【技术实现步骤摘要】
一种激光器光束质量综合检测装置及方法
[0001]本专利技术涉及一种激光器光束质量综合检测装置及方法,属于激光器
技术介绍
[0002]光束质量是描述激光器综合性能的一个重要方面,对激光器的光束质量通常由激光光束的束腰半径ω0、远场发散角θ0以及激光光束质量因子M2来表示,通过对激光输出光斑在不同位置的参数测量来判断激光光束质量。
[0003]在对束腰半径ω0进行测量时,常用的移动刀口法通过使用刀口扫描装置沿着光束传播方向平行移动刀口,并用探测器里接受光能量。该方法测量范围大,装置结构简单,但是测量的阈值不定且计算复杂。可变光阑法则是使激光器输出激光通过一个圆心和光束轴线重合的可变光阑,这要求光阑中心与激光输出光束的光轴精确对准,在实际操作中也很难做到。
[0004]另外,在各种应用中对激光束的输出模式有不同的要求,如在定向、精密测量、激光全息等应用中要求激光输出模式为基横模,而在激光测距、稳频等应用中则在基横模输出的同时还要求单纵模输出的激光器,因此,对激光器进行模式检测是激光器光束质量分析的一项基本又重要的性能测试。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的是提供一种激光器光束质量综合检测装置及方法,结构简单,灵敏度高,使用方便,稳定性好,能够满足绝大多数应用场合。
[0006]为实现上述目的,本申请提出提供一种激光器光束质量综合检测装置,包括激光器、光学隔离器、光学衰减器、分光棱镜、小孔光阑、接收屏、CCD相机、电动位移平台、第一透镜、第二透镜、F
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种激光器光束质量综合检测装置,其特征在于,包括激光器(1)、光学隔离器(2)、光学衰减器(3)、分光棱镜(4)、小孔光阑(5)、接收屏(6)、CCD相机(7)、电动位移平台(8)、第一透镜(9)、第二透镜(10)、F
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P扫描干涉仪(11)、光电探头(12)、F
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P扫描干涉仪控制器(13)、示波器(14)、计算机(15);所述的激光器(1)一侧依次设有光学隔离器(2)、光学衰减器(3)、分光棱镜(4);所述的分光棱镜(4)的一侧出口依次设有小孔光阑(5)、接收屏(6),所述的接收屏(6)的一侧设有电动位移平台(8);所述的电动位移平台(8)上设有CCD相机(7);所述的分光棱镜(4)的另一侧出口依次设有第一透镜(9)、第二透镜(10)、F
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P扫描干涉仪(11)、光电探头(12)、F
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P扫描干涉仪控制器(13)、示波器(14);所述的CCD相机(7)、示波器(14)与计算机(15)通过数据传输线连接。2.根据权利要求1所述的一种激光器光束质量综合检测装置,其特征在于,所述的光学隔离器(2)为波长可调谐的高功率隔离器。3.根据权利要求1所述的一种激光器光束质量综合检测装置,其特征在于,所述的光学衰减器(3)采用中性密度滤波片,中性密度滤光片由BK7玻璃中掺入吸收材料制成,光束在滤波片内部分被吸收材料吸收。4.根据权利要求1所述的一种激光器光束质量综合检测装置,其特征在于,所述第一透镜(9)和第二透镜(10)为完全相同的两透镜,以对不同激光器输出大小不同的光斑扩束或聚焦。5.根据权利要求1所述的一种激光器光束质量综合检测装置,其特征在于,所述的F
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P扫描干涉仪(11)为一个无源谐振腔,包括球形凹面反射镜a(16)、球形凹面反射镜b(17)、光电接受放大器(18)、压电陶瓷环(19)、低膨胀系数材料外壳(20);所述的低膨胀系数材料外壳(20)底部内设有压电陶瓷环(19),所述的压电陶瓷环(19)设有凹面向上的球形凹面反射镜b(17);所述的球形凹面反射镜b(17)底部设有光电接受放大器(18);所述的低膨胀系数材料外壳(20)的底部设有凹面向下的球形凹面反射镜a(16)。6.根据权利要求1所述的一种激光器光束质量综合检测装置,其特征在于,所述的F
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P扫描干涉仪控制器(13)内含锯齿波发生器、直流偏置电源,为光电探头(12)提供直流工作电压,并将光电探头接收到的电信号送入内置放大器。7.一种激光器光束质量综合检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1.等分光束:待测激光器(1)通过光学隔离器(2)和光学衰减器(3)后,由分光棱镜(4)将待测激光器(1)的输出光分成两束;S2.计算和测量激光光束的远场发散角θ0、激光束腰半径ω0、激光光束质量因子M2;1)计算得到激光光束的远场发散角θ0所述分光棱镜(4)将经扩束准直的激光分为能量相等的两束光,第一束光经过小孔光阑(5)到达接收屏(6)前...
【专利技术属性】
技术研发人员:王辰成,董祥美,高秀敏,高梓恒,
申请(专利权)人:苏州众烁云辉科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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