【技术实现步骤摘要】
纯钛个性化基台的处理方法
[0001]本专利技术涉及义齿修复
,更具体地说,本专利技术涉及纯钛个性化基台的处理方法。
技术介绍
[0002]口腔修复中的种植义齿,指的是牙齿缺失以后,用一种以植入骨组织内的下部结构为基础来支持、固位上部牙修复体的缺牙修复方式。种植义齿的支持部分由两部分组成,植入牙槽骨的植体部分与穿出牙龈的基台部分;植体部分代替牙根,基台部分代替牙冠部分。目前,代替牙冠部分的基台,市场上有两种,一种是种植体厂家生产的配套成品基台;另一种是根据患者个性化定制的基台。
[0003]目前,在实际的临床种植修复中,有相当一部分患者的牙槽骨条件不佳、种植角度过大等原因,导致成品基台不能满足患者后期修复的需要;现有的技术中,为患者定制的个性化基台解决了上述问题。但是,纯钛的个性化基台表面的加工处理不到位,尤其是基台穿龈部分的处理不到位时,容易滋生细菌,造成牙龈发炎,影响种植体的寿命。因此,有必要提出纯钛个性化基台的处理方法,以至少部分地解决现有技术中存在的问题。
技术实现思路
[0004]在
技术实现思路
部分中引入了一系列简化形式的概念,这将在具体实施方式部分中进一步详细说明。本专利技术的
技术实现思路
部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征,更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。
[0005]为至少部分地解决上述问题,本专利技术提供了纯钛个性化基台的处理方法,包括:
[0006]S1、根据获得的患者颌骨模型情况,使用设计软件设计基 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.纯钛个性化基台的处理方法,其特征在于,包括:S1、根据获得的患者颌骨模型情况,使用设计软件设计基台,将所述基台的数据输入CAD\CAM设备中加工,得到个性化的纯钛基台(1);S2、将加工出来的所述纯钛基台(1)安装到颌骨模型上,根据颌记录上颌架;S3、调整所述纯钛基台(1)的尺寸;S4、调整所述纯钛基台(1)的就位道;S5、对所述纯钛基台(1)进行精细修整后进行抛光和清洗处理;S6、将所述纯钛基台(1)的穿龈部分(2)的表面进行阳极氧化处理。2.根据权利要求1所述的纯钛个性化基台的处理方法,其特征在于,所述S3包括:S301、调整所述纯钛基台(1)的高度和宽度:根据患者口腔内的咬合空间,使用钨钢钻、0.5mm的薄砂片对所述纯钛基台(1)的尺寸进行调整;S302、调整所述纯钛基台(1)穿龈部分(2)的高度:根据牙龈(4)的高度,在所述穿龈部分(2)标记环形肩台(3)的位置,根据标记好的位置使用钨钢钻调整所述环形肩台(3)的高度,使所述环形肩台(3)与牙龈(4)平滑过渡,并且使所述环形肩台(3)的高度与邻牙(5)的颈缘高度相同。3.根据权利要求1所述的纯钛个性化基台的处理方法,其特征在于,所述S4包括:S401、确定所述颌骨模型上的种植体(6)数量;S402、将所述纯钛基台(1)安装在所述颌骨模型上的种植体(6)上,并固定在平行研磨仪的万向关节上;S403、若所述种植体(6)为一个,则根据邻牙(5)的情况设置单个所述纯钛基台(1)的就位道,并将单个所述纯钛基台(1)的侧面加工出防滑纹;若所述种植体(6)为两个或两个以上,则根据邻牙(5)的情况设置多个所述纯钛基台(1)的共同就位道。4.根据权利要求1所述的纯钛个性化基台的处理方法,其特征在于,所述S5包括:S501、对所述纯钛基台(1)的环形肩台(3)进行精细修整:使用牙科用的8倍放大镜,配合钨钢钻和橡皮轮对所述环形肩台(3)进行精细修整;S502、进行精细修整后,依次使用橡皮轮、橡皮棒、纤维轮、棕轮对所述纯钛基台(1)的表面进行抛光处理;S503、抛光结束后,使用蒸汽清洗机将所述纯钛基台(1)清洗干净。5.根据权利要求1所述的纯钛个性化基台的处理方法,其特征在于,所述S6包括:将所述纯钛基台(1)放置在阳极氧化处理设备的正极上,在所述纯钛基台(1)的穿龈部分(2)的表面进行处理,使所述穿龈部分(2)的表面形成氧化膜。6.根据权利要求1所述的纯钛个性化基台的处理方法,其特征在于,对所述纯钛基台(1)进行抛光和清洗处理后,采用检测装置对所述纯钛基台(1)的表面进行缺损检测,具体检测步骤如下:步骤1、利用所述所述检测装置对所述纯钛基台(1)表面进行扫描拍照,获得所述纯钛基台(1)表面的初始图像,然后根据如下公式计算,将所述初始图像转换为亮度平衡图像,并得到亮度平衡图像的每一个像素点F(x,y):
其中,F0(x,y)为所述初始图像上的每一个像素点,g
h
为所述初始图像每一行的灰度平均值,g
l
为所述初始图像每一列的灰度平均值,M
h
为所述初始图像每一行的灰度平均值中的最大值,M
l
为所述初始图像每一列的灰度平均值中的最大值,x为单个像素点的横向坐标,y为单个像素点的纵向坐标;步骤2、对所述亮度平衡图像上的缺损点进行提取,并计算所述缺损点的面积S:其中,S
p
为单个像素对应的实际面积,x=1,2,3
……
i,y=1,2,3
……
j;步骤3、将所述缺损点的面积S与缺损...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵培霞,常江,
申请(专利权)人:北京联袂义齿技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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