下载一种调试芯片的方法及装置的技术资料

文档序号:20483042

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本发明实施例提供了一种调试芯片的方法及装置,用于解决芯片内部模块在线功能调试和检测的问题。该方法包括:接收JTAG控制器发送的第一控制指令,第一控制指令包括接口选择信息;根据接口选择信息选择与总线连接的芯片的多个测试接口中的第一测试接口传输...
该专利属于北京中星微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京中星微电子有限公司授权不得商用。

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