一种测量方法、装置及终端制造方法及图纸

本文公开了一种测量方法、装置及终端。所述测量方法包括：通过光收发单元向待测物表面发射第一光束，利用所述第一光束对所述待测物表面的待测线进行平移扫描或转动扫描，通过所述光收发单元接收所述待测物表面反射的第二光束；根据所述第一光束和所述第二光束确定所述待测线上各个扫描点到所述光收发单元的距离，根据各个扫描点到所述光收发单元的距离以及所述第一光束平移的距离或转动的角度确定所述待测线的长度。本文的技术方案能够方便准确地测量长度。

【技术实现步骤摘要】
一种测量方法、装置及终端
本专利技术涉及终端
，尤其涉及的是一种测量方法、装置及终端。
技术介绍
目前，终端的迅速发展使终端上设置的应用越来越多，例如，可以通过终端来测量物体的长度，诸如桌子、门、箱子、电视机等物体的长度。相关技术中，终端可以通过自身的摄像头对目标物体拍照并获得拍摄照片，利用图像处理技术并参考基准长度，对目标物体的拍摄照片进行处理，获得目标物体的长度。但是，如果采用拍摄照片的测量方法，容易受到终端摄像头的分辨率、拍照成像的清晰度、环境的明暗度以及拍摄时摄像头的角度等因素影响而导致测量误差较大。另外，先拍照才能测量曲线增加了测量的复杂度。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种测量方法、装置及终端，能够方便准确地测量长度。本专利技术实施例提供一种测量方法，应用于测量终端，包括：通过光收发单元向待测物表面发射第一光束，利用所述第一光束对所述待测物表面的待测线进行平移扫描或转动扫描，通过所述光收发单元接收所述待测物表面反射的第二光束；根据所述第一光束和所述第二光束确定所述待测线上各个扫描点到所述光收发单元的距离，根据各个扫描点到所述光收发单元的距离以及所述第一光束平移的距离或转动的角度确定所述待测线的长度。本专利技术实施例提供一种测量装置，应用于测量终端，包括：扫描模块，用于通过光收发单元向待测物表面发射第一光束，利用所述第一光束对所述待测物表面的待测线进行平移扫描或转动扫描，通过所述光收发单元接收所述待测物表面反射的第二光束；计算模块，用于根据所述第一光束和所述第二光束确定所述待测线上各个扫描点到所述光收发单元的距离，根据各个扫描点到所述光收发单元的距离以及所述第一光束平移的距离或转动的角度确定所述待测线的长度。本专利技术实施例提供一种测量终端，包括：光收发单元，配置为向待测物的表面发射第一光束并接收待测物的表面反射的第二光束；存储器，配置为存储测量程序；处理器，配置为执行所述测量程序；其中，所述测量程序被所述处理器执行时实现上述测量方法的步骤。本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有测量程序，所述测量程序被处理器执行时实现上述权利要求1-8中任一项所述的测量方法的步骤。与相关技术相比，本专利技术提供的一种测量方法、装置及终端，通过光收发单元向待测物表面发射第一光束，利用所述第一光束对所述待测物表面的待测线进行平移扫描或转动扫描，通过所述光收发单元接收所述待测物表面反射的第二光束；根据所述第一光束和所述第二光束确定所述待测线上各个扫描点到所述光收发单元的距离，根据各个扫描点到所述光收发单元的距离以及所述第一光束平移的距离或转动的角度确定所述待测线的长度。本文的技术方案能够方便准确地测量长度，还能实现曲线建模和曲面建模。附图说明图1为本专利技术实施例1的一种测量方法流程图；图2为本专利技术实施例2的一种测量装置示意图；图3为本专利技术实施例2的一种测量装置示意图(带曲线建模模块)；图4为本专利技术实施例2的一种测量装置示意图(带曲面建模模块)；图5为本专利技术示例1中测量终端采用转动扫描的示意图；图6为本专利技术示例1中测量APP的用户界面示意图；图7为本专利技术示例1中转动扫描方式下一小段待测线的长度计算示意图；图8为本专利技术示例1中多个光收发单元的示意图。