This application relates to the selection of combined serial and parallel test access ports in the JTAG interface. The circuit is used to couple the test access port (TAP) signal to the Joint Test Action Group (JTAG) interface in IC packaging. The nTRST pin receives the test reset signal, the TMS pin receives the test mode selection signal, the test access port (TAP) has the test reset signal input and the test mode selection signal input, and the test access port (TAP) for debugging has the test reset signal input coupled to the nTRST pin and the test mode selection signal input coupled to the TMS pin. The inverter has an input coupled to the nTRST pin and an output coupled to the test reset signal input of the test TAP, and a first input coupled to the output of the inverter, a second input coupled to the TMS pin and an output coupled to the test mode selection input of the test TAP.
【技术实现步骤摘要】
在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择
本公开涉及根据IEEE1149.1标准的联合测试行动组(JTAG)测试或接口的领域,并且尤其涉及符合此标准但减少所使用的引脚数量并且减少延迟的设备特定功能性。
技术介绍
JTAG是用于IEEE1149.1标准的名称,其题为针对用于测试印刷电路板(PCB)和微处理器的测试访问端口(TAP)的标准测试访问端口和边界扫描架构。缩写JTAG代表联合测试行动组——制定IEEE1149.1标准的个体组织的名称。由JTAG所提供的功能性是向PCB和微处理器提供调试访问和边界扫描测试的功能性以及提供PCB和微处理器的调试访问和边界扫描测试的功能性。由调试工具使用调试访问来访问芯片的内部,从而使其资源和功能性可用和可修改,例如寄存器、存储器和系统状态。因此,可以使用调试访问来测试芯片本身的功能。由硬件测试工具使用边界扫描测试来测试芯片与印刷电路板(PCB)上的其他器件的物理连接。因此,可以使用边界扫描测试来测试芯片和其他器件之间的正确的电连接。调试功能在某些情况下可以利用一个TAP,而边界扫描功能则利用另一个TAP。然而,这可能需要使用额外的引脚来在它们之间进行选择,这高于JTAG标准所要求的最小值,这在某些场景中可能是不期望的。在一些实例中,边界扫描功能TAP和调试功能TAP二者可以串行连接。然而,这可能导致在边界扫描测试期间的延迟增加,这可能是不期望的。因此,需要在实现JTAG接口的硬件中的进一步开发。
技术实现思路
提供本
技术实现思路
来介绍下面在详细描述中进一步描述的概念的选择。本
技术实现思路
并非旨在标识所要求保护的主题的 ...
【技术保护点】
1.一种用于将测试访问端口(TAP)信号耦合到集成电路封装中的联合测试动作组(JTAG)接口的电路,所述电路包括:nTRST引脚,被配置为接收测试复位信号;TMS引脚,被配置为接收测试模式选择信号;测试用测试访问端口(TAP),具有测试复位信号输入和测试模式选择信号输入;调试用测试访问端口(TAP),具有耦合到所述nTRST引脚的测试复位信号输入和耦合到所述TMS引脚的测试模式选择信号输入;反相器,具有耦合到所述nTRST引脚的输入和耦合到所述测试用TAP的所述测试复位信号输入的输出;和与门,具有耦合到所述反相器的所述输出的第一输入、耦合到所述TMS引脚的第二输入和耦合到所述测试用TAP的测试模式选择输入的输出。
【技术特征摘要】
2017.08.28 US 15/688,1841.一种用于将测试访问端口(TAP)信号耦合到集成电路封装中的联合测试动作组(JTAG)接口的电路,所述电路包括:nTRST引脚,被配置为接收测试复位信号;TMS引脚,被配置为接收测试模式选择信号;测试用测试访问端口(TAP),具有测试复位信号输入和测试模式选择信号输入;调试用测试访问端口(TAP),具有耦合到所述nTRST引脚的测试复位信号输入和耦合到所述TMS引脚的测试模式选择信号输入;反相器,具有耦合到所述nTRST引脚的输入和耦合到所述测试用TAP的所述测试复位信号输入的输出;和与门,具有耦合到所述反相器的所述输出的第一输入、耦合到所述TMS引脚的第二输入和耦合到所述测试用TAP的测试模式选择输入的输出。2.根据权利要求1所述的电路,其中,当所述测试复位信号为生效时,选择所述测试用TAP并且将所述调试用TAP置于复位模式,并且根据所述测试模式选择信号控制所述测试用TAP的操作。3.根据权利要求1所述的电路,其中,当所述测试复位信号为无效时,选择所述调试用TAP并且将所述测试用TAP置于复位模式,并且根据所述测试模式选择信号控制所述调试用TAP的操作。4.根据权利要求1所述的电路,其中,所述电路否则将包括用于接收TAP选择信号的TAPSEL引脚,但是改为通过不包括所述TAPSEL引脚而将其总引脚数减少1。5.根据权利要求1所述的电路,其中,所述电路否则将包括用于接收TAP选择信号的TAPSEL引脚,但是改为具有通用输入输出引脚。6.根据权利要求1所述的电路,其中,所述JTAG接口包括符合题为标准测试访问端口和边界扫描架构的IEEE标准1149.1-2013的接口;其中所述测试复位信号包括根据IEEE标准1149.1-2013的nTRST信号;其中测试模式选择信号包括根据所述IEEE标准1149.1-2013的TMS信号;其中所述测试用TAP包括根据IEEE标准1149.1-2013的测试用TAP;并且其中所述调试用TAP包括根据IEEE标准1149.1-2013的调试用TAP。7.一种用于将测试访问端口(TAP)信号耦合到集成电路封装中的联合测试动作组(JTAG)接口的电路,所述电路包括:测试数据输入(TDI)引脚,被配置为接收测试数据输入信号;测试数据输出(TDO)引脚,被配置为输出测试数据输出信号;调试用测试访问端口(TAP)电路,具有耦合到所述TDI引脚的测试数据输入、以及旁路寄存器,所述旁路寄存器具有耦合到所述调试用TAP电路的所述测试数据输入的输入;多路复用器,具有耦合到所述TDI引脚的第一输入、耦合为接收来自所述调试用TAP电路的输出的第二输入、和输出;测试用测试访问端口(TAP)电路,具有耦合到所述多路复用器的输出的测试数据输入、以及数据寄存器,所述数据寄存器具有耦合到所述测试用TAP电路的所述测试数据输入的输入;其中所述调试用TAP电路还包括指令寄存器;其中所述测试用TAP电路还包括指令寄存器;胶合逻辑,被配置为控制所述多路复用器的切换,使得当所述调试用TAP电路和所述测试用TAP电路都处于移位数据寄存器(shift-dr)状态并且所述调试用TAP电路的所述指令寄存器包含旁路指令时,或者当所述调试用TAP电路和所述测试用TAP电路的所述指令寄存器都包含设备ID代码(IDCODE)指令时,所述测试数据输入信号耦合到所述测试用TAP电路的所述数据寄存器的输入,从而当所述调试用TAP电路和所述测试用TAP电路不都处于shift-dr状态或不处于shift-dr状态,并且所述调试用TAP电路不包含旁路指令或所述调试用TAP电路和所述测试用TAP电路不包含设备ID代码(IDCODE)指令时,所述调试用TAP电路的输出耦合到所述测试用TAP电路的所述数据寄存器的输入。8.根据权利要求7所述的电路,其中,所述胶合逻辑被配置为控制所述多路复用器的切换,使得当所述调试用TAP电路和所述测试用TAP电路都处于移位指令寄存器(shift-ir)状态时,所述调试用TAP电路的输出耦合到所述测试用TAP的所述指令寄存器的输入。9.根据权利要求8所述的电路,其中,所述JTAG接口包括满足题为标准测试访问端口和边界扫描架构的IEEE标准1149.1-2013的接口;其中所述测试用TAP电路包括根据IEEE标准1149.1-2013的测试用TAP电路;其中所述调试用TAP电路包括根据IEEE标准1149.1-2013的调试用TAP电路;其中所述测试数据输入信号包括符合IEEE标准1149.1-2013的测试数据输入信号;其中所述测试数据输出信号包括符合IEEE标准1149.1-2013的测试数据输出信号;其中所述shift-dr状态包括符合IEEE标准1149.1-2013的shift-dr状态;其中所述shift-ir状态包括符合IEEE标准1149.1-2013的shift-ir状态。10.一种将测试访问端口(TAP)信号耦合到集成电路封装中的联合测试动作组(JTAG)接口而不使用tap选择信号的方...
【专利技术属性】
技术研发人员:V·N·斯里尼瓦桑,M·沙玛,
申请(专利权)人:意法半导体国际有限公司,
类型:发明
国别省市:荷兰,NL
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