一种对探测器的检测方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种对探测器的检测方法和装置，所述方法包括：将探测器中的任一晶体阵列确定为目标晶体阵列；获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图；在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线；基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块；以位于同一行的分割块为单位，向与该行平行的方向投影，得到第一投影图，以及以位于同一列的分割块为单位，向与该列平行的方向投影，得到第二投影图；根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果。本发明专利技术采用客观有效的定量的数据分析来对探测器进行检测，得出的检测结果准确率高，为工作人员对探测器的设计提供参考。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术实施例公开了一种对探测器的检测方法和装置，所述方法包括：将探测器中的任一晶体阵列确定为目标晶体阵列；获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图；在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线；基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块；以位于同一行的分割块为单位，向与该行平行的方向投影，得到第一投影图，以及以位于同一列的分割块为单位，向与该列平行的方向投影，得到第二投影图；根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果。本专利技术采用客观有效的定量的数据分析来对探测器进行检测，得出的检测结果准确率高，为工作人员对探测器的设计提供参考。【专利说明】一种对探测器的检测方法和装置
本专利技术涉及医疗设备
，具体涉及一种对探测器的检测方法和装置。
技术介绍
双模态医学诊断设备为当今的医学诊断提供了有效的工具，PET/CT和SPECT/CT均是双模态医学诊断设备的典型代表。探测器作为PET或SPECT装置最为核心的部件，主要用于检测引入病人体内的放射性核素所发出的射线(如:Y射线)。探测器主要包括闪烁晶体和光电转换器，其中，闪烁晶体可以为单独的块状晶体，或为能识别的多个闪烁晶体单元组成的晶体阵列，其主要用于探测从病人体内释放的Y光子，并转换成可见光光子。而光电转换器可以是光电倍增管或光电二极管，其主要用于将可见光光子转换成电信号。当探测器中的闪烁晶体为晶体阵列时，参考图1，图1为晶体阵列的二维晶体位置散点图。理想情况下，该晶体位置散点图中的各个像素点的分布应该是均匀的。然而，在实际情况中，由于受探测器制作工艺的不完全一致性等因素的影响，上述像素点的分布经常不均匀，这一定程度上反映了该探测器的性能。目前，现有的探测器性能检测多是基于对晶体位置散点图的主观判断，即当晶体位置散点图中的各个像素点的分布均匀时，就确定其性能优良，并没有一个客观有效的定量的数据分析来对探测器进行性能检测。因此，现有技术的方法可能会针对探测器性能得出错误的结论，这在一定程度上制约和干扰了后续工作人员对探测器的设计，可能会降低探测器的分辨率，最终影响探测器的成像质量。
技术实现思路
本专利技术提供了一种对探测器的检测方法和装置，能够通过定量的数据分析实现对探测器的检测。本专利技术提供了一种对探测器的检测方法，所述方法包括:将探测器中的任一晶体阵列确定为目标晶体阵列；获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图；在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线；基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块；以位于同一行的分割块为单位，向与该行平行的方向投影，得到第一投影图，以及以位于同一列的分割块为单位，向与该列平行的方向投影，得到第二投影图；根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果。优选地，所述获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图之后，且在所述确定所述晶体位置散点图的等高线之前，还包括:对所述晶体位置散点图进行平滑处理。优选地，所述对所述晶体位置散点图进行平滑处理，包括:利用公式(I )，对所述晶体位置散点图进行平滑处理，D(x，y，o) = (G(X，y，ko)_G(X，y，o))*I(x，y) (I)其中，I(x，y)为原始的晶体位置散点图，k为常数,G(x, y, σ )为方差为σ的高斯分布函数，G(x，y，ko )为方差为ko的高斯分布函数，D(x, y, σ )为平滑处理后的晶体位置散点图；获取经过平滑处理后的晶体位置散点图。