本实用新型专利技术公开了一种石英晶体谐振器同步强激励检漏装置，包括振盘、强激励机、绝缘电阻测试仪和PLC，振盘的出口端固接有滑行轨道，滑行轨道上依次固接有强激励测试头和检漏测试头，强激励测试头与强激励机电连接，检漏测试头与绝缘电阻测试仪电连接，滑行轨道的一侧设有第一挡针伸缩机构和第三挡针伸缩机构，滑行轨道的另一侧设有第二挡针伸缩机构，强激励测试头上设有第一传感器，检漏测试头上设有第二传感器和第三传感器，第一传感器与第一挡针伸缩机构之间、第二传感器与第二挡针伸缩机构之间以及第三传感器与第三挡针伸缩机构之间均通过PLC信号连接。本实用新型专利技术实现了对石英晶体谐振器同步进行强激励和检漏测试，提高了生产效率。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种石英晶体谐振器同步强激励检漏装置，包括振盘、强激励机、绝缘电阻测试仪和PLC，振盘的出口端固接有滑行轨道，滑行轨道上依次固接有强激励测试头和检漏测试头，强激励测试头与强激励机电连接，检漏测试头与绝缘电阻测试仪电连接，滑行轨道的一侧设有第一挡针伸缩机构和第三挡针伸缩机构，滑行轨道的另一侧设有第二挡针伸缩机构，强激励测试头上设有第一传感器，检漏测试头上设有第二传感器和第三传感器，第一传感器与第一挡针伸缩机构之间、第二传感器与第二挡针伸缩机构之间以及第三传感器与第三挡针伸缩机构之间均通过PLC信号连接。本技术实现了对石英晶体谐振器同步进行强激励和检漏测试，提高了生产效率。【专利说明】—种石英晶体谐振器同步强激励检漏装置
本技术涉及一种石英晶体谐振器同步强激励检漏装置。
技术介绍
石英晶体谐振器是一种电子元器件，其在生产过程中，封焊后需要进行全数检漏，以确保产品封焊后的气密性良好，在分选前还需要进行全数强激励，以达到降低电阻的作用，两道工序都需要通过振盘送料后进行相关测试。两道工序单独进行，浪费人力，且增加了石英晶体谐振器的生产周期，降低了生产效率。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种石英晶体谐振器同步强激励检漏装置，减少了石英晶体谐振器的生产周期，提高了生产效率。本技术采用的技术方案是:一种石英晶体谐振器同步强激励检漏装置，包括振盘、强激励机、绝缘电阻测试仪和PLC，所述振盘的出口端固接有滑行轨道，所述滑行轨道上依次固接有强激励测试头和检漏测试头，所述强激励测试头与强激励机电连接，所述检漏测试头与绝缘电阻测试仪电连接，所述滑行轨道的一侧设有第一挡针伸缩机构和第三挡针伸缩机构，滑行轨道的另一侧设有第二挡针伸缩机构，所述第一挡针伸缩机构与强激励测试头相靠近，所述第三挡针伸缩机构与检漏测试头相靠近，所述第二挡针伸缩机构位于第一挡针伸缩机构和第三挡针伸缩机构之间，所述强激励测试头上设有第一传感器，所述检漏测试头上设有第二传感器和第三传感器，所述第一传感器与第一挡针伸缩机构之间、第二传感器与第二挡针伸缩机构之间以及第三传感器与第三挡针伸缩机构之间均通过PLC信号连接。作为本技术的进一步改进，所述滑行轨道上设有第四挡针伸缩机构，所述第四挡针伸缩机构位于第二挡针伸缩机构的同一侧且与第一挡针伸缩机构处于同一水平线，所述强激励测试头上设有第四传感器，所述第四传感器与第四挡针伸缩机构之间通过PLC信号连接。本技术采用的有益效果是:本技术通过振盘、强激励测试头、检漏测试头和PLC相结合的结构设计，实现了石英晶体谐振器在生产过程中的两道工序强激励和检漏的同步进行，减少了石英晶体谐振器的生产周期，提高了生产效率。【专利附图】【附图说明】图1为本技术的结构示意图。图中所示:1、振盘，2、强激励机，3、绝缘电阻测试仪，4、滑行轨道，5、强激励测试头，6、检漏测试头，7、第一挡针伸缩机构，8、第四挡针伸缩机构，9、第二挡针伸缩机构，10、第三挡针伸缩机构，11、第一传感器，12、第四传感器，13、第二传感器，14、第三传感器。【具体实施方式】下面结合图1，对本技术做进一步的说明。如图1所示，一种石英晶体谐振器同步强激励检漏装置，包括振盘1、强激励机2、绝缘电阻测试仪3和PLC，振盘I的出口端固接有滑行轨道4，滑行轨道4上依次固接有强激励测试头5和检漏测试头6，强激励测试头5与强激励机2之间通过电线电连接，检漏测试头6与绝缘电阻测试仪3之间通过电线电连接，滑行轨道4的一侧设有第一挡针伸缩机构7和第三挡针伸缩机构10，滑行轨道4的另一侧设有第二挡针伸缩机构9，第一挡针伸缩机构7与强激励测试头5相靠近，第三挡针伸缩机构10与检漏测试头6相靠近，第二挡针伸缩机构9位于第一挡针伸缩机构7和第三挡针伸缩机构10之间，强激励测试头5上设有第一传感器11，检漏测试头6上设有第二传感器13和第三传感器14,第一传感器11与第一挡针伸缩机构7之间、第二传感器13与第二挡针伸缩机构9之间以及第三传感器14与第三挡针伸缩机构10之间均通过PLC信号连接。