The utility model discloses an integrated circuit chip test seat, which consists of a control switch, a circuit board, an external interface, a capacitor, a converter, a top layer, an over hole, a power supply layer, a bottom copper mode wire, a ground wire layer and a top copper mode wire, the external interface is connected with the circuit board, and the external interface and capacitor pass the circuit. The control switch is connected with each other. The converter is installed on the upper end of the circuit board, the top layer is a rectangular structure, the over hole is installed on the top end, the top layer copper mode wire is installed vertically to the upper end of the ground line, the power layer is embedded in the top layer, the power layer is on the same axis with the ground wire layer, and the capacitor is connected with the over hole. The capacitor is arranged in the structure, and the adhesive tape in the device and the isolation layer of the electrolytic paper isolation layer can play an insulation effect, and the charge components are stored by the aluminum shell to protect the device and store the charge effect. The utility of the device is enhanced and the device can run normally.
【技术实现步骤摘要】
一种集成电路芯片测试座
本技术是一种集成电路芯片测试座,属于电路电子测试领域。
技术介绍
随着集成芯片功能的增强和集成规模的不断扩大,芯片的测试变得越来越困难,测试费用往往比设计费用还要高,测试成本已成为产品开发成本的重要组成部分,测试时间的长短也直接影响到产品上市时间进而影响经济效益,为了使测试成本保持在合理的限度内,最有效的方法是在芯片设计时采用可测性设计(DFT)技术,可测性设计是对电路的结构进行调整,提高电路的可测性即可控制性和可观察性。现有技术公开了申请号为:200620016150.2的一种集成电路芯片测试座,其特征在于它包括一个设置在测试电路板上的框体,在所述的框体中排列有数个测试通孔,在所述的部分测试通孔中设置有测试弹簧;所述的测试弹簧的下端焊接在所述的测试电路板,本技术利用直接焊接在测试电路板上的测试弹簧所谓导通电流的部件,使得集成电路芯片在测试时保证了导通效果,提高了测试的效率、测试准确性以及稳定性,但是现有技术无法储存电源,且在直流电路中无法进行断电处理,而导致装置容易损坏,实用性较差。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足,本技术目的是提供一种集成电路芯片测试座,以解决现有技术无法储存电源,且在直流电路中无法进行断电处理,而导致装置容易损坏,实用性较差的问题。为了实现上述目的,本技术是通过如下的技术方案来实现:一种集成电路芯片测试座,其结构包括控制开关、电路板、外部接口、电容器、转换器,所述控制开关垂直安装于电路板上端,所述外部接口与电路板相连接,所述外部接口与电容器通过电路板电连接,所述控制开关设有个且相互平行,所述转换器安装于电路板上端 ...
【技术保护点】
1.一种集成电路芯片测试座,其特征在于:其结构包括控制开关(1)、电路板(2)、外部接口(3)、电容器(4)、转换器(5),所述控制开关(1)垂直安装于电路板(2)上端,所述外部接口(3)与电路板(2)相连接,所述外部接口(3)与电容器(4)通过电路板(2)电连接,所述控制开关(1)设有4个且相互平行,所述转换器(5)安装于电路板(2)上端,所述电容器(4)包括导针(401)、密封胶盖(402)、阴极化成箔(403)、胶带(404)、电解纸隔离层(405)、阳极化成箔(406)、隔离纸(407)、铝壳(408),所述导针(401)与密封胶盖(402)相垂直,所述阴极化成箔(403)贴合于胶带(404)内侧,所述电解纸隔离层(405)与阳极化成箔(406)相平行,所述阳极化成箔(406)贴于隔离纸(407)上端,所述铝壳(408)与密封胶盖(402)在同一轴线上。
【技术特征摘要】
1.一种集成电路芯片测试座,其特征在于:其结构包括控制开关(1)、电路板(2)、外部接口(3)、电容器(4)、转换器(5),所述控制开关(1)垂直安装于电路板(2)上端,所述外部接口(3)与电路板(2)相连接,所述外部接口(3)与电容器(4)通过电路板(2)电连接,所述控制开关(1)设有4个且相互平行,所述转换器(5)安装于电路板(2)上端,所述电容器(4)包括导针(401)、密封胶盖(402)、阴极化成箔(403)、胶带(404)、电解纸隔离层(405)、阳极化成箔(406)、隔离纸(407)、铝壳(408),所述导针(401)与密封胶盖(402)相垂直,所述阴极化成箔(403)贴合于胶带(404)内侧,所述电解纸隔离层(405)与阳极化成箔(406)相平行,所述阳极化成箔(406)贴于隔离纸(407)上端,所述铝壳(408)与密封胶盖(4...
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