一种调试芯片的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种调试芯片的方法及装置，用于解决芯片内部模块在线功能调试和检测的问题。该方法包括：接收JTAG控制器发送的第一控制指令，第一控制指令包括接口选择信息；根据接口选择信息选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输芯片的测试结果信号；接收总线传输的测试结果信号；发送测试结果信号至JTAG控制器，以供调试使用。通过利用JTAG控制器进行芯片内部模块在线功能调试和检测，避免了对芯片定义冗余的调试接口，使对芯片内部模块的功能的在线调试和检测更为便捷，提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种调试芯片的方法及装置
本专利技术涉及硬件系统调试
，特别涉及一种调试芯片的方法及装置。
技术介绍
随着芯片技术的迅速发展，大型芯片功能复杂，集成的功能模块也越来越多。因此，在大规模的集成电路开发过程中，需要在芯片工作的情况下，采取必要的调试方法对内部信号进行功能调试，以检查功能是否正确。通常采用在芯片端口上直接定义调试端口，用外部逻辑分析仪进行调试。采用逻辑分析仪费用较高，给芯片的调试带来局限性。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种调试芯片的方法及装置，用于解决芯片内部模块在线功能调试和检测的问题。本专利技术的一个方面提供一种调试芯片的方法，包括：接收JTAG控制器发送的第一控制指令，第一控制指令包括接口选择信息；根据接口选择信息选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输芯片的测试结果信号；接收总线传输的测试结果信号；发送测试结果信号至JTAG控制器，以供调试使用。本专利技术一实施例中，该方法还包括发送测试结果信号至存储器，以存储测试结果信号；从存储器读取测试结果信号，其中，发送测试结果信号至JTAG控制器，包括：将从存储器读取的测试结果信号发送至JTAG控制器。本专利技术一实施例中，第一控制指令包括触发条件，其中发送测试结果信号至存储器包括：根据触发条件，发送测试结果信号至存储器。本专利技术一实施例中，根据触发条件，发送目标结果信号至存储器，包括：在总线累积传输的测试结果信号的大小达到预设位宽时，将累积传输的测试结果信号发送至存储器。本专利技术一实施例中，从JTAG控制器接收读取指令，其中，从存储器读取测试结果信号包括：在接收JTAG控制器发送的读取指令时，从存储器读取测试结果信号，其中JTAG是在接收到测试结果信号已经存储在存储器中的回复时发送所述读取指令的。本专利技术一实施例中，第一控制指令还包括分组选择信息，多个测试接口被分为多组测试接口；其中根据接口选择信息选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输芯片的测试结果信号，包括：根据分组选择信息，从多组测试接口中选择一组测试接口；根据接口选择信息从多组测试接口中选择第一测试接口传输测试结果信号。本专利技术一实施例中，多组测试接口根据芯片中分别与多组测试接口连接的多个模块的相关性进行分组。本专利技术的另一个方面提供一种调试芯片的装置，包括：接收单元，用于接收JTAG控制器发送的第一控制指令，第一控制指令包括接口选择信息；选取单元，用于根据接口选择信息选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输芯片的测试结果信号；接收单元，还用于接收总线传输的测试结果信号；发送单元，还用于发送测试结果信号至JTAG控制器，以供调试使用。本专利技术的另一个方面提供一种调试芯片的装置，包括：控制器、总线和JTAG控制器，其中，总线与控制器以及芯片的多个测试接口相连接，用于传输芯片的测试结果信号；控制器与总线以及JTAG控制器相连接，用于与JTAG控制器进行通讯，以及控制总线传输芯片的测试结果信号；JTAG控制器与控制器相连接，用于实现PC端和控制器之间的通信。本专利技术的另一个方面提供一种调试芯片的装置，包括处理器和存储器，其中：所述存储器用于存储如上所述的任一项的调试芯片的方法的程序。所述处理器用于执行所述程序。本专利技术实施例提供的调试芯片的方法，通过接收JTAG控制器发送的第一控制指令中包含的接口选择信息，选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输的测试结果信号，测试结果信号通过总线传输并最终发送给JTAF控制器，以供调试使用。本专利技术的调试芯片的方法，利用总线连接芯片与控制器，并通过控制器最终将测试结果信号发送给JTAG控制器，使得对芯片内部模块的功能的在线调试过程中，避免了对芯片定义过多的调试接口，使对芯片内部模块的功能的在线调试和检测更为便捷。附图说明图1为本专利技术实施例的一种调试芯片的方法的流程图。图2所示为本专利技术另一实施例提供的一种调试芯片的方法的流程图。图3所示为本专利技术另一实施例提供的一种调试芯片的方法的流程图。图4所示为本专利技术一实施例提供的一种调试芯片的方法的总线分级示意图。图5为本专利技术实施例的一种调试芯片的装置结构图。