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本文公开了一种测量方法、装置及终端。所述测量方法包括：通过光收发单元向待测物表面发射第一光束，利用所述第一光束对所述待测物表面的待测线进行平移扫描或转动扫描，通过所述光收发单元接收所述待测物表面反射的第二光束；根据所述第一光束和所述第二光束...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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