【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提出了一种晶体电阻率测试装置，解决了现有技术中由于施加压力不同，造成测试装置对晶体电阻率测试结果准确性差的问题，一种晶体电阻率测试装置，包括底板、竖直杆和两根横杆，所述竖直杆固定在所述底板上，所述竖直杆的顶端设有销轴；所述第一横杆的一端设有与所述销轴相配合的销孔，另一端固定连接有第一电极；所述竖直杆上固定连接有第二横杆，所述第二横杆连接有第二电极；所述第二电极与所述底板之间设有带有探头的压力测试装置，在电极的底端设有压力测试装置，可以准确控制每次测试施加到晶体样品上的压力大小，使得每次测试压力相同，排除了不同测试人员，不同批次的压力对测试造成的影响，提高测试结果的准确性和重复性。【专利说明】—种晶体电阻率测试装置
本技术涉及材料测试设备
，特别是指一种晶体电阻率测试装置。
技术介绍
现有针对晶体样品电阻和电阻率测试的系统，晶体样品放在两片电极中间夹紧，同时按照向垂直于晶体方向施加一个压力，使两片电极与被测晶体样品两个表面紧密接触，然后在两片电极之间加电压，测试两片电极之间的电压值和电流值，通过计算得到被测晶体样品的电阻值和电阻率...
【技术保护点】
一种晶体电阻率测试装置，包括底板、竖直杆和两根横杆，所述竖直杆固定在所述底板上，其特征在于：所述竖直杆的顶端设有销轴；所述第一横杆的一端设有与所述销轴相配合的销孔，另一端固定连接有第一电极；所述竖直杆上固定连接有第二横杆，所述第二横杆连接有第二电极；所述第二电极与所述底板之间设有带有探头的压力测试装置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：赵海泉，贾玉昌，王世武，
申请(专利权)人：青岛海泰光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37
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