用于执行正电子发射断层成像的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于执行对检查对象（102）的正电子发射断层成像的方法（1），其中在将PET示踪剂引入检查对象（102）以后所述方法（1）包括以下方法步骤：S1）执行至少一次功能性磁共振断层成像以确定至少一个可预先给定的脑区（104）的至少一个激活程度；S2）执行正电子发射断层成像；S3）根据至少一个可预先给定的脑区（104）的至少一个激活程度来适配正电子发射断层成像的结果。本发明专利技术另外还描述了一种用于执行检查对象（102）的正电子发射断层成像的装置（100）。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于执行对检查对象（102）的正电子发射断层成像的方法（1），其中，在将正电子发射断层成像示踪剂引入检查对象（102）以后，所述方法（1）包括以下方法步骤：S1）执行至少一次功能性磁共振断层成像以确定至少一个能够预先给定的脑区（104）的至少一个激活程度；S2）执行正电子发射断层成像；S3）根据至少一个能够预先给定的脑区（104）的至少一个激活程度来适配正电子发射断层成像的结果。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：S施密特，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE