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一种配网电容电流测试仪制造技术

技术编号:4721014 阅读:441 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种配网电容电流测试仪,包括电压互感器三相的高压绕组和二次绕组;所述二次绕组是由绕组La、绕组Lb和绕组Lc构成,绕组La、绕组Lb和绕组Lc串联组成开口三角形;所述电压互感器三相的高压绕组包括绕组LA、绕组LB和绕组LC,绕组LA、绕组LB和绕组LC的前端分别接地,绕组LA、绕组LB和绕组LC的后端分别通过电容CA、电容CB和电容CC接地,绕组LA的后端与EA和EC的交点连接,绕组LB的后端与EA和EB的交点连接,绕组LC的后端与EB和EC的交点连接,EA、EB和EC组合成一个闭合的头尾相连接的三角形。本实用新型专利技术的一种配网电容电流测试仪的电路,使配网电容电流测试仪能直接在二次侧测量系统的电容电流,不需要涉及危险的一次侧;不需要繁琐的倒闸操作及等待,使电容电流的测量工作简便、高效、易行。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于电学领域,涉及一种电路,尤其是一种配网电容电流测试仪的电路。技术背景 传统的电容电流测量方法可以分为直接法和间接法。直接法由于上述的缺点,目 前很少采用。目前被广泛采用的间接法虽然比直接法简便,并能较准确地测量电容电流值, 但仍然存在如下缺点 测量时仍然与一次侧打交道,人员与设备安全得不到保障。对于有电源中性点的 35kV系统所采用的"中性点外加电容法",虽然正常运行时中性点的电压很低,但如果在测 量时系统发生单相接地故障,中性点的电压就会上升为危险的相电压(高达20kV),外加测 量电容也就带上20kV高压,这样有可能会引起测量电容器爆炸,危及试验人员的安全。此 外,一般情况下中性点的电压很低,试验和操作人员的思想容易麻痹大意,这也是安全的隐 患之一。特别对于无电源中性点的10kV系统,测量只能采用在线路上分相外接电容的方 法,这时,测量人员和操作人员的安全更得不到保障。测量时外接电容必须由开关柜的一个 开关进行投切,为了要保证电气距离,外接电容通常只能放置在开关柜的外面,因此测量时 开关柜门是打开的,投切电容的操作人员只能在柜门打开,身旁放置一个带有10kV高压的 电容器情况下进行投切操作,这种做法存在很多危险隐患。假设在操作时由于电容器受到 冲击而爆炸,或柜子里的绝缘子炸碎飞出,必将伤及操作人员和试验人员,后果不堪设想。 由于要涉及一次设备,操作繁琐,同时也存在误操作的危险。准备工作耗时长,测 量工作效率低。通常大部分时间耗费在等待调度命令、开工作票、倒闸操作,做安全措施上。一天只能测两至三个站,工作效率非常低。由于上述两个原因,自然地希望有一种设备能直 接在二次侧测量系统的电容电流,不需要涉及危险的一次侧;不需要繁琐的倒闸操作及等 待,使电容电流的测量工作简便、高效、易行。测量从一次侧转向二次侧可以说是电容电流 测量方法的一次飞跃
技术实现思路
本技术的目的在于克服上述现有技术的缺点,提供一种配网电容电流测试 仪,包括电压互感器三相的高压绕组和二次绕组;所述二次绕组是由绕组k、绕组Lb和绕组 L。构成,绕组La、绕组Lb和绕组L。串联组成开口三角形;所述电压互感器三相的高压绕组包 括绕组U、绕组LB和绕组Le,绕组U、绕组LB和绕组Le的前端分别接地,绕组U、绕组LB和 绕组Le的后端分别通过电容CA、电容CB和电容Ce接地,绕组LA的后端与EA和Ee的交点连 接,绕组LB的后端与EA和EB的交点连接,绕组Le的后端与EB和Ee的交点连接,EA、EB和Ec 组合成一个闭合的头尾相连接的三角形。 二次绕组是低压绕组,绕组k、绕组Lb和绕组L。上的电流i。与绕组U、绕组LB和 绕组Lc,上的电流电流i2、电流i3存在如下关系3<formula>formula see original document page 4</formula> 其中高、低压绕组的匝数分别为和化,三相PT的励磁电流分别为ia、 ib、 i。。 本技术的一种配网电容电流测试仪的电路,使配网电容电流测试仪能直接在 二次侧测量系统的电容电流,不需要涉及危险的一次侧;不需要繁琐的倒闸操作及等待,使 电容电流的测量工作简便、高效、易行。附图说明图1为本技术的配电网电容电沒图2为本技术的PT等值电路图t原理图具体实施方式 以下结合附图对本技术做进一步详细描述 如图l所示,其中U、Le、Lc分别为电压互感器(PT)三相的高压绕组,二次绕组La、 Lb、 Le组成开口三角形;CA、 CB、 Ce为导线三相对地电容。