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本发明提供了一种电子元件的检测方法、装置和设备，所述方法包括：获取待检测电子元件的元件参数，并根据元件参数的数据分布信息获取待检测电子元件对应的特征向量；在预先基于历史电子元件构建的分类器库中，检索与待检测电子元件的特征向量相似的目标特征向...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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