【技术实现步骤摘要】
测温传感器精度自检测和自校准方法、电子设备、存储介质
本专利技术涉及测温传感器
,尤其涉及测温传感器精度自检测和自校准方法、电子设备、存储介质。
技术介绍
测温传感器在长期的使用过程中,测温芯片(或测温探头)的精度会随着使用时长而变差,导致检测结果存在误差甚至错误,从而失去对被测设备的有效监控,对被测设备系统产生一系列的潜在威胁。因此,运维人员需要定期对测温传感器进行精度校准。现有的有线测温传感器校准工作需要运维人员定期到现场,对温度传感器进行单独校准。一方面,需要耗费较多人力,增加了运维工作的工作量;另一方面,校准的过程中需要将相应的被测设备停运,会造成了经济损失。行业目前使用的无线测温传感器主要是通过固定间隔时间,主控模块采集温度,然后通过无线模块发射到接收主机。如申请号201610727307.0的专利,采用温度开关作为校准的关键参照器件,而温度开关器件本身的精度不高,通常为±5℃的测温公差。而作为电力设备监测用的测温传感器一般采用半导体测温器件,精度较高,一般达到±2℃。所以用低精度的器件取校准高精度器件,不合理,不具有可行性。无线测温传感器使用在高压电力设备上,而高压电力设备一但运行后不能轻易停电,因此,急需一种测温传感器精度自检测和自校准的方法。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足,本专利技术的目的在于提供测温传感器精度自检测和自校准方法,解决了测温传感器长时间使用后,温度基准漂移,测温不准确、误报警等问题。本专利技术提供测温传感器精度自检测和自校准方法 ...
【技术保护点】
1.测温传感器精度自检测和自校准方法,其特征在于:/n所述的自检测方法,包括以下步骤:/n计算当前自校准探头结构的热传导模型参数值,将第一辅助测温器件、第二辅助测温器件、主测温器件的实测温度带入自校准探头结构的热传导模型中,求得当前静态状态下的模型参数值;/n计算主测温器件的理论温度,将所述当前静态状态下的模型参数值、实测的第一辅助测温器件的温度和第二辅助测温器件的温度带入自校准探头结构的热传导模型中,求得主测温器件的理论温度;/n计算主测温器件的测温偏差,计算所述主测温器件的理论温度与实测的主测温器件的温度的差值,得到主测温器件的测温偏差;/n检测传感器精度,判断所述主测温器件的测温偏差是否在容许偏差范围内,是则判定为传感器精度正常,否则判定为传感器精度超差,若判定为超差,则传感器控制系统记录所述主测温器件的测温偏差,同时启动自校准方法;/n所述的自校准方法,包括以下步骤:/n计算当前自校准探头结构的热传导模型参数值,将所述第一辅助测温器件、所述第二辅助测温器件、所述主测温器件的实测温度带入自校准探头结构的热传导模型中,求得当前静态状态下的模型参数值;/n计算理论真值,根据自校准探头 ...
【技术特征摘要】
1.测温传感器精度自检测和自校准方法,其特征在于:
所述的自检测方法,包括以下步骤:
计算当前自校准探头结构的热传导模型参数值,将第一辅助测温器件、第二辅助测温器件、主测温器件的实测温度带入自校准探头结构的热传导模型中,求得当前静态状态下的模型参数值;
计算主测温器件的理论温度,将所述当前静态状态下的模型参数值、实测的第一辅助测温器件的温度和第二辅助测温器件的温度带入自校准探头结构的热传导模型中,求得主测温器件的理论温度;
计算主测温器件的测温偏差,计算所述主测温器件的理论温度与实测的主测温器件的温度的差值,得到主测温器件的测温偏差;
检测传感器精度,判断所述主测温器件的测温偏差是否在容许偏差范围内,是则判定为传感器精度正常,否则判定为传感器精度超差,若判定为超差,则传感器控制系统记录所述主测温器件的测温偏差,同时启动自校准方法;
所述的自校准方法,包括以下步骤:
计算当前自校准探头结构的热传导模型参数值,将所述第一辅助测温器件、所述第二辅助测温器件、所述主测温器件的实测温度带入自校准探头结构的热传导模型中,求得当前静态状态下的模型参数值;
计算理论真值,根据自校准探头结构的导热特征函数进行反向求解,得到对应的当前静态状态第一辅助测温器件的温度理论真值,通过温差算法反向计算出主测温器件的温度理论真值和第二辅助测温器件的温度理论真值;
校准测温器件,启动校准命令,使用所述第一辅助测温器件的温度理论真值、所述主测温器件的温度理论真值和所述第二辅助测温器件的温度校准当前第一辅助测温器件、主测温器件、第二辅助测温器件的温度。
2.如权利要求1所述的测温传感器精度自检测和自校准方法,其特征在于:
在所述的自检测方法中,
所述当前自校准探头结构的热传导模型参数值的计算公式为:
k=f(T2)=aT22+bT2+c
其中,a,b,c为常系数;由自校准探头结构的原始测试数据拟合确定;T2为当前静态状态第一辅助测温器件的实测温度值;
所述自校准探头结构的热传导模型为:
λ1(T1-T2)=λ2(T2-T3)
令;则:T1=k(T2-T3)+T2
所述主测温器件的理论温度的计算公式为:
T1LL=k(T2-T3)+T2
其中,λ1为主测温器件到第一辅助测温器件之间的导热系数...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭晨华,潘晨曦,宁松浩,汪俊,杨志强,
申请(专利权)人:珠海一多智能科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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