专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
北京中星微电子有限公司
>
一种调试芯片的方法及装置制造方法及图纸
>技术资料下载
下载一种调试芯片的方法及装置的技术资料
文档序号:20483042
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明实施例提供了一种调试芯片的方法及装置,用于解决芯片内部模块在线功能调试和检测的问题。该方法包括:接收JTAG控制器发送的第一控制指令,第一控制指令包括接口选择信息;根据接口选择信息选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输...
该专利属于北京中星微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京中星微电子有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。