输入装置具备:基体,其具有主面;第一检测电极,其设置在基体的主面上,并沿着第一方向排列;第二检测电极,其设置在基体的主面上,并沿着第二方向排列;第一连接电极,其设置在基体的主面上,并连接相邻的第一检测电极;第一绝缘层,其设置在基体的主面上,并位于第一连接电极上;第二连接电极,其设置在第一绝缘层上,并连接相邻的第二检测电极;第二绝缘层,其设置在第一检测电极、第二检测电极以及第一连接电极中的至少一个与基体的主面之间,使第一检测电极、第二检测电极以及第一连接电极中的至少一个与基体的主面分离。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】输入装置、显示装置以及电子设备
本专利技术涉及输入装置、显示装置以及电子设备。
技术介绍
作为输入装置,例如公知有捕捉手指与检测电极之间的静电电容的变化而检测输入位置的静电电容方式的触摸面板(例如,参照专利文献1以及2)。这样的输入装置具备具有主面的基体、设于基体的主面且沿着第一方向排列的第一检测电极、以及设于基体的主面且沿着第二方向排列的第二检测电极。另外,输入装置具备设于基体的主面且连接相邻的第一检测电极的第一连接电极、设于基体的主面且位于第一连接电极上的绝缘层、以及设于绝缘层且连接相邻的第二检测电极的第二连接电极。然而,在上述的输入装置中,由于在基体的主面上直接设置第一检测电极、第二检测电极以及第一连接电极,因此有可能降低基体的强度。专利文献1:日本特开2008-97283号公报专利文献2:日本特开2008-310551号公报
技术实现思路
本专利技术是鉴于上述的问题点而作出的,其目的在于提供能够降低基体的强度下降的可能性的输入装置、显示装置以及电子设备。本专利技术的输入装置的一技术方案在于,该输入装置具备:基体,其具有主面;第一检测电极,其设置在所述基体的所述主面上,并沿着第一方向排列;第二检测电极,其设置在所述基体的所述主面上,并沿着第二方向排列;第一连接电极,其设置在所述基体的所述主面上,并连接相邻的所述第一检测电极;第一绝缘层,其设置在所述基体的所述主面上,并位于所述第一连接电极上;第二连接电极,其设置在所述第一绝缘层上,并连接相邻的所述第二检测电极;第二绝缘层,其设置在所述第一检测电极、所述第二检测电极以及所述第一连接电极中的至少一个与所述基体的所述主面之间,使所述第一检测电极、所述第二检测电极以及所述第一连接电极中的至少一个与所述基体的所述主面分离。本专利技术的显示装置的一技术方案在于,该显示装置具备上述的输入装置、与所述输入装置对置配置的显示面板以及收容所述显示面板的框体。本专利技术的电子设备中的一技术方案具备上述的显示装置。附图说明图1是表示本专利技术的第一实施方式的输入装置的概略结构的俯视图。图2是沿着图1中所示的剖切线I-I进行剖切的剖视图。图3是沿着图1中所示的剖切线II-II进行剖切的剖视图。图4(a)是利用扫描式电子显微镜来观察玻璃基板的剖面的图。图4(b)是表示利用电子显微分析来分析玻璃基板的剖面的结果、即钾离子的浓度分布的图。图5(a)是利用扫描式电子显微镜来观察玻璃基板的剖面的图。其中,图5(a)在主面的一部分上设有电极。图5(b)是表示利用电子显微分析来分析玻璃基板的剖面的结果、即钾离子的浓度分布的图。其中,图5(b)也在主面的一部分设有电极。图6是表示利用电子显微分析来分析玻璃基板的剖面的结果、即钾离子的浓度分布的图。其中,图6在玻璃基板的主面上设置绝缘层,在该绝缘层上设置电极。图7是沿着图1中所示的剖切线III-III进行剖切的剖视图。图8是表示上述输入装置的另一例子的剖视图,是表示与图7相同的部分的图。图9是表示上述输入装置的又一例子的剖视图,是表示与图7相同的部分的图。图10是表示上述输入装置的又一例子的剖视图,是表示与图7相同的部分的图。图11是表示本专利技术的第一实施方式的显示装置的概略结构的剖视图。图12是表示本专利技术的第一实施方式的移动终端的概略结构的立体图。图13是表示本专利技术的第二实施方式的输入装置的概略结构的俯视图。图14是沿着图13中所示的剖切线IV-IV进行剖切的剖视图。图15是沿着图13中所示的剖切线V-V进行剖切的剖视图。图16是表示本专利技术的第三实施方式的输入装置的概略结构的俯视图。图17是沿着图16中所示的剖切线VI-VI进行剖切的剖视图。图18是沿着图16中所示的剖切线VII-VII进行剖切的剖视图。图19是表示上述输入装置的另一例子的剖视图,是表示与图17相同的部分的图。图20是表示上述输入装置的另一例子的剖视图,是表示与图18相同的部分的图。具体实施方式以下,参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。在以下所参照的各图中,为了方便说明,简化表示本专利技术一实施方式的结构构件中的、说明本专利技术所必需的主要构件。由此,本专利技术的输入装置、显示装置以及电子设备可以具备在本说明书所参照的各图中没有显示的任意结构构件。[实施方式1]如图1所示,本实施方式的输入装置X1是静电电容方式的触摸面板。输入装置X1具有输入区域E1以及非输入区域E2。输入区域E1是使用者能够进行输入操作的区域。