图9为本专利技术示例2中测量终端采用平移扫描的示意图；图10为本专利技术示例2中平移扫描方式下一小段待测线的长度计算示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。实施例1如图1所示，本专利技术实施例提供了一种测量方法，应用于测量终端，包括：步骤S110，通过光收发单元向待测物表面发射第一光束，利用所述第一光束对所述待测物表面的待测线进行平移扫描或转动扫描，通过所述光收发单元接收所述待测物表面反射的第二光束；步骤S120，根据所述第一光束和所述第二光束确定所述待测线上各个扫描点到所述光收发单元的距离，根据各个扫描点到所述光收发单元的距离以及所述第一光束平移的距离或转动的角度确定所述待测线的长度。其中，所述待测物的表面可以为平面、曲面或不规则面；其中，所述待测线可以为直线或曲线；其中，所述光收发单元包括：发射和接收激光的光收发单元；其中，所述平移扫描包括：所述光收发单元沿着所述待测线的长度方向进行平移，在平移的过程中进行扫描；所述转动扫描包括：所述光收发单元以所述测量终端的第一底边为轴进行转动，在转动的过程中进行扫描。在一种实施方式中，所述方法还包括：在平移扫描或转动扫描的过程中，建立所述待测线的曲线模型；在一种实施方式中，所述根据所述第一光束和所述第二光束确定所述待测线上各个扫描点到所述光收发单元的距离，包括：根据所述第一光束的发射时间和所述第二光束的接收时间的差值确定所述待测线上各个扫描点到所述光收发单元的距离；在一种实施方式中，当所述扫描是平移扫描时，所述建立所述待测线的曲线模型，包括：建立第一平面，所述第一平面是第一光束所在的平面；在所述第一平面内以光收发单元的平移轨迹作为参考基准线，根据各个扫描点到所述光收发单元的距离生成与所述参考基准线对应的实际扫描轨迹；将生成的实际扫描轨迹作为所述待测线的曲线模型。在一种实施方式中，当所述扫描是转动扫描时，所述建立所述待测线的曲线模型，包括：建立第一平面和第二平面，所述第一平面是第一光束所在的平面，所述第二平面是包含所述测量终端第一底边的参考平面；在所述第一平面内建立参考扫描线，所述参考扫描线是光收发单元扫描第二平面生成的扫描轨迹，建立所述扫描轨迹上每一个参考扫描点的转动角与参考扫描点到光收发单元距离的对应关系；其中，所述参考扫描点的转动角是光收发单元扫描该参考扫描点时测量终端的底面与所述第二平面的夹角；从所述待测线的起点开始，对所述待测线上的第i个实际扫描点，根据该实际扫描点的转动角αi查询具有相同转动角的参考扫描线上的参考扫描点的距离yi，根据该实际扫描点的转动角αi、该实际扫描点到光收发单元的距离yi'以及参考扫描点到光收发单元的距离yi确定该实际扫描点到所述参考扫描点的偏移量Δdi；其中，所述实际扫描点的转动角是光收发单元扫描该实际扫描点时测量终端的底面与所述第二平面的夹角；Δdi＝(yi-yi')cosαi；其中，当Δdi为正数时，所述实际扫描点在所述参考扫描点的上方，当Δdi为负数时，所述实际扫描点在所述参考扫描点的下方；根据各个实际扫描点与参考扫描点的偏移量Δdi生成与所述参考扫描线对应的实际扫描轨迹；将生成的实际扫描轨迹作为所述待测线的曲线模型。在一种实施方式中，所述方法还包括：对所述待测物表面进行逐行扫描或逐列扫描，通过每一行扫描或每一列扫描后获得该行或该列待测线对应的曲线模型，将所有的行扫描或所有的列扫描后获得的曲线模型拼成一个曲面模型；在一种实施方式中，根据各个扫描点到所述光收发单元的距离以及所述第一光束平移的距离确定所述待测线的长度，包括：根据所述待测线上相邻两个扫描点到所述光收发单元的距离a和b，以及所述光收发单元在扫描这两个相邻扫描点时平移的距离d计算所述相邻两个扫描点之间的距离s；其中，a是第一扫描点到所述光收发单元的距离，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量方法，应用于测量终端，包括：通过光收发单元向待测物表面发射第一光束，利用所述第一光束对所述待测物表面的待测线进行平移扫描或转动扫描，通过所述光收发单元接收所述待测物表面反射的第二光束；根据所述第一光束和所述第二光束确定所述待测线上各个扫描点到所述光收发单元的距离，根据各个扫描点到所述光收发单元的距离以及所述第一光束平移的距离或转动的角度确定所述待测线的长度。

