【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】，属于光学测量
。本专利技术是为了解决在铁磁材料磁致伸缩系数的测量过程中，对铁磁材料长度变化量的测量精度低的问题。装置包括待测铁磁材料样品、线性调频激光器、第一平面反射镜、薄玻璃板、第二平面反射镜、会聚透镜、光电探测器、信号处理系统、两个固定棒和激励线圈，方法为使光电探测器开始接收光束信号，数字信号处理器连续采集光电探测器输出的光电流信号，并对采集到的差频信号进行处理，根据频率与距离之间的关系获得薄玻璃板与第二平面反射镜之间的当前距离，再根据磁致伸缩系数的公式，获得待测铁磁材料样品的磁致伸缩系数。本专利技术用于测量磁致伸缩系数。【专利说明】
本专利技术涉及，属于光学测量
。
技术介绍
铁磁质的磁畴在外磁场作用下定向排列，从而引起介质中晶格间距的改变，致使铁磁体发生长度的变化的现象被称为磁致伸缩效应。由于这一现象首先由焦耳于1842年发现，因而也被称为焦耳效应。磁致伸缩不但对材料的磁性有重要的影响，特别是对起始磁导率，矫顽力等有重要影响，而且其效应本身在实际中的应用也很广泛，如:磁致伸缩技术可以用于机械振动和超声波换能器上，在...
【技术保护点】
一种线性调频多光束激光外差二次谐波法测量磁致伸缩系数的装置，它包括待测铁磁材料样品(1)，其特征在于，它还包括线性调频激光器(2)、第一平面反射镜(3)、薄玻璃板(4)、第二平面反射镜(5)、会聚透镜(6)、光电探测器(7)、信号处理系统(8)、两个固定棒(9)和激励线圈(10)，待测铁磁材料样品(1)的两端分别粘接一个固定棒(9)，一个固定棒(9)的自由端采用固定件固定，另一个固定棒(9)的自由端与第二平面反射镜(5)的背面粘接固定；待测铁磁材料样品(1)居中置于激励线圈(10)内；激励线圈(10)采用直流稳压电源供电，直流稳压电源采用滑线变阻器调节输出电流；线性调频激光...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李彦超，甄佳奇，杨九如，冉玲苓，高扬，杨瑞海，杜军，丁群，王春晖，马立峰，于伟波，
申请(专利权)人：黑龙江大学，
类型：发明
国别省市：黑龙江;23
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