放射性去污效率测试方法技术

本发明专利技术公开了一种放射性去污效率测试方法，所述测试方法包括（Ⅰ）测试去污剂对空气中放射性粉尘的去污效率；（Ⅱ）测试去污剂对表面沾染放射性粉尘去污效率。本发明专利技术提出一种放射性去污效率测试方法，包括去污剂对空气中放射性粉尘的去污效率的测试方法和对表面沾染放射性粉尘去污效率的测试方法，对去污剂的喷洒量进行定量分析，对不同雾化喷嘴雾化效果进行对比分析，从而判断去污剂能否有效捕获放射性核素。本发明专利技术测试方法主要在封闭箱体中进行测量，不会造成放射性粉尘大量扩散。

Test Method for Radioactive Decontamination Efficiency

【技术实现步骤摘要】
放射性去污效率测试方法
本专利技术属于核工业放射性废物处理领域，具体涉及一种放射性去污效率测试方法。
技术介绍
放射性污染膜法应急处置方法是处置核事故、辐射恐怖事件放射性后果的先进技术。国家核应急去污洗消力量中装备洗消去污、事故源头封控、高空和地面大面积放射性污染区污染压制作业能力均是围绕膜法扩散控制和膜法去污剂为基础论证建设的。放射性污染去污剂是膜法技术应用体系的物质基础。其主要功能是将放射性微颗粒或化学粉末吸附、黏结、包埋在高分子长链条网中而不脱落，进而形成具有一定粘结力、拉伸强度、撕裂强度的膜体，进而达到固定、转移放射性粉尘颗粒的目的，防止放射性粉尘扩散、迁移范围，为现场放射性污染的应急去污进行预处理。放射性污染去污效率是表征放射性污染去污剂性能好坏的关键参数，目前针对去污效率的测量方法主要是在污染物表面涂刷放射性去污剂进行去污，选择若干测量点分别对涂膜前后的污染水平进行测量，估算出去污效率。或是采用替代核素的非放射性同位素作为模拟实验物进行试验，利用滴定、紫外可见分光光度法、ICP-MS等测量方法，测定去污效率。这些方法只能对去污剂捕集放射性或非放射性核素的效率进行静态测量，无法模拟核事故后放射性核素的扩散运动，影响测量结果的准确性。
技术实现思路
本专利技术是为了克服现有技术中存在的缺点而提出的，其目的是提供一种放射性去污效率测试方法。本专利技术的技术方案是：一种放射性去污效率的测试方法，包括以下步骤：（Ⅰ）测试去污剂对空气中放射性粉尘的去污效率；（Ⅱ）测试去污剂对表面沾染放射性粉尘去污效率。所述步骤（Ⅰ）测试去污剂对空气中放射性粉尘的去污效率的具体步骤为：（ⅰ）将喷洒箱清理干净，并将其与底托用压紧螺栓连接，关闭前操作门（13）、后操作门和空气采样口，打开风阀；（ⅱ）向放射性粉尘添加口添加一定量的放射性粉尘，关闭放射性粉尘添加口；（ⅲ）打开风机，将放射性粉尘吹入喷洒箱内，并持续送风一段时间；（ⅳ）关闭风机，打开空气采样口，进行空气放射性污染水平采样与测量；（ⅴ）关闭空气采样口，向喷洒箱中喷洒一定量的去污剂；（ⅵ）再次打开空气采样口，进行空气放射性污染水平采样与测量；（ⅶ）对比分析前后采样结果，计算去污效率；（ⅷ）将喷洒箱从底托上取下，剥离去污膜；（ⅸ）用喷洒机向喷洒箱内喷洒去污剂清洗剂，清除喷洒箱及管路内部残余的去污剂。所述步骤（Ⅱ）测试去污剂对表面沾染放射性粉尘去污效率的具体步骤为：（ⅰ）将喷洒箱清理干净，并将其与底托用压紧螺栓连接，关闭前操作门、后操作门和空气采样口，打开风阀；（ⅱ）向放射性粉尘添加口添加一定量的放射性粉尘，关闭放射性粉尘添加口；（ⅲ）打开风机，将放射性粉尘吹入喷洒箱内，并持续送风一段时间；（ⅳ）关闭风机，静置一段时间，打开前操作门或后操作门，对底托和喷洒箱侧壁表面的放射性污染水平进行采样与测量；（ⅴ）向喷洒箱中喷洒一定量的去污剂，静置一段时间；（ⅵ）待去污剂成膜后，打开前操作门与后操作门，将喷洒箱与底托表面的去污膜剥离取出；（ⅶ）再次对底托和喷洒箱侧壁表面的放射性污染水平进行采样与测量；（ⅷ）用喷洒机向喷洒箱内喷洒去污剂清洗剂，清除箱体及管路内部残余的去污剂。本专利技术的有益效果是：本专利技术提供了一种放射性去污效率测试方法，可模拟核泄漏或核爆炸条件下，放射性核素在敞开空间内的扩散运动，并模拟自然风对核污染的对流扩散的影响，通过测量喷洒前后放射性污染物水平，即可算出污染效率，既可以测量去污剂对空气中放射性粉尘的去污效率，也可以测量去污剂对表面沾染放射性粉尘的去污效率。