一种自动测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光电开关技术领域，公开了一种自动测试装置，该自动测试装置包括检测台，检测台包括工作台面，工作台面具有上料空间、装料空间、检测工位、下料工位；上料空间包括上料工位和第一料管存放工位，装料空间包括装料工位和第二料管存放工位；该自动检测装置还包括推料组件、第一料管转移组件、检测组件、芯片转移组件、装料组件、第二料管转移组件和控制模块。上述自动测试装置实现了对光电开关的芯片的自动检测，提高了检测效率，且对光电开关的芯片进行了无光电流检测，同时有效防止了测试过程中光电开关的芯片的引脚变形的情况。

【技术实现步骤摘要】
一种自动测试装置
本技术涉及光电开关
，特别涉及一种自动测试装置。
技术介绍
光电开关作为各类运动部件限位、闭环反馈信号的有效传感器之一，在各行各业运用广泛。在空调中作为其滑动门是否滑动到位的关键传感器，直接影响到整机的正常工作。其芯片的输入、输出的正向电流、反向电流、无光电流、集电极电流以及饱和电压等参数，属于出厂、入厂检验的必要内容和关键质量指标。目前对于此类参数测试，依靠晶体管特性图示仪人工手动测试，存在测试效率低下、无光电流无法测试和测试导致引脚变形的情况。
技术实现思路
本技术提供了一种自动测试装置，上述自动测试装置实现了对光电开关的芯片的自动检测，提高了检测效率，且对光电开关的芯片进行了无光电流检测，同时有效防止了测试过程中光电开关的芯片的引脚变形的情况。为达到上述目的，本技术提供以下技术方案：一种自动测试装置，用于对光电开关的芯片进行自动检测，包括检测台，检测台包括工作台面，工作台面具有上料空间、装料空间、检测工位、待装料工位、下料工位；上料空间包括上料工位和用于存放卸载完芯片的空料管的第一料管存放工位，装料空间包括装料工位和用于存放装载满合格芯片的料管的第二料管存放工位；用于将处于上料工位的料管内的芯片推动至检测工位的推料组件；用于将上料工位处卸完芯片的空料管转移至第一料管存放工位的第一料管转移组件；用于对处于检测工位处的芯片进行检测的检测组件；用于将检测工位处检测合格的芯片转移至待装料工位、且将检测工位处检测不合格芯片转移至下料工位的芯片转移组件；用于将处于待装料工位、的芯片推入处于装料工位的料管内的装料组件；用于将装料工位上装满芯片的料管转移至第二料管存放工位的第二料管转移组件；控制模块，与所述推料组件、第一料管转移组件、检测组件、芯片转移组件、装料组件、第二料管转移组件信号连接，以控制所述推料组件、第一料管转移组件、检测组件、芯片转移组件、装料组件、第二料管转移组件动作。上述自动测试装置在使用过程中，首先将装满待测光电开关的料管放入上料空间的上料工位中，然后由推料组件将上料工位中的料管内的光电开关推动至检测工位进行检测，上料工位中卸载完光电开关后的空管由第一料管转移组件转移到第一料管存放工位，检测工位中检测合格的光电开关经芯片转移组件转移至与装料空间的装料工位相对的位置后由装料组件推入装料工位中的空料管中，待装料工位中的空料管装满后由第二料管转移组件将装满合格芯片的料管转移至第二料管存放工位；检测工位检测后不合格的光电开关经芯片转移组件转移至下料工位，上述自动测试装置完成了对光电开关的芯片的自动检测，同时完成了对合格的光电开关和不合格的光电开关的分类收集，将合格的光电开关装入料管，将不合格的光电开关推到下料工位并进行收集，其中控制模块负责与所述推料组件、第一料管转移组件、检测组件、芯片转移组件、装料组件、第二料管转移组件信号连接，并控制所述推料组件、第一料管转移组件、检测组件、芯片转移组件、装料组件、第二料管转移组件动作；开机通电后，控制模块接收各部分的光电开关信号，判定推料组件、第一料管转移组件、检测组件、芯片转移组件、装料组件、第二料管转移组件是否待机状态良好。