若在PT开口三角端注入一个恒定电流 另ll为&,,则在PT的一次绕组A、 B、 C三相分别流出电賴'右设高、低压绕组的匝数分和112,三相PT的励磁电流分别为ia、 ib、 i。。则有如下关系"l0'2 -^) = "2Z'0 (1)在如图2所示的PT等值电路中,励磁阻抗Zm(大约几兆欧)比绕组电阻R和漏抗 XJ大约为几千欧)大很多,而线路单相对地电容一般在O. l-30微法之间,对应的阻抗为几 百欧至几十千欧,因此,在式(1)中PT的励磁电流 PT高压侧三相流出的电流是相等的,即t = i2 =tb、i。几乎为零,可以忽略不计。这样 它的大小由注入的电流i。确定。由 于ii、 i2、 13是零序电流,它们不能在电源和负载之间流通,只能通过线路对地电容形成回 路。这就为从PT 二次侧测量电容电流创造必要的条件。 当一个恒定电流i。从PT的开口三角侧注入,就会有三个大小相等、相位相同的电 流i"i2、i3从PT的高压侧流出,这三个电流将分别在PT三相的绕组电阻R、漏抗X^和导线 对地电容中产生压降。 一般地,三相PT的参数(绕组电阻R和漏抗XJ是对称的,而且三 相导线对地电容Ca、Cb、Ce也是基本相等的,因此三相电流"、12、13分别在三相PT与导线对 地电容中产生的压降Ui(i =A,B,C)是基本相同的,这时在PT开口三角端就可以测到一个 零序电压U。,它的数值将等于3倍的n2 从上述的分析中可以得出从PT开口三角端注入的电流i。与电压U。的关系式(2) 式中,C为单相线路对地电容。有了这个关系式就可以通过测] 电流与电压来计算线路对地电容值,从而计算出配网的电容电流值。PT开口三角端的4 本技术的一种配网电容电流测试仪的电路,使配网电容电流测试仪能直接在 二次侧测量系统的电容电流,不需要涉及危险的一次侧;不需要繁琐的倒闸操作及等待,使 电容电流的测量工作简便、高效、易行。 以上内容是结合具体的优选实施方式对本专利技术所作的进一步详细说明,不能认定本专利技术的具体实施方式仅限于此,对于本专利技术所属
的普通技术人员来说,在不脱 离本专利技术构思的前提下,还可以做出若干简单的推演或替换,都应当视为属于本专利技术由所提交的权利要求书确定专利保护范围。权利要求一种配网电容电流测试仪,其特征在于包括电压互感器三相的高压绕组和二次绕组;所述二次绕组是由绕组La、绕组Lb和绕组Lc构成,绕组La、绕组Lb和绕组Lc串联组成开口三角形;所述电压互感器三相的高压绕组包括绕组LA、绕组LB和绕组LC,绕组LA、绕组LB和绕组LC的前端分别接地,绕组LA、绕组LB和绕组LC的后端分别通过电容CA、电容CB和电容CC接地,绕组LA的后端与EA和EC的交点连接,绕组LB的后端与EA和EB的交点连接,绕组LC的后端与EB和EC的交点连接,EA、EB和EC组合成一个闭合的头尾相连接的三角形。2. 如权利要求1所述一种配网电容电流测试仪,其特征在于二次绕组是低压绕组,绕组k、绕组Lb和绕组L。上的电流i。与绕组U、绕组LB和绕组Lc,上的电流t、电流i2、电流13存在如下关系<formula>formula see original document page 2</formula>其中高、低压绕组的匝数分别为&和化,三相PT的励磁电流分别为ia、 ib、 ic。专利摘要本技术公开了一种配网电容电流测试仪,包括电压互感器三相的高压绕组和二次绕组;所述二次绕组是由绕组La、绕组Lb和绕组Lc构成,绕组La、绕组Lb和绕组Lc串联组成开口三角形;本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种配网电容电流测试仪,其特征在于:包括电压互感器三相的高压绕组和二次绕组;所述二次绕组是由绕组L↓[a]、绕组L↓[b]和绕组L↓[c]构成,绕组L↓[a]、绕组L↓[b]和绕组L↓[c]串联组成开口三角形;所述电压互感器三相的高压绕组包括绕组L↓[A]、绕组L↓[B]和绕组L↓[C],绕组L↓[A]、绕组L↓[B]和绕组L↓[C]的前端分别接地,绕组L↓[A]、绕组L↓[B]和绕组L↓[C]的后端分别通过电容C↓[A]、电容C↓[B]和电容C↓[C]接地,绕组L↓[A]的后端与E↓[A]和E↓[C]的交点连接,绕组L↓[B]的后端与E↓[A]和E↓[B]的交点连接,绕组L↓[C]的后端与E↓[B]和E↓[C]的交点连接,E↓[A]、E↓[B]和E↓[C]组合成一个闭合的头尾相连接的三角形。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:赵宪军
申请(专利权)人:商洛供电局
类型:实用新型
国别省市:61[中国|陕西]

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