检测系统技术方案

本实用新型专利技术检测系统包括显微镜组件、中央处理器及显示屏，所述显微镜组件包括显微镜、设于所述显微镜正下方的载物台及用于探测LED的探针，所述LED放置于所述载物台上，所述探针设于所述显微镜下方侧面，所述显微镜及探针与所述中央处理器的输入端连接，所述显示屏与所述中央处理器的输出端连接；本实用新型专利技术检测系统通过设置中央处理器将显微镜的数据进行处理并输送至显示屏进行编辑处理，方便快捷；此外，载物台通过通孔、中空部及连接孔与外置的吸气真空泵连通，通过真空泵吸气造成中空部及通孔与外界空气的压力差，从而使得盖设在通孔上的LED光源固定在基座上，本实用新型专利技术结构简单实用，在检测领域具有广泛的用途。

detecting system

The detection system of the utility model comprises a microscope component, a central processing unit and a display screen. The microscope component comprises a microscope, a carrier platform positioned directly below the microscope and a probe for detecting the LED. The LED is placed on the carrier platform, and the probe is positioned on the lower side of the microscope. The microscope and the probe are connected with the input end of the central processing unit. The display screen is connected with the output terminal of the central processing unit; the detection system of the utility model is convenient and fast by setting a central processing unit to process and transmit the data of the microscope to the display screen for editing processing; in addition, the carrier platform is connected with the external suction vacuum pump through through through the through hole, the hollow part and the connecting hole, and the hollow part and the through hole are caused by the suction of the vacuum pump and the outside world. The pressure difference of air makes the LED light source covered on the through hole fixed on the base. The structure of the utility model is simple and practical, and has wide application in the field of detection.

