The invention discloses a test method for the influence of temperature on the conductivity of space dielectric materials. Two identical test samples are placed on a temperature control test bench. One sample is used for conductivity test and the other sample is used for temperature test, thereby realizing the test of the influence of temperature on the conductivity of space dielectric materials. The invention proposes that two identical test samples are placed on a temperature control test bench to keep them in the same temperature state. One sample is used for conductivity test and the other sample is used for temperature test. The problem of mutual interference between conductivity and temperature test signals of dielectric materials is solved, thus providing a more convenient and easy test for conductivity test of dielectric materials at different temperatures. Test method.
【技术实现步骤摘要】
一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法
本专利技术涉及一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法,适用于不同温度下空间介质材料电导率的测试,属于试验领域。
技术介绍
卫星研制过程中将不可避免地采用大量的介质材料,而卫星在轨运行期间由于光照的影响介质材料将工作于不同的温度下(采取温控措施后温度一般为±几十摄氏度),导致材料性能发生变化,其中电导率决定了空间介质材料的绝缘性能,是重要的特性参数。目前电导率测试方法通常采用三电极法(国标《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法,GB/T1410-2006》),需要在材料样品连接三个电极装置,而温度测试中也需要材料连接热偶电阻。由于介质材料的导电性差,电导率测试信号一般为弱电流信号,而热偶电阻的连接将对弱电流信号测试产生很大干扰,导致测试结果误差较大(甚至无法完成测试),因此不同温度下空间介质材料电导率测试尚未有较好地试验方法。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题是:提供一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法,适用于不同温度下空间介质材料电导率的测试。本专利技术的技术解决方案是:将两个完全相同的测试样品置于温控试验台上,一个样品用于电导率测试,另一个样品用于温度测试,从而实现温度对空间介质材料电导率影响的测试,步骤如下:(1)、准备两个完全相同的测试样品即1#样品和2#样品及电极装置,并放置于温控试验台中心对称位置;(2)、调节温控试验台温度,测试两个样品温度的均衡性;如果两个样品温度一致,则认为两个样品温度具有均衡性,进行步骤(3);否则进行步骤(1);(3)、将1#样品用于电导率测试,2#样品用于温 ...
【技术保护点】
1.一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法,其特征在于,将两个完全相同的测试样品置于温控试验台上,一个样品用于电导率测试,另一个样品用于温度测试,从而实现温度对空间介质材料电导率影响的测试,步骤如下:(1)、准备两个完全相同的测试样品即1#样品和2#样品及电极装置,并放置于温控试验台中心对称位置;(2)、调节温控试验台温度,测试两个样品温度的均衡性;如果两个样品温度一致,则认为两个样品温度具有均衡性,进行步骤(3);否则进行步骤(1);(3)、将1#样品用于电导率测试,2#样品用于温度测试,调节温控试验台温度完成不同温度下空间介质材料电导率的测试。
【技术特征摘要】
1.一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法,其特征在于,将两个完全相同的测试样品置于温控试验台上,一个样品用于电导率测试,另一个样品用于温度测试,从而实现温度对空间介质材料电导率影响的测试,步骤如下:(1)、准备两个完全相同的测试样品即1#样品和2#样品及电极装置,并放置于温控试验台中心对称位置;(2)、调节温控试验台温度,测试两个样品温度的均衡性;如果两个样品温度一致,则认为两个样品温度具有均衡性,进行步骤(3);否则进行步骤(1);(3)、将1#样品用于电导率测试,2#样品用于温度测试,调节温控试验台温度完成不同温度下空间介质材料电导率的测试。2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述步骤1中两个测试样品的结构尺寸、电极装置完全一致,其中电极装置参照国标《...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈益峰,王金晓,高远浩,
申请(专利权)人:许昌学院,
类型:发明
国别省市:河南,41
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