待机正常后，驱动推料组件将上料工位中的待测光电开关推入检测工位，驱动检测组件进行测试，并进行合格与否判断和动作。重复接收各部分的信号，重复驱动各部分动作。由此实现了对光电开关的芯片的自动检测，节省了人力且大大提高了工作效率。优选地，所述工作台面上设置有沿第一方向排列且相对设置的第一限位板和第二限位板，所述第一限位板和第二限位板垂直于所述工作台面，所述第一限位板朝向所述第二限位板的表面形成有延伸方向与所述工作台面垂直、且排列方向与所述第一方向垂直的第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽和第四凹槽，所述第二限位板朝向所述第一限位板的表面形成有延伸方向与所述工作台面垂直、且排列方向与所述第一方向垂直的第五凹槽、第六凹槽、第七凹槽和第八凹槽，所述第一凹槽与所述第五凹槽之间形成有所述第一料管存放工位，所述第二凹槽和所述第六凹槽之间形成有所述上料工位，所述第三凹槽与所述第七凹槽之间形成有所述装料工位，所述第四凹槽和所述第八凹槽之间形成有所述第二料管存放工位；所述检测工位位于所述第一限位板背离所述第二限位板的一侧，且所述第二凹槽的槽底形成有贯穿所述第一限位板厚度的出料口，所述第三凹槽的槽底形成有贯穿所述第一限位板厚度的进料口。优选地，所述第一凹槽和所述第二凹槽共用的槽壁与所述工作台面之间、所述第三凹槽和所述第四凹槽共用的槽壁与所述工作台面之间、所述第五凹槽和所述第六凹槽共用的槽壁与所述工作台面之间、所述第七凹槽和所述第八凹槽共用的槽壁与所述工作台面之间均设有用于料管转移的料管转移通道。优选地，所述第六凹槽的槽底上设有推料口，所述推料组件包括：设置于所述第二限位板背离所述第一限位板一侧、且沿所述第一方向延伸的导轨；可沿所述导轨滑动地设置于所述导轨的转接台；安装于所述转接台、且用于自所述推料口伸入所述上料工位内存放的料管内的第一推料尺；驱动所述转接台动作的推料驱动组件。优选地，所述推料驱动组件包括：安装于所述检测台的传送链条，所述转接台安装于所述传送链条；驱动所述传送链条动作的步进电机。优选地，所述第一推料尺与所述转接台连接的一端与所述转接台之间设有弹簧和用于检测第一推料尺位置的光电开关。优选地，所述检测台设有贯穿其厚度方向、且沿垂直于所述第一方向延伸的第一滑槽；所述第一料管转移组件包括：至少一个位于所述检测台背离所述工作台面一侧、且可沿垂直于所述上料工位的延伸方向且平行于工作台面的方向设置于所述检测台的第一部分，每一个所述第一部分上设有可沿垂直于所述工作台面的方向动作的第二部分；当所述第二部分处于工作状态时，所述第二部分的一部分穿过所述第一滑槽以高出所述工作台面，当所述第二部分处于收起状态时，所述第二部分不高于所述工作台面；安装于所述检测台且用于驱动所述第一部分动作的第一驱动装置。优选地，所述第一驱动装置包括气缸或丝杠组件，所述第一部分包括滑块。优选地，所述第一驱动装置通过设置于所述检测台背离所述工作台面一侧的连杆和设置于所述连杆远离所述检测台一侧的连接板固定于所述检测台。优选地，所述第一凹槽的槽底上形成有第一卡槽，且所述第五凹槽的槽底上设有第二卡槽，所述第一卡槽和第二卡槽形成用于限制第一料管存放工位内的料管向靠近所述工作台面方向动作的单向倒扣机构，所述自动测试装置还包括至少一个用于将所述第一料管存放工位中的空料管沿垂直于所述工作台面向远离所述工作台面方向推动以使空料管与所述单向倒扣机构卡接的第三料管转移组件。