【技术特征摘要】
1.一种测量方法，应用于测量终端，包括：通过光收发单元向待测物表面发射第一光束，利用所述第一光束对所述待测物表面的待测线进行平移扫描或转动扫描，通过所述光收发单元接收所述待测物表面反射的第二光束；根据所述第一光束和所述第二光束确定所述待测线上各个扫描点到所述光收发单元的距离，根据各个扫描点到所述光收发单元的距离以及所述第一光束平移的距离或转动的角度确定所述待测线的长度。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：所述平移扫描包括：所述光收发单元沿着所述待测线的长度方向进行平移，在平移的过程中进行扫描；所述转动扫描包括：所述光收发单元以所述测量终端的第一底边为轴进行转动，在转动的过程中进行扫描。3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，当所述扫描是平移扫描时，所述方法还包括：建立第一平面，所述第一平面是第一光束所在的平面；在所述第一平面内以光收发单元的平移轨迹作为参考基准线，根据各个扫描点到所述光收发单元的距离生成与所述参考基准线对应的实际扫描轨迹；将生成的实际扫描轨迹作为所述待测线的曲线模型。4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述扫描是转动扫描时，所述方法还包括：建立第一平面和第二平面，所述第一平面是第一光束所在的平面，所述第二平面是包含所述测量终端第一底边的参考平面；在所述第一平面内建立参考扫描线，所述参考扫描线是光收发单元扫描第二平面生成的扫描轨迹，建立所述扫描轨迹上每一个参考扫描点的转动角与参考扫描点到光收发单元距离的对应关系；其中，所述参考扫描点的转动角是光收发单元扫描该参考扫描点时测量终端的底面与所述第二平面的夹角；从所述待测线的起点开始，对所述待测线上的第i个实际扫描点，根据该实际扫描点的转动角αi查询具有相同转动角的参考扫描线上的参考扫描点的距离yi，根据该实际扫描点的转动角αi、该实际扫描点到光收发单元的距离yi'以及参考扫描点到光收发单元的距离yi确定该实际扫描点到所述参考扫描点的偏移量Δdi；其中，所述实际扫描点的转动角是光收发单元扫描该实际扫描点时测量终端的底面与所述第二平面的夹角；Δdi＝(yi-yi')cosαi；其中，当Δdi为正数时，所述实际扫描点在所述参考扫描点的上方，当Δdi为负数时，所述实际扫描点在所述参考扫描点的下方；根据各个实际扫描点与参考扫描点的偏移量Δdi生成与所述参考扫描线对应的实际扫描轨迹；将生成的实际扫描轨迹作为所述待测线的曲线模型。5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：对所述待测物表面进行逐行扫描或逐列扫描，通过每一行扫描或每一列扫描后获得该行或该列待测线对应的曲线模型，将所有的行扫描或所有的列扫描后获得的曲线模型拼成一个曲面模型。6.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于：根据各...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾鑫，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44