不拆引线检测变压器绕组电容量及介质损耗的方法技术

本发明专利技术提供了不拆引线检测变压器绕组电容量及介质损耗的方法，涉及变压器绕组电容量及介质损耗的测试方法技术领域。首先以反接法测量变压器绕组及一次接线及所联一次设备的整体电容量及介质损耗，随后利用高精度CT测量一次接线及所联一次设备的介质损耗及电容量，再利用公式计算得出，变压器绕组的介质损耗及电容量。解决了必须拆除变压器一次引线方可测量变压器绕组及电容量的难题，本发明专利技术可以在不拆除变压器引线的情况下，测量变压器本体高压、中压对其他绕组及铁心及外壳的电容量，方法简单、原理独特、使用方便、检测准确、效率高。

Method for detecting capacitance and dielectric loss of transformer winding without dismantling lead wire

The invention provides a method for detecting the capacitance and the dielectric loss of a transformer winding without disconnecting the lead wire, relating to the technical field of the testing method for the capacitance and the dielectric loss of the transformer winding. First of all to the overall capacitance reverse measurement of transformer winding and a wiring and a connected equipment capacity and dielectric loss, dielectric loss and capacitance of the high precision CT measurement of a wiring and a connected device, and then calculated using the formula of dielectric loss and capacitance of transformer winding. To solve the transformer must be removed once lead can measure the transformer winding and capacitance, the invention can not dismantle the transformer lead wire, capacitance measurement of transformer high and medium pressure on other winding and core and shell, the method is simple, easy to use, unique principle, accurate detection, high efficiency.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及变压器绕组电容量及介质损耗的测试方法