非输入区域E2是使用者不能进行输入操作的区域。本实施方式的非输入区域E2以包围输入区域E1的方式位于该输入区域E1的外侧,但不限于此。例如,也可以使非输入区域E2位于输入区域E1内。如图1~图3所示,输入装置X1具备基体2。基体2具有在输入区域E1支承第一检测电极3a、第一连接电极3b、第二检测电极4a以及第二连接电极4b的作用。基体2具有在非输入区域E2支承检测用布线7的作用。基体2具有第一主面2a、第二主面2b以及端面2c。第一主面2a是隔着后述的保护片11供使用者进行输入操作的面。第二主面2b是位于与第一主面2a相反一侧的面。端面2c是与第一主面2a和第二主面2b邻接的面。基体2具有绝缘性。基体2相对于向与第一主面2a以及第二主面2b交叉的方向入射的光具有透光性。需要说明的是,在本说明书中“透光性”是指相对于可见光的透过性。另外,本实施方式的基体2的外形在俯视下为角部带有圆度的大致长方形,但不限于此。角部也可以不带有圆度,基体2的外形也可以是在俯视下为圆形状、三角形状等。作为基体2的构成材料,例如举出玻璃或者塑料等具有透光性的材料,在这些材料之中从可视性的观点来说优选为玻璃。在玻璃之中尤其是从基体2的强度提高的观点来说优选为强化玻璃。因此,在本实施方式中,作为基体2的构成材料,使用通过离子交换进行了化学性强化的强化玻璃。在基体2由强化玻璃构成的情况下,基体2通过例如以下所述的方法来制作。即,通过使玻璃与混入钾离子的水溶液接触并施加热量,将存在于玻璃表层的钠离子置换为钾离子。由于存在于玻璃表层的钠离子被钾离子置换,因此在玻璃表层形成压缩应力层。换句话说,由于钾离子的颗粒直径大于钠离子的颗粒直径,因此钠离子的拔出孔被更大的钾离子堵塞,从而能够以分子等级获得更强的压缩应力。这样,制作出被化学性强化的基体2。另外,如图1~图3所示,在基体2的与输入区域E1对应的第二主面2b上设有第一检测电极3a、第一连接电极3b、第二检测电极4a、第二连接电极4b以及第一绝缘层5。第一检测电极3a具有在与手指F1之间产生静电电容的功能。第一检测电极3a具有对接近输入区域E1的使用者的手指F1在Y方向上的输入位置进行检测的作用。第一检测电极3a沿着X方向(第一方向)隔着规定的间隔地设置在基体2的第二主面2b上。在此,从提高检测灵敏度的观点来说,本实施方式的第一检测电极3a的俯视形状为大致菱形,但不限于此。第一连接电极3b具有电连接相邻的第一检测电极3a的作用。第一连接电极3b设置在基体2的第二主面2b上。第二检测电极4a具有在与手指F1之间产生静电电容的功能。第二检测电极4a具有对接近输入区域E1的使用者的手指F1在X方向上的输入位置进行检测的作用。第二检测电极4a沿着Y方向(第二方向)隔开规定的间隔地设置在基本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种输入装置,具备:基体,其具有主面;第一检测电极,其设置在所述基体的所述主面上,并沿着第一方向排列;第二检测电极,其设置在所述基体的所述主面上,并沿着第二方向排列;第一连接电极,其设置在所述基体的所述主面上,并连接相邻的所述第一检测电极;第一绝缘层,其设置在所述基体的所述主面上,并位于所述第一连接电极上;第二连接电极,其设置在所述第一绝缘层上,并连接相邻的所述第二检测电极;第二绝缘层,其设置在所述第一检测电极、所述第二检测电极以及所述第一连接电极中的至少一个与所述基体的所述主面之间,使所述第一检测电极、所述第二检测电极以及所述第一连接电极中的至少一个与所述基体的所述主面分离。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.09.29 JP 2011-214815;2011.10.11 JP 2011-224051.一种输入装置,具备:基体,其具有主面;第一检测电极,其设置在所述基体的所述主面上,并沿着第一方向排列;第二检测电极,其设置在所述基体的所述主面上,并沿着第二方向排列;第一连接电极,其设置在所述基体的所述主面上,并连接相邻的所述第一检测电极;第一绝缘层,其设置在所述基体的所述主面上,并位于所述第一连接电极上;第二连接电极,其设置在所述第一绝缘层上,并连接相邻的所述第二检测电极;第二绝缘层,其设置在所述第一检测电极、所述第二检测电极以及所述第一连接电极中的至少一个与所述基体的所述主面之间,使所述第一检测电极、所述第二检测电极以及所述第一连接电极中的至少一个与所述基体的所述主面分离,所述第二绝缘层设置在所述第一检测电极以及所述第二检测电极与所述基体的所述主面之间,使所述第一检测电极以及所述第二检测电极与所述基体的所述主面分离,并且不存在于所述第一连接电极与所述基体的所述主面之间。2.根据权利要求1所述的输入装置,其中,所述第一检测电极以及所述第二检测电极距离...
【专利技术属性】
技术研发人员:中山匡仁,鹤崎幸二,古江纯司,芦田裕一,南孝志,宫崎吉雄,
申请(专利权)人:京瓷株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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