该方法主要在封闭箱体中进行测量，不会造成放射性粉尘大量扩散。附图说明图1是本专利技术所使用的放射性去污效率测试装置的结构示意图；图2是本专利技术所使用的放射性去污效率测试装置前操作门开启状态的结构示意图；图3是本专利技术所使用的放射性去污效率测试装置后操作门开启状态的结构示意图；图4是本专利技术所使用的放射性去污效率测试装置中喷洒箱底部和雾化喷嘴的装配结构示意图；图5是本专利技术所使用的放射性去污效率测试装置中底托的结构示意图。其中：1喷洒箱2喷洒机3喷管4雾化喷头5风机6放射性粉尘添加口7送风管8循环风管9风阀10高效过滤器11把手12风机支架13前操作门14后操作门15空气采样口16密封圈17压紧螺栓18底托19底托凹槽20压紧螺孔。具体实施方式下面结合说明书附图及实施例对本专利技术放射性去污效率测试方法进行详细说明：一种放射性去污效率测试方法，包括以下步骤：（Ⅰ）测试去污剂对空气中放射性粉尘的去污效率（ⅰ）将喷洒箱1清理干净，并将其与底托18用压紧螺栓17连接，关闭前操作门13、后操作门14和空气采样口15，打开风阀9；（ⅱ）向放射性粉尘添加口6添加一定量的放射性粉尘，关闭放射性粉尘添加口6；（ⅲ）打开风机5，将放射性粉尘吹入喷洒箱1内，并持续送风一段时间；（ⅳ）关闭风机5，打开空气采样口15，进行空气放射性污染水平采样与测量；（ⅴ）关闭空气采样口15，向喷洒箱中喷洒一定量的去污剂；（ⅵ）再次打开空气采样口15，进行空气放射性污染水平采样与测量；（ⅶ）对比分析前后采样结果，计算去污效率；（ⅷ）将喷洒箱1从底托18上取下，剥离去污膜；（ⅸ）用喷洒机2向喷洒箱1内喷洒去污剂清洗剂，清除喷洒箱1及管路内部残余的去污剂。（Ⅱ）测试去污剂对表面沾染放射性粉尘去污效率（ⅰ）将喷洒箱1清理干净，并将其与底托18用压紧螺栓17连接，关闭前操作门13、后操作门14和空气采样口15，打开风阀9；（ⅱ）向放射性粉尘添加口6添加一定量的放射性粉尘，关闭放射性粉尘添加口6；（ⅲ）打开风机5，将放射性粉尘吹入喷洒箱1内，并持续送风一段时间；（ⅳ）关闭风机5，静置一段时间，打开前操作门13或后操作门14，对底托18和喷洒箱1侧壁表面的放射性污染水平进行采样与测量；（ⅴ）向喷洒箱1中喷洒一定量的去污剂，静置一段时间；（ⅵ）待去污剂成膜后，打开前操作门13与后操作门14，将喷洒箱1与底托18表面的去污膜剥离取出；（ⅶ）再次对底托18和喷洒箱1侧壁表面的放射性污染水平进行采样与测量；（ⅷ）用喷洒机2向喷洒箱1内喷洒去污剂清洗剂，清除箱体及管路内部残余的去污剂。本专利技术方法所使用的放射性去污效率测试装置，其结构如图1~5所示，所述放射性去污效率测试装置，包括：喷洒箱1，其内部顶端设置雾化喷头4；喷洒机2，其通过喷管3与雾化喷头4连通；风机5，其分别通过送风管7和循环风管8与喷洒箱1连通；其中，所述送风管7的管壁上设置放射性粉尘添加口6；所述循环风管8的支管顶部设置高效过滤器10，支管靠近喷洒箱1的一端设置风阀9。所述喷洒箱1包括上部锥形遮罩和下部圆柱型桶体；遮罩底面设置有至少一个密封圈16，遮罩外壁设置有把手11；桶体侧壁设置设置有与箱体铰链连接的前操作门13和后操作门14；操作者可以选择打开前操作门13或后操作门14进行试验操作。所述喷洒箱1的桶体侧壁上设置有空气采样口15，用于对空气中的放射性水平进行采样。所述喷洒箱1下方设置底托18。所述底托18顶面形成镶嵌喷洒箱1的底托凹槽19，底托凹槽19槽底边缘均布多个压紧螺孔20。所述底托18与喷洒箱1通过压紧螺栓17固定连接。所述风机5通过设置于喷洒箱1箱体上的风机支架12与喷洒箱1连接。所述送风管7设置在喷洒箱1的侧壁，且本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种放射性去污效率测试方法，其特征在于：包括以下步骤：（Ⅰ）测试去污剂对空气中放射性粉尘的去污效率；（Ⅱ）测试去污剂对表面沾染放射性粉尘去污效率。

