高精度组合壳体的反配钻修理方法技术

本发明专利技术涉及一种高精度组合壳体的反配钻修理方法，包括确定第一复杂壳体上已有的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置；得到的第一复杂壳体上孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置来加工第二复杂壳体上孔A2、孔B2以及配合孔C2；测量第二复杂壳体上的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置；将实测得到的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置与孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置进行比较，若在公差范围，则第二复杂壳体为合格；若否，则第二复杂壳体为不合格产品。本发明专利技术提供了一种避免配钻类壳体组件整台报废以及提高壳体组件配钻合格率的高精度组合壳体的反配钻修理方法。

Repair Method of High Precision Composite Shell with Counter Drill

The invention relates to a matching drill repair method for high precision composite shell, including determining the relative positions of holes A1, B1 and C1 on the first complex shell, obtaining the relative positions of holes A1, B1 and C1 on the first complex shell to process holes A2, B2 and C2 on the second complex shell, and measuring holes A2, B2 and C2 on the second complex shell. Relative positions between closing holes C2; The measured relative positions of hole A2, hole B2 and matching holes C2 are compared with the relative positions of hole A1, hole B1 and matching holes C1. If the tolerance range is within, the second complex shell is qualified; if not, the second complex shell is unqualified. The invention provides a matching drilling repair method for high precision composite shell, which avoids the scrap of the whole assembly of the matching drilling shell and improves the qualified rate of the matching drilling of the shell assembly.

