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一种无源测向试验支架制造技术

技术编号:10111391 阅读:212 留言:0更新日期:2014-06-02 10:46
一种无源测向试验支架,涉及一种天线设备。设有下底盘、支撑板、旋转台、微波下变频数据采集系统、支撑杆、上底盘、U型支架;所述下底盘和支撑板固定在旋转台上;微波下变频数据采集系统设在下底盘上;支撑板与支撑杆固接,上底盘与支撑杆固接;阵列接收天线固定在上底盘上。在无源测向试验验证中,能有效通过阵列接收天线和微波下变频数据采集系统,提高来波到达角估计的测试精度。整个试验系统随着旋转台一起旋转测向,从而估计发射源所在的方向即来波到达角。结构简单,定位方便,测向精度高,同时可用在测量天线增益方向图、场强方向图、轴比等试验中,为测量天线性能参数和无源测向试验验证提供便利。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种无源测向试验支架,涉及一种天线设备。设有下底盘、支撑板、旋转台、微波下变频数据采集系统、支撑杆、上底盘、U型支架;所述下底盘和支撑板固定在旋转台上;微波下变频数据采集系统设在下底盘上;支撑板与支撑杆固接,上底盘与支撑杆固接;阵列接收天线固定在上底盘上。在无源测向试验验证中,能有效通过阵列接收天线和微波下变频数据采集系统,提高来波到达角估计的测试精度。整个试验系统随着旋转台一起旋转测向,从而估计发射源所在的方向即来波到达角。结构简单,定位方便,测向精度高,同时可用在测量天线增益方向图、场强方向图、轴比等试验中,为测量天线性能参数和无源测向试验验证提供便利。【专利说明】一种无源测向试验支架
本技术涉及一种天线设备,尤其是涉及一种无源测向试验支架。
技术介绍
电磁信号的方向数据是对战场密集信号进行分选并引导干扰或指挥武器进行攻击的主要参数,而无源测向技术因其简单快速的优势而受到广泛关注。信号的传输需要通过天线的发射和接收来实现,从而带动有关天线测量方面和发射源测向试验验证的应用。如何能简单快速、高精度实现试验测向尤为重要。结构简单,定位方便,测向精度高能便捷实现上述试验。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种无源测向试验支架。本技术设有下底盘、支撑板、旋转台、微波下变频数据采集系统、支撑杆、上底盘、U型支架;所述下底盘和支撑板固定在旋转台上;微波下变频数据采集系统设在下底盘上;支撑板与支撑杆固接,上底盘与支撑杆固接;阵列接收天线固定在上底盘上。所述下底盘和支撑板可通过6个T型螺柱固定在旋转台上。所述阵列接收天线可通过U型支架固定在上底盘上。本技术具有以下突出优点:在无源测向试验验证中,能够有效地通过阵列接收天线和微波下变频数据采集系统,提高来波到达角估计的测试精度。该多功能支架通过螺柱将下底盘和支撑板固定在旋转台之上,将微波下变频数据采集系统放置在下底盘上,支撑板与支撑杆固接,上底盘与支撑杆固接,通过U型支架将阵列接收天线定位在上底盘接收来波信号,整个试验系统随着旋转台一起旋转测向,从而估计发射源所在的方向即来波到达角。本技术结构简单,定位方便,测向精度高,同时可用在测量天线增益方向图、场强方向图、轴比等试验中,为测量天线性能参数和无源测向试验验证提供了便利。【专利附图】【附图说明】图1是本技术实施例的轴测图。图2是本技术实施例的系统试验轴测图。【具体实施方式】以下结合附图和【具体实施方式】对本技术作进一步说明。参见图1和2,本技术实施例设有下底盘1、支撑板2、旋转台4、微波下变频数据采集系统5、支撑杆6、上底盘7'U型支架9 ;所述下底盘I和支撑板2可通过6个T型螺柱3固定在旋转台4上;微波下变频数据采集系统5设在下底盘I上;支撑板2与支撑杆6固接,上底盘7与支撑杆6固接;所述阵列接收天线8通过U型支架9固定在上底盘7上。本技术的使用方式:通过U型支架9将阵列接收天线8定位在上底盘7上接收信号,通过线缆连接至微波下变频数据采集系统5,它们同旋转台一起旋转试验接收多组数据,最后估计发射源来波到达角。若将阵列接收天线8换成待测天线,微波下变频数据采集系统5换成频谱仪或者矢量网络分析仪,则可测试天线增益方向图、场强方向图、轴比等,增加了支架的功能。本技术有以下优点:1、多功能支架由一个下底盘1、一个支撑板2、一个支撑杆6和一个上底盘7组成,结构简单,加工方便。2、上底盘7开了三条T型斜槽,用于安装固定其天线装置,可用于测试天线增益方向图、场强方向图、轴比等,增加了该试验支架的用途和功能。上面均匀分布两种不同角度的定位孔,第一组间隔角度45°,第二组间隔角度30°,定位精度误差控制在±1°,能够快捷方便实现不同角度的定位要求,提高测向精度。其左右各开一个过线空,用于穿过线缆,给试验提供便利。3、微波下变频数据采集系统5连同阵列接收天线8 —起放置在多功能支架上旋转测试,保证了线缆相对稳定,减少因线缆旋转扭动造成的相位误差,在试验中始终保持射频通道相位响应的稳定性,提高了测向精度。4、下底盘I开不同方向的螺钉孔11,可以前后左右四个方向移动,灵活地调节测试仪器放置位置,给试验提供方便。5、下底盘I和支撑柱6可拆卸,相对位置可调节,大大增强了试验的灵活性。【权利要求】1.一种无源测向试验支架,其特征在于设有下底盘、支撑板、旋转台、微波下变频数据采集系统、支撑杆、上底盘、U型支架;所述下底盘和支撑板固定在旋转台上;微波下变频数据采集系统设在下底盘上;支撑板与支撑杆固接,上底盘与支撑杆固接;阵列接收天线固定在上底盘上。2.如权利要求1所述一种无源测向试验支架,其特征在于所述下底盘和支撑板通过6个T型螺柱固定在旋转台上。3.如权利要求1所述一种无源测向试验支架,其特征在于所述阵列接收天线通过U型支架固定在上底盘上。【文档编号】G01S3/04GK203616469SQ201320863260【公开日】2014年5月28日 申请日期:2013年12月25日 优先权日:2013年12月25日 【专利技术者】刘颜回, 熊小平, 陈树林, 姚志会, 杨晶, 柳清伙 申请人:厦门大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种无源测向试验支架,其特征在于设有下底盘、支撑板、旋转台、微波下变频数据采集系统、支撑杆、上底盘、U型支架;所述下底盘和支撑板固定在旋转台上;微波下变频数据采集系统设在下底盘上;支撑板与支撑杆固接,上底盘与支撑杆固接;阵列接收天线固定在上底盘上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘颜回熊小平陈树林姚志会杨晶柳清伙
申请(专利权)人:厦门大学
类型:实用新型
国别省市:

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