优选地，所述在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线，包括:获取所述晶体位置散点图的最大值和最小值；将所述最大值和最小值之间的数值段进行等差划分，得到等高阈值；确定与所述等闻阈值对应的等闻线。优选地，所述基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块，包括:对所述等高线进行拟合，得到拟合曲面；获取相邻的所述拟合曲面的交线；以所述交线为分割线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块。优选地，所述对所述等高线进行拟合，得到拟合曲面，包括:利用二维高斯曲面公式，对所述等高线进行拟合；对所述等高线进行拟合后，获取拟合曲面。优选地，所述对所述等高线进行拟合，得到拟合曲面，包括:判断所述等高线是否对称，如果是，则对所述等高线进行拟合，得到拟合曲面，如果否，则获取所述等高线的不对称的两部分，分别对所述不对称的两部分进行拟合，得到拟合曲面。优选地，所述根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果，包括:分别在所述第一投影图和所述第二投影图中，获取峰值；获取与每个峰值相邻的两个谷值；根据所述谷值和所述峰值，确定峰谷比值，所述峰谷比值为所述峰值和所述谷值的比值；依据所述峰谷比值确定检测结果。优选地，所述依据所述峰谷比值确定检测结果，包括:获取所述峰谷比值中的最小值；依据所述最小值确定检测结果。本专利技术还提供了一种对探测器的检测装置，所述装置包括:第一确定模块，用于将探测器中的任一晶体阵列确定为目标晶体阵列；第一获取模块，用于获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图；第二确定模块，用于在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等闻线;分割模块，用于基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块；投影模块，用于以位于同一行的分割块为单位，向与该行平行的方向投影，得到第一投影图，以及以位于同一列的分割块为单位，向与该列平行的方向投影，得到第二投影图；第三确定模块，用于根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果。优选地，所述装置还包括:平滑处理模块，用于对所述晶体位置散点图进行平滑处理。优选地，所述分割模块包括:第一拟合子模块，用于对所述等高线进行拟合，得到拟合曲面；第三获取子模块，用于获取相邻的所述拟合曲面的交线；分割子模块，用于以所述交线为分割线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块。优选地，所述第一拟合子模块包括:判断子模块，用于判断所述等高线是否对称；第三拟合子模块，用于在所述判断子模块的结果为是时，对所述等高线进行拟合，得到拟合曲面；第四拟合子模块，用于在所述判断子模块的结果为否时，获取所述等高线的不对称的两部分，分别对所述不对称的两部分进行拟合，得到拟合曲面。本专利技术提供的检测方法基于等高线对晶体位置散点图进行分割，得到若干分割块，并将分割块进行投影，得到第一投影图和第二投影图，最终可以通过投影图中的峰值和谷值确定检测结果。与现有技术的基于对晶体位置散点图的主观判断相比，本专利技术采用客观有效的定量的数据分析来对探测器进行检测，得出的检测结果准确率高，为工作人员对探测器的设计提供参考。【专利附图】【附图说明】为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为晶体阵列的二维晶体位置散点图；图2为本专利技术实施例一提供的对探测器的检测方法流程图；图3为晶体位置散点图的等闻线的不意图；图4为分割后的两个相邻晶体块的示意图；图5为等高线的示意图；图6为目标晶体阵列中的位于同一行的晶体块投影得到的第一投影图；图7为本专利技术实施例二提供的对探测器的检测装置结本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对探测器的检测方法，其特征在于，所述方法包括：将探测器中的任一晶体阵列确定为目标晶体阵列；获取所述目标晶体阵列的晶体位置散点图；在所述晶体位置散点图中，确定与预设的等高阈值对应的等高线；基于所述等高线，将所述晶体位置散点图分割，得到分割块；以位于同一行的分割块为单位，向与该行平行的方向投影，得到第一投影图，以及以位于同一列的分割块为单位，向与该列平行的方向投影，得到第二投影图；根据所述第一投影图和所述第二投影图，确定检测结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：徐亮，吴国城，支力佳，
申请(专利权)人：沈阳东软医疗系统有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁;21