优选地，所述检测台与所述第一料管存放工位对应的部位形成有第一通槽，且所述第三料管转移组件包括：设置于所述检测台、且可自所述第一通槽且沿垂直于所述工作台面方向升降的第一推板组件，当所述第一推板组件上升时用于推动位于所述单向倒扣机构下方的空料管上推至与所述单向倒扣机构卡接；安装于所述测试台、以驱动所述第一推板组件动作的第二驱动装置。优选地，所述第二驱动装置包括气缸。优选地，所述气缸的缸体通过设置于所述检测台背离所述工作台面一侧的连杆和设置于所述连杆远离所述检测台一侧的连接板固定于所述检测台。优选地，所述检测台设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动测试装置，用于对光电开关的芯片进行自动检测，其特征在于，包括检测台，所述检测台包括工作台面，所述工作台面具有上料空间、装料空间、检测工位、待装料工位、下料工位；所述上料空间包括上料工位和用于存放卸载完芯片的空料管的第一料管存放工位，所述装料空间包括装料工位和用于存放装载满合格芯片的料管的第二料管存放工位；用于将处于所述上料工位的料管内的芯片推动至所述检测工位的推料组件；用于将所述上料工位处卸完芯片的空料管转移至所述第一料管存放工位的第一料管转移组件；用于对处于所述检测工位处的芯片进行检测的检测组件；用于将所述检测工位处检测合格的芯片转移至所述待装料工位、且将所述检测工位处检测不合格芯片转移至所述下料工位的芯片转移组件；用于将处于所述待装料工位的芯片推入处于所述装料工位的料管内的装料组件；用于将所述装料工位上装满芯片的料管转移至所述第二料管存放工位的第二料管转移组件；控制模块，与所述推料组件、第一料管转移组件、检测组件、芯片转移组件、装料组件、第二料管转移组件信号连接，以控制所述推料组件、第一料管转移组件、检测组件、芯片转移组件、装料组件、第二料管转移组件动作。

【技术特征摘要】
1.一种自动测试装置，用于对光电开关的芯片进行自动检测，其特征在于，包括检测台，所述检测台包括工作台面，所述工作台面具有上料空间、装料空间、检测工位、待装料工位、下料工位；所述上料空间包括上料工位和用于存放卸载完芯片的空料管的第一料管存放工位，所述装料空间包括装料工位和用于存放装载满合格芯片的料管的第二料管存放工位；用于将处于所述上料工位的料管内的芯片推动至所述检测工位的推料组件；用于将所述上料工位处卸完芯片的空料管转移至所述第一料管存放工位的第一料管转移组件；用于对处于所述检测工位处的芯片进行检测的检测组件；用于将所述检测工位处检测合格的芯片转移至所述待装料工位、且将所述检测工位处检测不合格芯片转移至所述下料工位的芯片转移组件；用于将处于所述待装料工位的芯片推入处于所述装料工位的料管内的装料组件；用于将所述装料工位上装满芯片的料管转移至所述第二料管存放工位的第二料管转移组件；控制模块，与所述推料组件、第一料管转移组件、检测组件、芯片转移组件、装料组件、第二料管转移组件信号连接，以控制所述推料组件、第一料管转移组件、检测组件、芯片转移组件、装料组件、第二料管转移组件动作。2.