【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了，包括步骤一、建立系统的相关性矩阵；步骤二、建立BIT故障字典；步骤三、建立BIT模糊组故障的人工测试相关性矩阵，并生成BIT模糊组故障的人工隔离诊断树；步骤四、建立BIT不可检测故障的人工测试相关性矩阵，并生成BIT不可检测故障的人工检测隔离诊断树；步骤五、综合BIT故障字典、BIT模糊组故障的人工隔离诊断树和BIT不可检测故障的人工检测隔离诊断树，在系统维护检查时进行故障检测与隔离；本专利技术可实现对BIT测试结果的直接使用，以及BIT模糊组故障和不可检测故障的人工测试优选，提高了诊断效率和完整性。【专利说明】
本专利技术涉及，属于测试性
。
技术介绍
测试性建模是目前系统测试性设计分析的一种普遍采用的方法，通过测试性建模可以得到系统的相关性矩阵，进而实现故障检测与隔离能力的定量评价。在相关性矩阵的基础上，通过的直接测试优选可以得到诊断树，利用诊断树提供的诊断步骤可实现系统故障的检测隔离。但在实际应用中，相关性矩阵中通常都包含机内测试(BIT)和人工测试，而机内测试是自动执行的，不受诊断步骤限制，导致利用上述方法获得的诊断树不能全面地利用机内测试的优势给出更高效和更完整的诊断。目前，针对该问题，还没有一种有效的机内测试(BIT)和人工测试综合的故障检测与隔离方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决上述问题，提出，首先利用现有测试性建模方法获得系统的相关性矩阵(D矩阵)，然后将其分解为BIT和人工测试的D矩阵，并建立相应的BIT故障字典和人工测试诊断树，最后综合应用故障字典和诊断树实现对系统的故障检测...
【技术保护点】
一种基于测试性建模数据的故障检测与隔离综合方法，具体包括以下几个步骤：步骤一、建立系统的相关性矩阵；利用系统的故障和测试数据，建立测试性模型并得到相关性矩阵，其表达式如（1）式所示：式中，D表示相关性矩阵；F＝{F1,F2…Fm}表示被测对象的故障集合；BITi表示BIT测试，Mj代表人工测试，BITi/Mi表示该测试为BIT测试或人工测试，dij表明了Fi与BITi和Mj的相关性，即：步骤二、根据得到的相关性矩阵，分解提取BIT相关性矩阵，并建立BIT故障字典；步骤2.1根据步骤一得到D矩阵，从中分解出BIT相关性矩阵D1；具体过程为：把D矩阵中含有BITi的列提取出来构成D1，D矩阵中剩余的部分组成人工测试相关性矩阵D2，D1和D2表达式如下：步骤2.2如果D1有全0行，则删除该行，并将其对应故障Fi组成集合F1(0)，合并矩阵中的模糊组得到矩阵D1(1)，并将D1(1)作为BIT故障字典；步骤三、依据步骤一得到的相关性矩阵，对每个BIT隔离模糊组故障，建立BIT模糊组故障的人工测试相关性矩阵，并生成BIT模糊组故障的人工隔离诊断树；包括以下几个步骤：步骤3.1根据D1(1)得到了...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：石君友，崔巍巍，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：北京;11
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