图6为本专利技术实施例的一种调试芯片的装置结构图。图7为本专利技术实施例的一种调试芯片的计算机装置的框图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。附图中的步骤编号仅用于作为该步骤的附图标记，不表示执行顺序。图1为本专利技术实施例的一种调试芯片的方法的流程图。该方法可以由控制器，例如，调试(Debug)控制器，执行。该控制器可以集成在芯片上，也可以独立设置。如图1所示，该方法包括如下内容：步骤110：接收JTAG控制器发送的第一控制指令，第一控制指令包括接口选择信息。控制器接收PC通过JTAG控制器发送的第一控制指令，第一控制指令包括接口选择信息。待测试芯片可以通过多个测试接口与总线相连接，不同的测试接口可以是对应不同项目的测试数据，也就是测试结果信号。步骤120：根据接口选择信息选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输芯片的测试结果信号。为了得到测试所需的测试结果信号，控制器控制总线在多个测试接口中选择待测芯片相应的第一测试接口，以便将第一测试接口的测试结果信号传输给控制器。步骤130：接收总线传输的测试结果信号。控制器控制总线响应第一控制指令，将第一测试接口的测试结果信号通过总线传输给控制器。步骤140：发送测试结果信号至JTAG控制器，以供调试使用。控制器将测试结果信号发送给JTAG控制器，并最终通过JTAG控制器发送给PC，以等待PC发送进一步的指令，对芯片进行调试。本专利技术实施例提供的调试芯片的方法通过利用JTAG控制器进行芯片内部模块在线功能调试和检测，避免了对芯片定义冗余的调试接口，使对芯片内部模块的功能的在线调试和检测更为便捷。图2所示为本专利技术另一实施例提供的一种调试芯片的方法的流程图.在本实施例中，步骤210-230和图1所示实施例中的步骤110-130基本相同，不再重复描述。如图2所示，本实施例在图1所示实施例的基础上，进一步包括下述步骤240和250。步骤240：发送所述测试结果信号至存储器，以存储所述测试结果信号。具体地，待测芯片运行时，内部模块的测试数据可以是动态的，或者测试数据与测试端口的读取速度不匹配，此时对于测试结果不便于实时观看，这是可以将该模块对应的测试结果信号通过总线传输到存储器，例如，可以通过静态随机存储器(SRAM，StaticRandom-AccessMemory)进行存储，也可以通过动态随机存取存储器(DRAM，DynamicRandomAccessMemory)进行存储。以便于外部PC通过JTAG控制器需要读取的时候，存储器可以将测试结果信号发送给控制器以满足测试需要。步骤250：从所述存储器读取所述测试结果信号。外部PC通过JTAG控制器需要读取测试结果信号时，控制器从存储器读取测试结果信号，并发送给JTAG控制器。步骤260：发送所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种调试芯片的方法，其特征在于，包括：接收JTAG控制器发送的第一控制指令，所述第一控制指令包括接口选择信息；根据所述接口选择信息选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输所述芯片的测试结果信号；接收所述总线传输的所述测试结果信号；发送所述测试结果信号至所述JTAG控制器，以供调试使用。

【技术特征摘要】
1.一种调试芯片的方法，其特征在于，包括：接收JTAG控制器发送的第一控制指令，所述第一控制指令包括接口选择信息；根据所述接口选择信息选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输所述芯片的测试结果信号；接收所述总线传输的所述测试结果信号；发送所述测试结果信号至所述JTAG控制器，以供调试使用。2.根据权利要求1所述的调试芯片的方法，其特征在于，还包括：发送所述测试结果信号至存储器，以存储所述测试结果信号；从所述存储器读取所述测试结果信号，其中，所述发送所述测试结果信号至所述JTAG控制器，包括：将从所述存储器读取的所述测试结果信号发送至所述JTAG控制器。3.根据权利要求2所述的调试芯片的方法，其特征在于，所述第一控制指令包括触发条件，其中所述发送所述测试结果信号至存储器包括：根据所述触发条件，发送所述测试结果信号至所述存储器。4.根据权利要求3所述的调试芯片的方法，其特征在于，根据所述触发条件，发送所述目标结果信号至所述存储器，包括：在所述总线累积传输的测试结果信号的大小达到预设位宽时，将所述累积传输的测试结果信号发送至所述存储器。5.根据权利要求2所述的芯片调试方法，其特征在于，还包括：从所述JTAG控制器接收读取指令，其中，所述从所述存储器读取所述测试结果信号包括：在接收所述JTAG控制器发送的读取指令时，从所述存储器读取所述测试结果信号，其中所述JTAG是在接收到所述测试结果信号已经存储在所述存储器中的回复时发送所述读取指令的。6.根据权利要求1至4中的任一项所述的调试芯片的方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：万红星，
申请(专利权)人：北京中星微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11