根据权利要求1所述的自动测试装置，其特征在于，所述工作台面上设置有沿第一方向排列且相对设置的第一限位板和第二限位板，所述第一限位板和第二限位板垂直于所述工作台面，所述第一限位板朝向所述第二限位板的表面形成有延伸方向与所述工作台面垂直、且排列方向与所述第一方向垂直的第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽和第四凹槽，所述第二限位板朝向所述第一限位板的表面形成有延伸方向与所述工作台面垂直、且排列方向与所述第一方向垂直的第五凹槽、第六凹槽、第七凹槽和第八凹槽，所述第一凹槽与所述第五凹槽之间形成有所述第一料管存放工位，所述第二凹槽和所述第六凹槽之间形成有所述上料工位，所述第三凹槽与所述第七凹槽之间形成有所述装料工位，所述第四凹槽和所述第八凹槽之间形成有所述第二料管存放工位；所述检测工位位于所述第一限位板背离所述第二限位板的一侧，且所述第二凹槽的槽底形成有贯穿所述第一限位板厚度的出料口，所述第三凹槽的槽底形成有贯穿所述第一限位板厚度的进料口。3.根据权利要求2所述的自动测试装置，其特征在于，所述第一凹槽和所述第二凹槽共用的槽壁与所述工作台面之间、所述第三凹槽和所述第四凹槽共用的槽壁与所述工作台面之间、所述第五凹槽和所述第六凹槽共用的槽壁与所述工作台面之间、所述第七凹槽和所述第八凹槽共用的槽壁与所述工作台面之间均设有用于料管转移的料管转移通道。4.根据权利要求2所述的自动测试装置，其特征在于，所述第六凹槽的槽底上设有推料口，所述推料组件包括：设置于所述第二限位板背离所述第一限位板一侧、且沿所述第一方向延伸的导轨；可沿所述导轨滑动地设置于所述导轨的转接台；安装于所述转接台、且用于自所述推料口伸入所述上料工位内存放的料管内的第一推料尺；驱动所述转接台动作的推料驱动组件。5.根据权利要求4所述的自动测试装置，其特征在于，所述推料驱动组件包括：安装于所述检测台的传送链条，所述转接台安装于所述传送链条；驱动所述传送链条动作的步进电机。6.根据权利要求4所述的自动测试装置，其特征在于，所述第一推料尺与所述转接台连接的一端与所述转接台之间设有弹簧和用于检测第一推料尺位置的光电开关。7.根据权利要求2所述的自动测试装置，其特征在于，所述检测台设有贯穿其厚度方向、且沿垂直于所述第一方向延伸的第一滑槽；所述第一料管转移组件包括：至少一个位于所述检测台背离所述工作台面一侧、且可沿垂直于所述上料工位的延伸方向且平行于工作台面的方向设置于所述检测台的第一部分，每一个所述第一部分上设有可沿垂直于所述工作台面的方向动作的第二部分；当所述第二部分处于工作状态时，所述第二部分的一部分穿过所述第一滑槽以高出所述工作台面，当所述第二部分处于收起状态时，所述第二部分不高于所述工作台面；安装于所述检测台且用于驱动所述第一部分动作的第一驱动装置。8.根据权利要求7所述的自动测试装置，其特征在于，所述第一驱动装置包括气缸或丝杠组件，所述第一部分包括滑块。9.根据权利要求7所述的自动测试装置，其特征在于，所述第一驱动装置通过设置于所述检测台背离所述工作台面一侧的连杆和设置于所述连杆远离所述检测台一侧的连接板固定于所述检测台。10.根据权利要求2所述的自动测试装置，其特征在于，所述第一凹槽的槽底上形成有第一卡槽，且所述第五凹槽的槽底上设有第二卡槽，所述第一卡槽和第二卡槽形成用于限制第一料管存放工位内的料管向靠近所述工作台面方向动作的单向倒扣机构，所述自动测试装置还包括至少一个用于将所述第一料管存放工位中的空料管沿垂直于所述工作台面向...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡辉辉，张靖，房涛，雷鹏，廖珂，胡建辉，康扬，刘爽，
申请(专利权)人：格力电器武汉有限公司，珠海格力电器股份有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北,42