技术介绍
目前在例行试验中，检测变压器绕组介质损耗及电容量需要将变压器热一次接线 拆除，并采用反接法进行测试，方可测量变压器绕组对其他绕组、铁心及地的电容量，过程 繁琐，效率低。国内曾经有部分单位开展了变压器不拆引线检测绕组电容量的方法，主要采 用的是正接法，但是该方法只能够检测变压器绕组对地及其他绕组的电容及介质损耗，无 法测量绕组对外壳部分的电容及介质损耗。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种，解 决了必须拆除变压器一次引线方可测量变压器绕组及电容量的难题，该方法可以在不拆除 变压器引线的情况下，测量变压器本体高压、中压对其他绕组及铁心及外壳的电容量，方法 简单、原理独特、使用方便、检测准确、效率高。本专利技术之一是这样实现的一种不拆引线检测变压器绕组电容量及介质损耗的方 法，其特征在于具有以下步骤如下(1)测试变压器绕组本体介质损耗及电容量不拆变压器弓丨出线，利用反接法测试变压 器本体外加引线及所联一次设备的介质损耗C1及电容量tan δ i ；(2)利用高精度CT方式，采用正接法端测试变压器A、B、C三相及所带电气设备电容量 Ca> Cb> Cb 及介质损耗 tan δ A、tan δ B、tan δ c ；(3)利用电容量及介质损耗测试公式计算1)出线及电气设备的电容量及介质损耗测量值；〇2_。Α+。Β+0；tan δ A= (CA*tan δ A+ Cb 氺tan δ B+CB 氺tan δ c)/( CA+CB+Cc)其中C2为出线及串联电气设备电容量，Tan δ 2为出线及串联电气设备介质损耗；2)计算变压器绕组本身电容量C及介质损耗Tanδ Tan δ = (C1^tan δ「C2*tan δ 2) /(C「C2)C-C1 _C2由以上公式即可得出变压器绕组电容量及介质损耗测量值。本专利技术的积极效果是显著的本专利技术所要解决的技术问题是提供一种采用全新全 自动抗干扰电桥不拆引线测试变压器绕组介质损耗及电容量的方法，解决了现有技术中必 须拆除变压器一次引线方可测量变压器绕组及电容量的难题，该方法可以在不拆除变压器 引线的情况下，测量变压器本体高压、中压对其他绕组及铁心及外壳的电容量，方法简单、原理独特、使用方便、检测准确、效率高。以下结合较好的实施例及其附图作详述说明，但不作为对本专利技术的限定。 附图说明图1为测试整体介质损耗及电容量示意图。图2为测量一次引线及所联电气设备电容量及介质损耗(以A相为例)示意图。具体实施例方式实施例利用反接线测试变压器绕组及引线所带电气设备的电容量及介质损耗，同时利用高精 度CT测试引线方向电气设备电容量及介质损耗，进而计算出变压器绕组本身的介质损耗 及电容量(1)测试变压器绕组本体介质损耗及电容量；参见图ι，不拆变压器弓丨出线，利用反接法测试变压器本体外加弓I线及所联一次设备的 介质损耗C1及电容量tanSi ；(2)利用高精度CT方式，采用正接法端测试变压器A、B、C三相及所带电气设备电容量 CA、CB、Cb 及介质损耗 tan δ A、tan δ B、tan δ c ；参见图 2。(3)电容量及介质损耗测试公式1)出线及电气设备的电容量及介质损耗测量值； C2=CA+CB+Cc(1) tan δ A= (CA*tan δ A+ Cb 氺tan δ B+CB 氺tan δ c)/( CA+CB+Cc) (2 ) C2为出线及串联电气设备电容量；Tan δ 2为出线及串联电气设备介质损耗；2)绕组本身电容量及介质损耗； 则由公式Tan δ = (C1^tan δ「C2*tan δ 2) / (C「C2)(3)C=C1-C2(4)由公式(3)、公式(4)可得出变压器绕组本身的电容量及介质损耗测量值。本专利技术解决了通过系列公式测量变压器绕组对其它绕组、铁心及外壳的电容及介 质损耗。权利要求1. 一种，其特征在于具有以下步骤 如下(1)测试变压器绕组本体介质损耗及电容量不拆变压器弓丨出线，利用反接法测试变压 器本体外加引线及所联一次设备的介质损耗C1及电容量tan δ i ；(2)利用高精度CT方式，采用正接法端测试变压器A、B、C三相及所带电气设备电容量 Ca> Cb> Cb 及介质损耗 tan δ A、tan δ B、tan δ c ；(3)利用电容量及介质损耗测试公式计算1)出线及电气设备的电容量及介质损耗测量值；〇2_。Α+。Β+0；tan δ A= (CA*tan δ A+ Cb 氺tan δ B+CB 氺tan δ c)/( CA+CB+Cc)其中C2为出线及串联电气设备电容量，Tan δ 2为出线及串联电气设备介质损耗；2)计算变压器绕组本身电容量C及介质损耗Tanδ Tan δ = (C1^tan δ「C2*tan δ 2) /(C「C2)C-C1 _C2由以上公式即可得出变压器绕组电容量及介质损耗测量值。全文摘要本专利技术提供了，涉及变压器绕组电容量及介质损耗的测试方法
首先以反接法测量变压器绕组及一次接线及所联一次设备的整体电容量及介质损耗，随后利用高精度CT测量一次接线及所联一次设备的介质损耗及电容量，再利用公式计算得出，变压器绕组的介质损耗及电容量。解决了必须拆除变压器一次引线方可测量变压器绕组及电容量的难题，本专利技术可以在不拆除变压器引线的情况下，测量变压器本体高压、中压对其他绕组及铁心及外壳的电容量，方法简单、原理独特、使用方便、检测准确、效率高。文档编号G01R27/26GK102135574SQ201110051299公开日2011年7月27日 申请日期2011年3月4日 优先权日2011年3月4日专利技术者刘宏亮, 刘海峰, 岳国良, 武坤, 潘瑾, 胡涛, 陈志勇, 高树国 申请人:河北省电力研究院本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种不拆引线检测变压器绕组电容量及介质损耗的方法，其特征在于具有以下步骤如下：（１）测试变压器绕组本体介质损耗及电容量：不拆变压器引出线，利用反接法测试变压器本体外加引线及所联一次设备的介质损耗Ｃ１及电容量ｔａｎδ１；（２）利用高精度ＣＴ方式，采用正接法端测试变压器Ａ、Ｂ、Ｃ三相及所带电气设备电容量ＣＡ、ＣＢ、ＣＢ及介质损耗ｔａｎδＡ、ｔａｎδＢ、ｔａｎδＣ；　　（３）利用电容量及介质损耗测试公式计算：１）出线及电气设备的电容量及介质损耗测量值；Ｃ２＝ＣＡ＋ＣＢ＋ＣＣｔａｎδＡ＝（ＣＡ＊ｔａｎδＡ＋　ＣＢ　＊ｔａｎδＢ＋ＣＢ　＊ｔａｎδＣ）／（　ＣＡ＋ＣＢ＋ＣＣ）其中Ｃ２　为出线及串联电气设备电容量，Ｔａｎδ２为出线及串联电气设备介质损耗；２）计算变压器绕组本身电容量Ｃ及介质损耗Ｔａｎδ：Ｔａｎδ＝（Ｃ１＊ｔａｎδ１－Ｃ２＊ｔａｎδ２）／（Ｃ１－Ｃ２）Ｃ＝Ｃ１－Ｃ２由以上公式即可得出变压器绕组电容量及介质损耗测量值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宏亮，刘海峰，潘瑾，陈志勇，岳国良，高树国，武坤，胡涛，
申请(专利权)人：河北省电力研究院，
类型：发明
国别省市：13