【技术实现步骤摘要】
高精度组合壳体的反配钻修理方法
本专利技术属于航空燃油附件复杂组合壳体修理
，涉及一种壳体反配钻修理方法，尤其涉及一种高精度组合壳体的反配钻修理方法。
技术介绍
配钻类壳体组件(如图1所示)是将两个或多个壳体使用专用工装装配在一起，在保证高位置精度的情况下进行压紧，同时在两个或多个壳体上加工定位销过孔和定位销孔。将壳体分开后，压入定位销。组合加工后的两个或多个壳体就成为固定的一套壳体组件，拆分后两壳体也能够组合在一起，重复定位精度很高。随着配钻类复杂壳体组件寿命到期返厂，壳体中一旦有一件报废，则整台壳体组件报废，造成巨大损失。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的上述技术问题，本专利技术提供了一种避免配钻类壳体组件整台报废以及提高壳体组件配钻合格率的高精度组合壳体的反配钻修理方法。为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种高精度组合壳体的反配钻修理方法，其特征在于：所述高精度组合壳体的反配钻修理方法包括以下步骤：1)确定第一复杂壳体上已有的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置；所述第一复杂壳体是已存在的合格的壳体；2)根据步骤1)确定得到的第一复杂壳体上孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置来加工第二复杂壳体上孔A2、孔B2以及配合孔C2；所述第二复杂壳体是根据第一复杂壳体重新选配且待加工的壳体；3)测量第二复杂壳体上的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置；4)将步骤3)实测得到的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置与步骤1)确定得到的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置进行比较，若在公差范围，则第二复杂壳体为合格；若否，则第二复杂壳体为不合格产品。上述步骤1)的具体实现方式是：1.1)在第一复杂壳体上以配合孔C1为测量零点，以孔A1以及孔B1中任意一个孔为测量基准孔，将测量零点和测量基准孔连线建立测量坐标系；1.2)在步骤1.1)所建立的测量坐标系分别通过高精度测量仪测量孔A1和孔B1的坐标，分别是(XA1,0)和(XB1,YB1)。上述步骤2)的具体实现方式是：根据步骤1.2)确定得到的第一复杂壳体上测量基准孔和剩余孔的坐标(XA1,0)和(XB1,YB1)，利用高精度数控机床在第二复杂壳体上以配合孔C2为加工零点，以(XA1,0)和(XB1,YB1)为编程坐标加工孔A2和孔B2。上述步骤3)的具体实现方式是：3.1)在第二复杂壳体上以配合孔C2为测量零点，以步骤1.1)中所记载相同位置的孔为测量基准孔，将测量零点和测量基准孔连线建立测量坐标系；3.2)在步骤3.1)所建立的测量坐标系分别通过高精度测量仪测量孔A2和孔B2的坐标，分别是(XA2,0)和(XB2,YB2)。上述步骤4)的具体实现方式是：将第一复杂壳体上孔A1的坐标与第二复杂壳体上孔A2的坐标进行对比，将第一复杂壳体上孔B1的坐标与第二复杂壳体上孔B2的坐标进行对比，若超出公差要求，则第二复杂壳体为不合格产品；若未超出公差要求，则第二复杂壳体为合格产品。本专利技术的优点是：本专利技术提供了一种高精度组合壳体的反配钻修理方法，该方法包括1)确定第一复杂壳体上已有的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置；第一复杂壳体是已存在的合格的壳体；2)根据步骤1)确定得到的第一复杂壳体上孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置来加工第二复杂壳体上孔A2、孔B2以及配合孔C2；第二复杂壳体是根据第一复杂壳体重新选配且待加工的壳体；3)测量第二复杂壳体上的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置；4)将步骤3)实测得到的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置与步骤1)确定得到的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置进行比较，若在公差范围，则第二复杂壳体为合格；若否，则第二复杂壳体为不合格产品。本专利技术是针对配钻类复杂壳体组件寿命到期返厂修理过程中，壳体组件中有一件报废，则整台壳体组件报废的问题，进而提供了一种修理工艺方法，避免配钻类壳体组件整台报废问题，提高了壳体组件配钻合格率，可延长零件的使用寿命，具有定位精度高、装夹加工便利，确保修理精度要求的优点。附图说明图1是含有两个复杂壳体的某配钻类壳体零件；图2是图1中第一个复杂壳体零件；图3是图1中另一个复杂壳体零件；其中：1-第一复杂壳体；2-第二复杂壳体。具体实施方式参见图2以及图3，本专利技术提供了一种高精度组合壳体的反配钻修理方法，该高精度组合壳体的反配钻修理方法包括以下步骤：1)确定第一复杂壳体上已有的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置；第一复杂壳体是已存在的合格的壳体，其具体实现方式是:1.1)在第一复杂壳体上以配合孔C1为测量零点，以孔A1以及孔B1中任意一个孔为测量基准孔，将测量零点和测量基准孔连线建立测量坐标系；1.2)在步骤1.1)所建立的测量坐标系分别通过高精度测量仪测量孔A1和孔B1的坐标，分别是(XA1,0)和(XB1,YB1)；2)根据步骤1)确定得到的第一复杂壳体上孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置来加工第二复杂壳体上孔A2、孔B2以及配合孔C2；第二复杂壳体是根据第一复杂壳体重新选配且待加工的壳体；其具体实现方式是：将步骤1.2)确定得到的第一复杂壳体上测量基准孔和剩余孔的坐标(XA1,0)和(XB1,YB1)，利用高精度数控机床在第二复杂壳体上以配合孔C2为加工零点，以(XA1,0)和(XB1,YB1)为编程坐标加工孔A2和孔B2。3)测量第二复杂壳体上的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置，其具体实现方式是：3.1)在第二复杂壳体上以配合孔C2为测量零点，以步骤1.1)中所记载相同位置的孔为测量基准孔，将测量零点和测量基准孔连线建立测量坐标系；3.2)在步骤3.1)所建立的测量坐标系分别通过高精度测量仪测量孔A2和孔B2的坐标，分别是(XA2,0)和(XB2,YB2)。4)将步骤3)实测得到的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置与步骤1)确定得到的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置进行比较，若在公差范围，则第二复杂壳体为合格；若否，则第二复杂壳体为不合格产品，具体实现方式是将第一复杂壳体上孔A1的坐标与第二复杂壳体上孔A2的坐标进行对比，将第一复杂壳体上孔B1的坐标与第二复杂壳体上孔B2的坐标进行对比，若超出公差要求，则第二复杂壳体为不合格产品；若未超出公差要求，则第二复杂壳体为合格产品。本专利技术的设计理念是：配钻类复杂壳体组件，某一壳体报废后，将合格的壳体作为基准，检测合格壳体配钻部位的位置尺寸并形成尺寸报告单；操作者根据配钻部位尺寸报告单的实际值对重新选配的壳体进行加工，加工完成后进行选配壳体的位置尺寸检测，将选配壳体的位置尺寸实际值与配钻壳体的尺寸报告单进行比对检查，不应超差公差范围0.008，否则壳体不可用。下面结合附图，对本专利技术所提供的技术方案进行详细说明：某配钻类复杂壳体组件的结构如图1所示，该结构包括复杂壳体1、复杂壳体2组合装配。当复杂壳体2报废后，需要选配复杂壳体2，其具体实现方式是：采用高精度测量仪检测第一复杂壳体1，并以第一复杂壳体1上的孔A为测量基准，以孔C为测量中心，找正带为角向基准，建立测量坐标系，找正ΦC孔跳动不大于0.005，确定为坐标原点，找正找正带直线度不大于0.005，测量孔B孔距孔C的尺寸本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度组合壳体的反配钻修理方法，其特征在于：所述高精度组合壳体的反配钻修理方法包括：1)确定第一复杂壳体上已有的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置；所述第一复杂壳体是已存在的合格的壳体；2)根据步骤1)确定得到的第一复杂壳体上孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置来加工第二复杂壳体上孔A2、孔B2以及配合孔C2；所述第二复杂壳体是根据第一复杂壳体重新选配且待加工的壳体；3)测量第二复杂壳体上的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置；4)将步骤3)实测得到的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置与步骤1)确定得到的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置进行比较，若在公差范围，则第二复杂壳体为合格；若否，则第二复杂壳体为不合格产品。

【技术特征摘要】
1.一种高精度组合壳体的反配钻修理方法，其特征在于：所述高精度组合壳体的反配钻修理方法包括：1)确定第一复杂壳体上已有的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置；所述第一复杂壳体是已存在的合格的壳体；2)根据步骤1)确定得到的第一复杂壳体上孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置来加工第二复杂壳体上孔A2、孔B2以及配合孔C2；所述第二复杂壳体是根据第一复杂壳体重新选配且待加工的壳体；3)测量第二复杂壳体上的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置；4)将步骤3)实测得到的孔A2、孔B2以及配合孔C2之间的相对位置与步骤1)确定得到的孔A1、孔B1以及配合孔C1的相对位置进行比较，若在公差范围，则第二复杂壳体为合格；若否，则第二复杂壳体为不合格产品。2.根据权利要求1所述的高精度组合壳体的反配钻修理方法，其特征在于：所述步骤1)的具体实现方式是：1.1)在第一复杂壳体上以配合孔C1为测量零点，以孔A1以及孔B1中任意一个孔为测量基准孔，将测量零点和测量基准孔连线建立测量坐标系；1.2)在步骤1.1)所建立的测量坐标系分别通过高精度测量仪测量孔A1和孔B1的坐标，分别是(XA1,0)和(XB1,YB...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁巍，康银辉，王震，周华勇，雷刚，张童，
申请(专利权)人：中国航发西安动力控制科技有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西,61