因第一挡针伸缩机构7要挡住从振盘I随滑形轨道4下落的石英晶体谐振器，承受的力较大，为了配合其更好的工作，进一步设计了:滑行轨道4上设有第四挡针伸缩机构8,第四挡针伸缩机构8位于第二挡针伸缩机构9的同一侧且与第一挡针伸缩机构7处于同一水平线，强激励测试头5上设有第四传感器12，第四传感器12与第四挡针伸缩机构8之间通过PLC信号连接。本技术在使用时，第二挡针伸缩机构9伸出挡在滑行轨道4内，当其上接到石英晶体谐振器后，强激励机2工作的同时第一传感器11和第四传感器12发出信号，PLC接收到信号后，发出第一挡针伸缩机构7和第四挡针伸缩机构8伸出挡住其上滑行轨道4内的石英晶体谐振器的工作信号，当强激励检测完毕后，第二传感器13发出信号，PLC接收到信号后控制第二挡针伸缩机构9缩回，石英晶体谐振器下落，当下落至第三挡针伸缩机构10位置时，第三传感器14发出信号，PLC接收到信号后控制第三挡针伸缩机构10伸出，接到石英晶体谐振器后进行检漏测试，检漏检测完毕后，第三挡针伸缩机构10在第三传感器14和PLC的工作下缩回，如此循环。本技术中第一挡针伸缩机构7、第四挡针伸缩机构8、第二挡针伸缩机构9和第三挡针伸缩机构10中包括相对应的挡针、电磁阀、气缸，相应挡针的伸缩均可由电磁阀控制气缸，PLC控制电磁阀来实现。本技术实现了对石英晶体谐振器同步进行强激励和检漏测试，提高了生产效率。【权利要求】1.一种石英晶体谐振器同步强激励检漏装置，包括振盘(I)、强激励机(2)、绝缘电阻测试仪(3)和PLC，其特征在于所述振盘(I)的出口端固接有滑行轨道(4)，所述滑行轨道(4)上依次固接有强激励测试头(5)和检漏测试头(6)，所述强激励测试头(5)与强激励机(2)电连接，所述检漏测试头(6)与绝缘电阻测试仪(3)电连接，所述滑行轨道(4)的一侧设有第一挡针伸缩机构(7)和第三挡针伸缩机构(10)，滑行轨道(4)的另一侧设有第二挡针伸缩机构(9)，所述第一挡针伸缩机构(7)与强激励测试头(5)相靠近，所述第三挡针伸缩机构(10)与检漏测试头(6)相靠近，所述第二挡针伸缩机构(9)位于第一挡针伸缩机构(7)和第三挡针伸缩机构(10)之间，所述强激励测试头(5)上设有第一传感器(11)，所述检漏测试头(6)上设有第二传感器(13)和第三传感器(14)，所述第一传感器(11)与第一挡针伸缩机构(7)之间、第二传感器(13)与第二挡针伸缩机构(9)之间以及第三传感器(14)与第三挡针伸缩机构(10)之间均通过PLC信号连接。2.根据权利要求1所述的一种石英晶体谐振器同步强激励检漏装置，其特征在于所述滑行轨道(4)上设有第四挡针伸缩机构(8)，所述第四挡针伸缩机构(8)位于第二挡针伸缩机构(9)的同一侧且与第一挡针伸缩机构(7)处于同一水平线，所述强激励测试头(5)上设有第四传感器(12)，所述第四传感器(12)与第四挡针伸缩机构(8)之间通过PLC信号连接。【文档编号】G01M3/40GK203719856SQ201420113801【公开日】2014本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种石英晶体谐振器同步强激励检漏装置，包括振盘（1）、强激励机（2）、绝缘电阻测试仪（3）和PLC，其特征在于所述振盘（1）的出口端固接有滑行轨道（4），所述滑行轨道（4）上依次固接有强激励测试头（5）和检漏测试头（6），所述强激励测试头（5）与强激励机（2）电连接，所述检漏测试头（6）与绝缘电阻测试仪（3）电连接，所述滑行轨道（4）的一侧设有第一挡针伸缩机构（7）和第三挡针伸缩机构（10），滑行轨道（4）的另一侧设有第二挡针伸缩机构（9），所述第一挡针伸缩机构（7）与强激励测试头（5）相靠近，所述第三挡针伸缩机构（10）与检漏测试头（6）相靠近，所述第二挡针伸缩机构（9）位于第一挡针伸缩机构（7）和第三挡针伸缩机构（10）之间，所述强激励测试头（5）上设有第一传感器（11），所述检漏测试头（6）上设有第二传感器（13）和第三传感器（14），所述第一传感器（11）与第一挡针伸缩机构（7）之间、第二传感器（13）与第二挡针伸缩机构（9）之间以及第三传感器（14）与第三挡针伸缩机构（10）之间均通过PLC信号连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：江银喜，姚永红，
申请(专利权)人：铜陵市永创电子有限责任公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34
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