【技术特征摘要】
1.一种放射性去污效率测试方法，其特征在于：包括以下步骤：（Ⅰ）测试去污剂对空气中放射性粉尘的去污效率；（Ⅱ）测试去污剂对表面沾染放射性粉尘去污效率。2.根据权利要求1所述的放射性去污效率测试方法，其特征在于：所述步骤（Ⅰ）测试去污剂对空气中放射性粉尘的去污效率的具体步骤为：（ⅰ）将喷洒箱（1）清理干净，并将其与底托（18）用压紧螺栓（17）连接，关闭前操作门（13）、后操作门（14）和空气采样口（15），打开风阀（9）；（ⅱ）向放射性粉尘添加口（6）添加一定量的放射性粉尘，关闭放射性粉尘添加口（6）；（ⅲ）打开风机（5），将放射性粉尘吹入喷洒箱（1）内，并持续送风一段时间；（ⅳ）关闭风机（5），打开空气采样口（15），进行空气放射性污染水平采样与测量；（ⅴ）关闭空气采样口（15），向喷洒箱中喷洒一定量的去污剂；（ⅵ）再次打开空气采样口（15），进行空气放射性污染水平采样与测量；（ⅶ）对比分析前后采样结果，计算去污效率；（ⅷ）将喷洒箱（1）从底托（18）上取下，剥离去污膜；（ⅸ）用喷洒机（2）向喷洒箱（1）内喷洒去污剂清洗剂，清除...

【专利技术属性】
技术研发人员：李佳，于景阳，李斌，
申请(专利权)人：华核天津新技术开发有限公司，
类型：发明
国别省市：天津,12