数据输出(TDO)信号，所述测试控制信号是JTAG测试模式状态(TMS)信号，并且所述测试时钟信号是JTAG测试时钟(TCK)信号；基于所述测试信号的集合经由使用所述测试时钟信号的对所述测试数据信号和所述测试控制信号的采样而不对所述测试时钟信号采样来生成测试分组的集合，所述测试分组的集合包括所述测试数据、所述测试控制信息、以及被配置为表示所述测试时钟信号的位对准信息，其中对所述测试数据信号和所述测试控制信号的采样包括在所述测试时钟信号的每个上升沿处对所述测试数据信号的值采样和对所述测试控制信号的值采样；以及朝向第二测试域传播所述测试分组的集合。2.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述测试分组的集合中的至少一个测试分组包括：来自对所述测试数据信号的采样的至少一个值和来自对所述测试控制信号的采样的至少一个值。3.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述测试分组的集合包括：包括来自对所述测试数据信号的采样的所述测试数据的值的一个或多个测试数据分组；以及包括来自对所述测试控制信号的采样的所述测试控制信息的值的一个或多个测试控制分组。4.根据权利要求3所述的测试装置，其中所述部件进一步被配置为：经由测试数据信道来传播所述一个或多个测试数据分组；并且经由测试控制信道来传播所述一个或多个测试控制分组。5.根据权利要求4所述的测试装置，其中所述测试数据信道和所述测试控制信道是分离的逻辑信道或者分离的物理信道。6.根据权利要求1所述的测试装置，其中为了...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·波托兰，
申请(专利权)人：阿尔卡特朗讯，
类型：发明
国别省市：法国;FR