The invention provides an electronic product fault diagnosis method based on discrete multi-valued extended D matrix, which belongs to the technical field of electronic product fault diagnosis and testing. It includes: acquiring the sample data of electronic products under normal and fault conditions; clustering the sample data obtained at each test point to obtain the number of clusters and cluster centers under each test point, and establishing the discrete multi-valued D matrix; constructing the discrete test vector; calculating the Manhattan distance of each row in the discrete multi-valued D matrix; Find the row of D matrix with the shortest Manhattan distance from the test vector, and the corresponding state of the row is the state of the electronic product diagnosed by the discrete test vector. The method uses K_means clustering to discretize the data of a single test point, constructs a multi-valued D matrix, and realizes fault diagnosis by calculating the Manhattan distance between the test vector and the multi-valued D matrix, thus improving the application feasibility of the method.
【技术实现步骤摘要】
一种基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法
本专利技术涉及一种基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法,属于电子产品故障诊断和测试
技术介绍
随着电子产品集成化、功能多样化的发展,故障信号的传递关系越来越复杂,这给产品的故障诊断增加了难度。目前对电子产品故障诊断测试中,利用故障与测试之间的相关性矩阵,也称D矩阵,通过0/1值表示故障与测试之间的信号传递关系,0表示无故障,1表示有故障,基于D矩阵的故障诊断方法具有计算简单、运算效率高的特点,已广泛应用于航空、航天、船舶、武器装备等领域,是目前电子系统中比较流行的故障诊断方法。然而在工程实际中,将测试点的测试数据简单的用0/1二值表示会导致测试数据中的重要信息无法得到充分的利用,从而影响到系统的故障检测与隔离效果。
技术实现思路
针对目前电子产品故障诊断中简单用0/1二值表示测试数据,而测试数据中的重要信息无法得到充分的利用的问题,本专利技术提出一种基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法,本专利技术利用K-means聚类对单个测试点数据进行离散化处理,构建多值D矩阵,通过计算测试向量与多值D矩阵的曼哈顿距离实现故障诊断。本专利技术的基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法,在电子产品的电路板上设有故障注入接口和测试点,通过硬件的故障注入接口或者仿真手段注入各种故障,在测试点采集获取样本数据。本专利技术的故障诊断方法的实现步骤包括:步骤一、构建多值D矩阵。步骤1,建立离散化的多值D矩阵,包括:步骤1.1,获取待诊断电子产品在正常状态和各个故障状态下的样本数据;步骤1.2,对每个 ...
【技术保护点】
1.一种基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法,在电子产品的电路板上设有故障注入接口和测试点,通过硬件的故障注入接口或者仿真手段注入各种故障,在测试点采集获取样本数据;其特征在于,所述的故障诊断方法包括如下步骤:步骤1,建立离散化的多值D矩阵,包括:步骤1.1,获取待诊断电子产品在正常状态和各个故障状态下的样本数据;步骤1.2,对每个测试点获得的样本数据进行聚类,获得每个测试点下的聚类数目以及聚类中心;步骤1.3,对每个测试点的所有聚类中心,按照值从小到大的顺序用1到n的整数来重新表示,实现离散化处理,然后建立离散化的多值D矩阵;离散化的多值D矩阵中,行表示状态,列表示测试点样本数据的类别;矩阵D中的元素dij表示第i个状态下第j个测试点的数据类别,数据类别用离散化后的整数表示;步骤2,从测试点获取电子产品的测试数据,根据每个测试点的样本数据的聚类数目以及聚类中心,依据步骤1.3的离散化处理方式,构建离散化的测试向量;步骤3,对步骤2离散化的测试向量,计算与离散化多值D矩阵中每一行的曼哈顿距离,找到与测试向量的曼哈顿距离最短的D矩阵的行,该行对应的状态就是根据离散化的测试向量所 ...
【技术特征摘要】
1.一种基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法,在电子产品的电路板上设有故障注入接口和测试点,通过硬件的故障注入接口或者仿真手段注入各种故障,在测试点采集获取样本数据;其特征在于,所述的故障诊断方法包括如下步骤:步骤1,建立离散化的多值D矩阵,包括:步骤1.1,获取待诊断电子产品在正常状态和各个故障状态下的样本数据;步骤1.2,对每个测试点获得的样本数据进行聚类,获得每个测试点下的聚类数目以及聚类中心;步骤1.3,对每个测试点的所有聚类中心,按照值从小到大的顺序用1到n的整数来重新表示,实现离散化处理,然后建立离散化的多值D矩阵;离散化的多值D矩阵中,行表示状态,列表示测试点样本数据的类别;矩阵D中的元素dij表示第i个状态下第j个测试点的数据类别,数据类别用离散化后的整数表示;步骤2,从测试点获取电子产品的测试数据,根据每个测试点的样本数据的聚类数目以及聚类中心,依据步骤1.3的离散化处理方式,构建离散化的测试向量;步骤3,对步骤2离散化的测试向量,计算与离散化多值D矩阵中每一行的曼哈顿距离,找到与测试向量的曼哈顿距离最短的D矩阵的行,该行对应的状态就是根据离散化的测试向量所诊断出的电子产品的状态。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的步骤1.2中,对每一个观测点获取的样本数据采用K-means聚类方法进行聚类,聚类过程包括:步骤1.2.1,初始设置聚类中心个数K=1...
【专利技术属性】
技术研发人员:石君友,邓怡,郭绪浩,何庆杰,
申请(专利权)人:北京航空航天大学,
类型:发明
国别省市:北京,11
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