温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型公开了一种集成电路芯片测试座，其结构包括控制开关、电路板、外部接口、电容器、转换器、顶层、过孔、电源层、底层铜模导线、地线层、顶层铜模导线，外部接口与电路板相连接，外部接口与电容器通过电路板电连接，控制开关设有个且相互平行，转换器...
该专利属于杨威所有，仅供学习研究参考，未经过杨威授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。