【技术实现步骤摘要】
检测系统
本技术涉及半导体检测
，特别是涉及一种检测系统。
技术介绍
LED(LightEmittingDiode，发光二极管)作为一种新型光源，具有发光效率高、体积小、寿命长和环保等有点，已广泛应用于各个领域中。LED光源一般包括PCB板以及设置在PCB板上的若干LED，在检测LED光源的各项性能时需要通过专业的检测仪器进行检测，尤其是LED漏电方面的检测，需要借助高倍数的显微镜进行检测，但是由于显微镜不方便查看和对检测是数据的处理，因此，如何将待检测的LED光源通过显微镜快捷方便处理是目前亟需解决的技术问题。
技术实现思路
本技术的主要目的在于克服现有技术的以上缺点和不足，提供一种检测系统。一种检测系统，用于检测LED漏电，包括：显微镜组件、中央处理器及显示屏，所述显微镜组件包括显微镜、设于所述显微镜正下方的载物台及用于探测LED的探针，所述LED放置于所述载物台上，所述探针设于所述显微镜下方侧面，所述显微镜及探针与所述中央处理器的输入端连接，所述显示屏与所述中央处理器的输出端连接。在其中一个实施例中，所述探针包括探针部和与所述探针部连接的连接部，所述探针部的末端抵顶所述载物台上的LED，所述连接部与所述中央处理器的输入端连接。在其中一个实施例中，所述载物台包括基座，该基座中部设置有中空部，所述基座上表面设置若干固定部，所述固定部向下延伸形成设有若干通孔，所述通孔与所述中空部连通，所述基座的一侧设置有连接孔，所述连接孔与所述中空部连通。在其中一个实施例中，所述基座为圆柱形，所述基座上表面设有若干圆形槽，所述圆形槽的圆心与基座的圆心相重合，所述通孔以圆形阵列方式分布在所述圆形槽的槽底，所述圆形槽界定出所述固定部。在其中一个实施例中，所述圆形槽包括第一圆形槽和第二圆形槽，所述第二圆形槽的周长大于第一圆形槽的周长，所述第一圆形槽界定出第一固定部，所述第二圆形槽界定出第二固定部，所述第二固定部包含第一固定部。在其中一个实施例中，所述第一圆形槽槽底的通孔为第一通孔，所述第二圆形槽槽底的通孔为第二通孔，所述第一通孔的周长大于第二通孔的周长。在其中一个实施例中，所述基座的上表面设有定位部。在其中一个实施例中，所述基座上表面的外缘设置有固定台。在其中一个实施例中，所述基座下表面设置有若干散热片。本技术检测系统包括显微镜组件、中央处理器及显示屏，所述显微镜组件包括显微镜、设于所述显微镜正下方的载物台及用于探测LED的探针，所述LED放置于所述载物台上，所述探针设于所述显微镜下方侧面，所述显微镜及探针与所述中央处理器的输入端连接，所述显示屏与所述中央处理器的输出端连接；本技术检测系统通过设置中央处理器将显微镜的数据进行处理并输送至显示屏进行编辑处理，方便快捷；此外，载物台通过通孔、中空部及连接孔与外置的吸气真空泵连通，通过真空泵吸气造成中空部及通孔与外界空气的压力差，从而使得盖设在通孔上的LED光源固定在基座上，本技术结构简单实用，在检测领域具有广泛的用途。附图说明图1为本技术检测系统的示意图；图2为本技术检测系统的显微镜组件的示意图；图3为图2所示技术检测系统的载物台的结构示意图；图4为图2所示技术检测系统的载物台的另一角度示意图；图5为图2所示技术检测系统的载物台的剖视图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳实施方式。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本技术的公开内容理解的更加透彻全面。需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参阅图1至图5，本技术提供的一种检测系统，用于检测LED漏电，包括显微镜组件、中央处理器及显示屏，所述显微镜组件包括显微镜1、设于所述显微镜1正下方的载物台2及用于探测LED的探针3，所述LED放置于所述载物台2上，所述探针3设于所述显微镜1下方侧面，所述显微镜1及探针3与所述中央处理器的输入端连接，所述显示屏与所述中央处理器的输出端连接。所述显微镜1和探针3将获得的观测数据和图像及时传输至中央处理器2，通过中央处理器2的处理将结果输送至显示屏。其中，所述探针3包括探针部31和与所述探针部31连接的连接部32，所述探针部31的末端抵顶所述载物台2上的LED，所述连接部32与所述中央处理器的输入端连接。其中，所述载物台2包括基座21，该基座21中部设置有中空部22，所述基座21上表面设置若干固定部23，所述固定部23向下延伸形成设有若干通孔24，所述通孔24与所述中空部23连通，所述基座21的一侧设置有连接孔25，所述连接孔25与所述中空部23连通。其中，所述基座21为圆柱形，所述基座21上表面设有若干圆形槽26，所述圆形槽26的圆心与基座21的圆心相重合，所述通孔24以圆形阵列方式分布在所述圆形槽26的槽底，所述圆形槽26界定出所述固定部23。其中，所述圆形槽26包括第一圆形槽261和第二圆形槽262，所述第二圆形槽262的周长大于第一圆形槽261的周长，所述第一圆形槽261界定出第一固定部231，所述第二圆形槽262界定出第二固定部232，所述第二固定部232包含第一固定部231。其中，所述第一圆形槽261槽底的通孔为第一通孔241，所述第二圆形槽261槽底的通孔为第二通孔242，所述第一通孔241的周长大于第二通孔242的周长，由于第一固定部231的表面积较小，需要较大的吸力方可将LED固定，因此第一通孔241的孔径较大。其中，所述基座21的上表面设有定位部27，所述定位部27用于设定载物台2的方向。其中，所述基座21上表面的外缘设置有固定台28，所述固定台28用于设置用于恒温或者防氧化的罩体。其中，所述基座21下表面设置有若干散热29，所述散热片29的形状包括但不限于U形、圆形或者翅片，本技术采用了风冷的散热方式，也可以采用水冷的散热方式，在此不再赘述。本技术检测系统包括显微镜组件、中央处理器及显示屏，所述显微镜组件包括显微镜、设于所述显微镜正下方的载物台及用于探测LED的探针，所述LED放置于所述载物台上，所述探针设于所述显微镜下方侧面，所述显微镜及探针与所述中央处理器的输入端连接，所述显示屏与所述中央处理器的输出端连接；本技术检测系统通过设置中央处理器将显微镜的数据进行处理并输送至显示屏进行编辑处理，方便快捷；此外，载物台通过通孔、中空部及连接孔与外置的吸气真空泵连通，通过真空泵吸气造成中空部及通孔与外界空气的压力差，从而使得盖设在通孔上的LED光源固定在基座上，本技术结构简单实用，在检测领域具有广本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测系统，用于检测LED漏电，其特征在于，包括：显微镜组件、中央处理器及显示屏，所述显微镜组件包括显微镜、设于所述显微镜正下方的载物台及用于探测LED的探针，所述LED放置于所述载物台上，所述探针设于所述显微镜下方侧面，所述显微镜及探针与所述中央处理器的输入端连接，所述显示屏与所述中央处理器的输出端连接。

【技术特征摘要】
1.一种检测系统，用于检测LED漏电，其特征在于，包括：显微镜组件、中央处理器及显示屏，所述显微镜组件包括显微镜、设于所述显微镜正下方的载物台及用于探测LED的探针，所述LED放置于所述载物台上，所述探针设于所述显微镜下方侧面，所述显微镜及探针与所述中央处理器的输入端连接，所述显示屏与所述中央处理器的输出端连接。2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于：所述探针包括探针部和与所述探针部连接的连接部，所述探针部的末端抵顶所述载物台上的LED，所述连接部与所述中央处理器的输入端连接。3.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于：所述载物台包括基座，该基座中部设置有中空部，所述基座上表面设置若干固定部，所述固定部向下延伸形成设有若干通孔，所述通孔与所述中空部连通，所述基座的一侧设置有连接孔，所述连接孔与所述中空部连通。4.根据权利要求3所述的检测系统，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：张跃宗，
申请(专利权)人：深圳信息职业技术学院，
类型：新型
国别省市：广东,44